Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che conferisce al diffrattometro a raggi X TD-3500 le caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori! È un potente strumento analitico ampiamente utilizzato in campi come la scienza dei materiali, la chimica, la fisica e la geologia.

Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X su polvere TD-3700 supporta sia i metodi convenzionali di scansione dei dati a diffrazione sia quelli di scansione dei dati a trasmissione. Il diffrattometro a raggi X in polvere TD-3700, con tutti i vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500, è dotato di rilevatori ad alte prestazioni. Rispetto ai rilevatori a scintillazione o ai rilevatori proporzionali, l'intensità di calcolo della diffrazione può essere aumentata di diverse decine di volte e si possono ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e una maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve.

Il diffrattometro a raggi X a cristallo singolo viene utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli geminati, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa lunghezza di legame, angolo di legame, configurazione, conformazione e persino densità elettronica di legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a raggi X a cristallo singolo può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. La diffrattometria a raggi X a cristallo singolo è ampiamente utilizzata nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. La diffrazione di raggi X monocristallina ha un'elevata precisione: Precisione di ripetibilità dell'angolo 2θ: 0,0001°; Angolo minimo del passo: 0,0001°; Intervallo di controllo della temperatura: 100K-300K Precisione di controllo: ±0,3K Lo strumento di misurazione dell'angolo a cristallo singolo seleziona quattro cerchi di scansione concentrici. La diffrazione XRD monocristallina adotta una configurazione a bassa temperatura. Il personale tecnico dell'azienda ha completato l'installazione e il debug del diffrattometro a raggi X monocristallino straniero e i risultati dei test hanno ampiamente soddisfatto gli utenti stranieri. Allo stesso tempo, la funzionalità, la stabilità e il servizio post-vendita dello strumento hanno ricevuto elogi unanimi dagli utenti stranieri. Nel complesso, il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X svolge un ruolo insostituibile come importante strumento scientifico nella ricerca e nell'applicazione in molteplici discipline. Con il continuo progresso e l'innovazione della tecnologia, crediamo che in futuro, il diffrattometro a cristallo singolo XRD dimostrerà il suo valore e potenziale unici in più campi.

Il monocromatore a cristallo curvo in grafite è un importante accessorio per l'analisi della diffrazione dei raggi X, utilizzato principalmente per monocromatizzare i raggi X che passano attraverso la fessura ricevente, migliorando così l'accuratezza e il rapporto segnale/rumore dell'analisi. Questo monocromatore utilizza la struttura specifica dei cristalli di grafite per riflettere selettivamente i raggi X incidenti, consentendo solo ai raggi X di lunghezze d'onda specifiche (solitamente raggi X caratteristici Kα) di passare, filtrando al contempo altri componenti indesiderati dei raggi X come raggi X continui, raggi X caratteristici Kβ e raggi X fluorescenti. Questa riflessione selettiva si basa sulla legge di Bragg, che afferma che quando l'angolo tra la luce incidente e il piano del cristallo soddisfa determinate condizioni, si verifica una dispersione coerente, formando picchi di diffrazione. Quando si utilizza questo monocromatore, è necessario prestare attenzione alla preparazione e al posizionamento del campione per garantire l'accuratezza e la simmetria dei picchi di diffrazione. I monocromatori a cristallo curvo in grafite sono ampiamente utilizzati nei campi di ricerca sui materiali come chimica, ingegneria chimica, macchinari, geologia, minerali, metallurgia, materiali da costruzione, ceramiche, prodotti petrolchimici e farmaceutici. In questi campi, vengono utilizzati per l'analisi della diffrazione dei raggi X per studiare le proprietà fisiche dei materiali come struttura cristallina, transizione di fase, stato di stress, ecc. Gli accessori del diffrattometro a raggi X migliorano significativamente l'accuratezza e l'affidabilità dell'analisi aumentando il rapporto picco/fondo e riducendo il rumore di fondo.

Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono utilizzati per analizzare pellicole su schede, blocchi e substrati e possono eseguire test quali rilevamento di fase cristallina, orientamento, consistenza, stress e struttura in piano di pellicole sottili. Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono in genere progettati per migliorare la funzionalità del diffrattometro a raggi X, consentendo loro di adattarsi a esigenze di test più diversificate. Esiste una stretta relazione tra gli accessori di misurazione integrati multifunzionali e il diffrattometro a raggi X. Questi accessori non solo migliorano la funzionalità e le prestazioni del diffrattometro a raggi X, ma ne migliorano anche la facilità di utilizzo e la sicurezza. Nelle applicazioni pratiche, gli utenti possono scegliere accessori adatti in base alle loro esigenze specifiche per espandere gli scenari applicativi del diffrattometro a raggi X e migliorare l'efficienza della misurazione.

Originariamente accessorio per batteria, intervallo di prova: 0,5-160 gradi, resistenza alla temperatura: 400 ℃, dimensioni della finestra in berillio (pellicola di poliestere): diametro 15 mm (personalizzabile); Spessore 0,1 mm (personalizzabile). Sono ampiamente utilizzati come accessori per diffrattometri a raggi X in sistemi elettrochimici contenenti carbonio, ossigeno, azoto, zolfo, complessi metallici incorporati, ecc. Originariamente accessorio per batteria viene utilizzato per fissare l'intero stadio del campione Originariamente batteria sullo strumento di misurazione dell'angolo del diffrattometro a raggi X, fungendo da collegamento e supporto.

Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi speciali utilizzati negli esperimenti di diffrazione a raggi X (XRD), principalmente per misurare i picchi di diffrazione nell'intervallo di angoli bassi per studiare la microstruttura e le proprietà dei materiali. Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi specializzati per diffrattometri a raggi X che consentono misurazioni di diffrazione precise entro un intervallo di angoli inferiore a 2θ (tipicamente da 0° a 5° o inferiore). Questa tecnologia è di grande importanza per lo studio di nanostrutture, materiali mesoporosi, pellicole multistrato e altri materiali. Configurando i corrispondenti accessori per diffrattometri ad angolo piccolo, è possibile misurare con precisione lo spessore delle pellicole multistrato nano. Nel complesso, gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono un componente indispensabile e importante dei diffrattometri a raggi X, con ampie prospettive di applicazione nella scienza dei materiali, chimica, fisica e altri campi.

Il diffrattometro a raggi X monocristallini TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellari, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a raggi X monocristallini può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, sul gruppo spaziale, sulla struttura molecolare dei cristalli, sul legame idrogeno intermolecolare e sulle interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come la configurazione e la conformazione molecolare. La XRD monocristallina è ampiamente utilizzata nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. Il diffrattometro a cristallo singolo adotta la tecnica della concentricità a quattro cerchi per garantire che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente dalla rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e ottenere una maggiore integrità. La concentricità a quattro cerchi è una condizione necessaria per la scansione convenzionale a cristallo singolo. Il personale tecnico dell'azienda ha completato l'installazione e il debug del diffrattometro a raggi X monocristallino estero e i risultati dei test hanno ampiamente soddisfatto gli utenti stranieri. Allo stesso tempo, la funzionalità, la stabilità e il servizio post-vendita dello strumento hanno ricevuto elogi unanimi dagli utenti stranieri.

Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X da tavolo utilizza il principio del diffrattometro a raggi X per eseguire analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica. L'inserimento di un nuovo rivelatore array ad alte prestazioni ha portato a un miglioramento significativo delle prestazioni dell'XRD da banco. Le apparecchiature XRD da banco hanno un volume ridotto e un peso leggero; La potenza di lavoro dell'alimentatore ad alta tensione Benchtop XRD può raggiungere i 1600 watt; L'XRD da banco può calibrare e testare rapidamente i campioni; Il controllo del circuito XRD da banco è semplice e facile da installare e da eseguire il debug; La ripetibilità dell'angolo del Benchtop XRD può raggiungere 0,0001.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700, con tutti i vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500, è dotato di un rivelatore array ad alte prestazioni. Rispetto ai rivelatori a scintillazione o ai rivelatori proporzionali, l'intensità di calcolo della diffrazione può essere aumentata di diverse decine di volte e si possono ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e una maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta sia la scansione dei dati di diffrazione convenzionali che i metodi di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione.

Il diffrattometro della serie TD incarna l'essenza della ricerca e dello sviluppo condotti da Tongda Technology nel corso degli anni, evolvendosi di pari passo con le esigenze del momento. Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che rende il diffrattometro a raggi X TD-3500 dotato delle caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori! Strumento di misura dell'angolo con struttura ad albero cavo

Un diffrattometro a cristallo singolo a raggi X ad alta precisione progettato specificamente per la ricerca scientifica sui materiali, l'analisi della struttura cristallina e il controllo di qualità industriale. Utilizza l'effetto di diffrazione generato dall'interazione tra raggi X e cristalli singoli per fornire agli utenti informazioni dettagliate sulla struttura cristallina misurando accuratamente angoli e intensità di diffrazione, rivelando così la microstruttura e le proprietà dei materiali.