Il diffrattometro a raggi X monocristallino TD-5000 è uno strumento ad alte prestazioni sviluppato da Dandong Tongda Technology. Approvato nell'ambito del Progetto Nazionale Cinese per lo Sviluppo di Strumenti e Attrezzature Scientifiche Chiave, colma una lacuna critica in questo campo. La sua funzione principale è determinare la struttura spaziale tridimensionale e la distribuzione della densità elettronica di sostanze cristalline, inclusi composti inorganici, composti organici e complessi metallici, analizzando al contempo le strutture di materiali speciali come cristalli geminati, strutture a modulazione incommensurabile e quasicristalli. Misura con precisione l'accurata struttura spaziale 3D di nuovi composti cristallini (incluse lunghezze di legame, angoli di legame, configurazione, conformazione e densità elettronica di legame) e l'effettiva disposizione delle molecole all'interno del reticolo cristallino. Il sistema fornisce informazioni strutturali complete come parametri di cella unitaria, gruppo spaziale, struttura molecolare, legami a idrogeno intermolecolari e interazioni deboli, nonché configurazione/conformazione molecolare. È ampiamente utilizzato per la ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. Tecnologia di base: una doppia rivoluzione in precisione e intelligenza (1) L'"occhio meccanico" con posizionamento a livello atomico Diffrattometro concentrico a quattro cerchi: supera i tradizionali limiti dell'offset meccanico, mantenendo un centro di rotazione costante per garantire che gli errori delle coordinate del punto di diffrazione rimangano al di sotto del livello nanometrico. Rilevatore PILATUS: combina la tecnologia di conteggio dei singoli fotoni con pixel ultrafini da 172 μm. Raggiunge frame rate fino a 20 Hz, con una capacità di soppressione del rumore 3 volte superiore rispetto ai rilevatori CCD convenzionali. (2) Flusso di lavoro a ciclo chiuso completamente intelligente Controllo PLC One-Touch: automatizza l'intero processo, dal posizionamento del cristallo all'acquisizione dei dati, riducendo del 90% i tempi di intervento manuale. Sistema di potenziamento criogenico: offre un controllo della temperatura di precisione di ±0,3 K (100 K–300 K), aumentando l'intensità del segnale per cristalli debolmente diffrattivi del 50% con un consumo di azoto liquido di soli 1,1–2 L/h. (3) Doppia garanzia: sicurezza ed espandibilità Interblocco porta in piombo + protezione dalle perdite (≤0,12 µSv/h), superiore agli standard di sicurezza nazionali. Ottica di focalizzazione multistrato opzionale (Mo/Cu Dual Target), che consente analisi su larga scala, dai prodotti farmaceutici a piccole molecole ai minerali con celle unitarie di grandi dimensioni. L'avvento del diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 rappresenta più di una semplice svolta strumentale: segna l'era in cui le apparecchiature di ricerca scientifica di fascia alta cinesi raggiungono ufficialmente la definizione di precisione autonoma. Dal 2025, questo sistema è stato utilizzato da oltre 30 importanti istituzioni in settori quali chimica, scienza dei materiali e aerospaziale. Mentre i cristalli svelano i segreti della vita sotto lo sguardo penetrante di strumenti sviluppati internamente, l'"occhio scientifico cinese che discerne l'essenza della materia" ora risplende di una brillante chiarezza.

Il diffrattometro a raggi X ad alta potenza TDM-20 (XRD da banco) è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il principio della diffrazione dei raggi X può essere utilizzato per analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. È ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica.

Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che rende il diffrattometro a raggi X TD-3500 dotato delle caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione della serie TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione.

Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellati, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. È ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali.

Originariamente Battery Accessory è un dispositivo utilizzato per la ricerca di sistemi elettrochimici, appartenente agli accessori del diffrattometro a raggi X, che consente il monitoraggio e l'analisi in tempo reale e dinamici della batteria in condizioni specifiche. Ampiamente utilizzato nei sistemi elettrochimici contenenti carbonio, ossigeno, azoto, zolfo, complessi metallici incorporati, ecc.

Il monocromatore a cristallo curvo in grafite è installato di fronte al rilevatore di raggi X, che monocromatizza i raggi X che passano attraverso la fessura di ricezione e rileva solo gli accessori del diffrattometro a raggi X caratteristici K α dello spettro dei raggi X. Utilizzando questo dispositivo, i raggi X continui, i raggi X caratteristici K β e i raggi X fluorescenti possono essere completamente eliminati, consentendo un'analisi di diffrazione dei raggi X con un elevato rapporto segnale/rumore. Quando i tubi a raggi X con bersaglio in rame vengono utilizzati insieme ai corrispondenti monocromatori, i raggi X fluorescenti generati da campioni a base di Mn, Fe, Co, Ni possono essere eliminati, rendendoli adatti all'analisi di vari campioni.

L'accessorio di misurazione integrato multifunzionale è un accessorio per strumenti in grado di misurare più parametri. È un accessorio di misurazione per diffrattometro a raggi X, utilizzato principalmente per migliorare l'efficienza di misurazione, aumentare le funzioni di misurazione e migliorare la manutenzione dello strumento. Utilizzato per l'analisi e il collaudo di vari materiali in settori quali ingegneria chimica, macchinari, geologia, minerali, metallurgia, materiali da costruzione, ceramica, prodotti petrolchimici, prodotti farmaceutici, ecc. Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali svolgono un ruolo importante in vari settori, fornendo un forte supporto alla ricerca scientifica e alla produzione industriale.

Gli accessori del diffrattometro ad angolo piccolo sono accessori importanti utilizzati negli strumenti di diffrazione a raggi X, principalmente per misurare i parametri nanometrici dei materiali. Gli accessori corrispondenti possono essere configurati per la diffrazione ad angolo piccolo e l'intervallo di angoli da 0° a 5° può essere utilizzato per il test dello spessore di pellicole multistrato nanometriche. Misurando i parametri nanometrici dei materiali, sono stati forniti potenti strumenti per la ricerca in campi quali la scienza dei materiali, la biologia e la chimica.

Il diffrattometro a raggi X TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X può essere utilizzato per analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica. Benchtop XRD è un'apparecchiatura sperimentale utilizzata per analizzare la struttura cristallina dei materiali. Benchtop XRD determina la struttura cristallina, i parametri del reticolo e la composizione di fase del materiale emettendo raggi X e misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità dopo la loro interazione con il campione.

Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che conferisce al diffrattometro a raggi X TD-3500 le caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori! È un potente strumento analitico ampiamente utilizzato in campi come la scienza dei materiali, la chimica, la fisica e la geologia.

Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X su polvere TD-3700 supporta sia i metodi convenzionali di scansione dei dati a diffrazione sia quelli di scansione dei dati a trasmissione. Il diffrattometro a raggi X in polvere TD-3700, con tutti i vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500, è dotato di rilevatori ad alte prestazioni. Rispetto ai rilevatori a scintillazione o ai rilevatori proporzionali, l'intensità di calcolo della diffrazione può essere aumentata di diverse decine di volte e si possono ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e una maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve.