Il diffrattometro a raggi X TD-3500 è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della granulometria, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che conferisce al diffrattometro a raggi X TD-3500 le caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!   Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un generatore di raggi X (generatore a stato solido ad alta frequenza e alta tensione, generatore di frequenza di potenza opzionale), che ha un alto grado di automazione, un tasso di guasto estremamente basso, una forte capacità anti-interferenza, una buona stabilità del sistema e può estendere la durata di servizio dell'intera macchina. Il PLC e l'interfaccia del computer controllano automaticamente l'apertura e la chiusura del cancello luminoso, controllano automaticamente l'aumento e la diminuzione della pressione del tubo e del flusso del tubo e hanno la funzione di addestrare automaticamente i tubi a raggi X. Monitoraggio online in tempo reale tramite un touch screen per visualizzare lo stato dello strumento. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un'unità di controllo di registrazione avanzata, un circuito di controllo PLC, una tecnologia di controllo PLC avanzata e un touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer. L'hardware del sistema adotta un concetto di progettazione modulare, aumentando notevolmente la capacità anti-interferenza del sistema e rendendolo più stabile. Grazie all'uso di circuiti di controllo PLC Siemens importati con elevata precisione e automazione, il sistema può funzionare stabilmente per lungo tempo senza guasti. Il sistema di diffrattometro a raggi X TD-3500 presenta i seguenti vantaggi rispetto ai circuiti a microcontrollore utilizzati da altre aziende: Controllo del circuito semplice, facile da installare e da eseguire il debug; Grazie al suo design modulare, la manutenzione del sistema è molto semplice e gli utenti possono ripararlo e eseguirne il debug autonomamente, senza la necessità della presenza dei tecnici del produttore; Adottando un avanzato touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer, con funzioni di protezione complete e un funzionamento molto comodo, il design dell'animazione altamente tridimensionale è più umanizzato, intuitivo e comodo da usare per gli operatori e valutare le informazioni sui guasti, ecc.; Migliorando notevolmente la stabilità di conteggio del sistema, migliorando così la stabilità complessiva dell'intera macchina; Grazie alla forte capacità di espansione del PLC, può facilmente espandere vari accessori funzionali senza la necessità di aggiungere circuiti hardware aggiuntivi. Rilevatore del diffrattometro a raggi X TD-3500 Rivelatore proporzionale (PC) o rivelatore a scintillazione (SC). Strumento di misura angolare ad alta precisione per diffrattometro a raggi X TD-3500 Lo strumento di misurazione dell'angolo della serie TD adotta una trasmissione a cuscinetto ad alta precisione importata e il controllo del movimento è completato da un sistema servo di azionamento vettoriale ad anello completamente chiuso ad alta precisione. L'azionamento intelligente include un microprocessore RISC a 32 bit e un encoder magnetico ad alta risoluzione, che può correggere automaticamente errori di posizione del movimento estremamente piccoli, garantendo un'elevata precisione e accuratezza dei risultati di misurazione. La riproducibilità dell'angolo può raggiungere 0,0001 gradi e gli angoli di passo più piccoli possono raggiungere 0,0001 gradi. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X TD-3500: Scienza dei materiali: utilizzata per studiare informazioni chiave quali la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e la consistenza dei materiali. Analisi chimica: può essere utilizzata per l'analisi qualitativa o quantitativa di composti organici, inorganici, polimerici e altre sostanze. Geologia: aiuta a comprendere la formazione dei giacimenti minerali, l'evoluzione della Terra e molto altro. Prodotti biofarmaceutici: determinare la struttura cristallina dei farmaci, ottimizzare le formulazioni dei farmaci e migliorarne l'efficacia. Il diffrattometro a raggi X è un potente strumento analitico ampiamente utilizzato in molteplici campi. Misurando accuratamente l'angolo e l'intensità di diffrazione, può fornire informazioni dettagliate sulla struttura cristallina e sulla composizione dei materiali.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta non solo il metodo di scansione dei dati di diffrazione convenzionale, ma anche il metodo di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione. Il rivelatore array sfrutta completamente la tecnologia di conteggio dei fotoni misti, senza rumore, acquisizione dati veloce e velocità oltre dieci volte superiore a quella dei rivelatori a scintillazione. Ha un'eccellente risoluzione energetica e può rimuovere efficacemente gli effetti di fluorescenza. I rivelatori multicanale hanno tempi di lettura più rapidi e raggiungono migliori rapporti segnale/rumore. Un sistema di controllo del rivelatore con gating elettronico e trigger esterno completa efficacemente la sincronizzazione del sistema. Il principio di funzionamento del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Utilizzando la fluttuazione dei raggi X, quando vengono irradiati su un cristallo, gli atomi o gli ioni nel cristallo agiscono come centri di diffusione, diffondendo i raggi X in tutte le direzioni. A causa della regolarità della disposizione atomica nei cristalli, queste onde diffuse interferiscono tra loro e si rinforzano a vicenda in determinate direzioni, formando diffrazione. Misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità di diffrazione, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo. Le caratteristiche principali del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 sono: (1) Sistema di raccolta facile da usare, con un clic; (2) Design modulare, accessori per strumenti plug and play, nessuna necessità di calibrazione; (3) Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen per visualizzare lo stato dello strumento; (4) Dispositivo elettronico di interblocco della porta principale, doppia protezione, per garantire la sicurezza dell'utente; (5) Generatore di raggi X ad alta frequenza e ad alta tensione, con prestazioni stabili e affidabili; (6) Unità di controllo di registrazione avanzata con forte capacità anti-interferenza. L'elevata precisione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente un'analisi ad alta precisione della struttura cristallina dei materiali, come la determinazione precisa delle costanti reticolari, dei parametri cellulari, ecc. La precisione della misurazione dell'angolo può raggiungere ±0,0001°. L'elevata risoluzione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente di distinguere chiaramente i picchi di diffrazione adiacenti, analizzare accuratamente le informazioni di diffrazione di diversi piani cristallini per strutture cristalline complesse e rivelare le caratteristiche microstrutturali dei materiali. La natura non distruttiva del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: non danneggia il campione durante il processo di analisi e può essere mantenuto nello stato originale per più analisi, il che è particolarmente importante per campioni preziosi o difficili da reperire. Analisi rapida del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: i moderni diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione hanno capacità di rilevamento rapide e possono completare i test dei campioni in un breve lasso di tempo, migliorando l'efficienza del lavoro. 3. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Materiali semiconduttori: utilizzati per rilevare la qualità cristallina dei materiali monocristallini semiconduttori e dei film sottili epitassici, analizzare le discrepanze reticolari, i difetti e altre informazioni, che aiutano a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi semiconduttori. Materiali superconduttori: studiare la struttura cristallina e il processo di transizione di fase dei materiali superconduttori per fornire una base per l'ottimizzazione delle proprietà superconduttive. Nanomateriali: l'analisi della granulometria, della struttura cristallina, della deformazione microscopica, ecc. dei nanomateriali aiuta i ricercatori a comprenderne meglio le proprietà e le applicazioni. Altri campi: è anche ampiamente utilizzato nella ricerca e nel controllo qualità di materiali metallici, materiali ceramici, materiali polimerici, biomateriali e altri campi. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione è uno strumento analitico ad alta precisione, ad alta risoluzione, non distruttivo e veloce con un importante valore applicativo in molti campi.

1. Funzione del diffrattometro a cristallo singolo: Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli geminati, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa lunghezza del legame, angolo di legame, configurazione, conformazione e persino densità elettronica di legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è un prodotto ad alta tecnologia finanziato dal Ministero della Scienza e della Tecnologia della Cina nell'ambito del Progetto nazionale di sviluppo di grandi strumenti e attrezzature scientifiche, guidato da Dandong Tongda Technology Co., Ltd., che colma la lacuna nello sviluppo e nella produzione di diffrattometri a cristallo singolo in Cina. 2. Caratteristiche del diffrattometro a cristallo singolo: L'intera macchina adotta la tecnologia di controllo del controllore logico programmabile (PLC); facile da usare, sistema di raccolta con un clic; Design modulare, accessori plug and play, nessuna necessità di calibrazione; Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen, visualizzazione dello stato dello strumento; Generatore di raggi X ad alta potenza con prestazioni stabili e affidabili; dispositivo di interblocco elettronico della porta principale, doppia protezione. 3. Precisione del diffrattometro a cristallo singolo: Precisione di ripetibilità dell'angolo 2 θ: 0,0001 °; Angolo di passo minimo: 0,0001 ° Intervallo di controllo della temperatura: 100K-300K; Precisione di controllo: ± 0,3K 4. Strumento di misura dell'angolo utilizzato nel diffrattometro a cristallo singolo: L'uso della tecnica dei quattro cerchi concentrici assicura che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente da qualsiasi rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e ottenere una maggiore completezza. Quattro cerchi concentrici sono una condizione necessaria per la scansione del diffrattometro monocristallino convenzionale. 5. Rilevatore bidimensionale ad alta velocità utilizzato nel diffrattometro a cristallo singolo a raggi X: Il rilevatore combina le tecnologie chiave del conteggio di singoli fotoni e della tecnologia a pixel misti per ottenere la migliore qualità dei dati, garantendo al contempo un basso consumo energetico e un basso raffreddamento. Viene applicato in vari campi come la radiazione di sincrotrone e le sorgenti luminose convenzionali da laboratorio, eliminando efficacemente l'interferenza del rumore di lettura e della corrente oscura. La tecnologia a pixel misti può rilevare direttamente i raggi X, rendere il segnale più facile da distinguere e fornire in modo efficiente dati di alta qualità. 6. Attrezzatura a bassa temperatura utilizzata nel diffrattometro a cristallo singolo a raggi X: I dati raccolti tramite apparecchiature a bassa temperatura producono risultati più ideali. Con l'aiuto di apparecchiature a bassa temperatura, possono essere fornite condizioni più vantaggiose per consentire ai cristalli indesiderati di ottenere risultati ideali, così come ai cristalli ideali di ottenere risultati più ideali. Intervallo di controllo della temperatura: 100K~300K; Precisione di controllo: ± 0,3K; Consumo di azoto liquido: 1,1~2 litri/ora; 7. Accessorio opzionale, lente di messa a fuoco multistrato: Potenza del tubo a raggi X: 30 W o 50 W, ecc.; Divergenza: 0,5~1 mrad; Materiale bersaglio del tubo a raggi X: bersaglio Mo/Cu; macchia focale: 0,5~2 mm.

Il portacampione rotante in un diffrattometro a raggi X è un componente chiave utilizzato per la regolazione precisa e il fissaggio della posizione del campione, il campione può ruotare all'interno del proprio piano, il che è utile per gli errori causati da grani grossolani. Per campioni con texture e cristallografia, il portacampione rotante assicura una buona riproducibilità dell'intensità di diffrazione ed elimina l'orientamento preferito. Principio di funzionamento del portacampioni rotante: Quando il diffrattometro a raggi X è in funzione, i raggi X ad alta energia generati dalla sorgente di raggi X vengono irradiati sul campione fissato sul portacampione rotante. A causa della specifica struttura cristallina e dei parametri reticolari del campione, i raggi X subiranno fenomeni di diffusione, assorbimento e diffrazione quando interagiscono con il campione, dove i fenomeni di diffrazione si verificano secondo i requisiti dell'equazione di Bragg. Il portacampione rotante può ruotare ad angoli più piccoli in base all'impostazione, consentendo al campione di ricevere l'irradiazione di raggi X ad angoli diversi, ottenendo così modelli di diffrazione ad angoli diversi. In questo modo, il rilevatore può misurare l'intensità dei raggi X dopo la diffrazione del campione e convertirla in un segnale elettrico da trasmettere al computer per l'elaborazione dei dati. La funzione principale del portacampioni rotante è: Metodo di rotazione: asse β (piano campione) Velocità di rotazione: 1~60RPM Piccola larghezza del passo: 0,1 º Modalità di funzionamento: Rotazione a velocità costante per la scansione del campione (passo, continuo) Vantaggi del portacampioni rotante: Il portacampione rotante può migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione: per campioni con forme irregolari di polvere o particelle, la caratteristica dell'orientamento preferito è incline a verificarsi durante la preparazione convenzionale del campione di polvere, con conseguenti deviazioni nella distribuzione dell'intensità di diffrazione e influenzando l'accuratezza dell'analisi dei risultati di diffrazione. La rotazione del piano del campione può spostare il campione in una certa forma in uno spazio appropriato, eliminando in una certa misura l'influenza dell'orientamento preferito, migliorando così l'accuratezza dei dati di diffrazione. Il portacampioni rotante può adattarsi a varie esigenze di test: in grado di adattarsi a diversi tipi di strumenti di misurazione dell'angolo di diffrazione dei raggi X, come strumenti di misurazione dell'angolo verticale, apparecchiature di diffrazione di polvere compatte a bassa potenza, ecc., offrendo praticità per diverse esigenze di test. E il portacampioni rotante può soddisfare i requisiti di vari campioni e condizioni di test regolando parametri come velocità e sterzata. Il portacampioni rotante può ampliare le capacità analitiche dello strumento: vengono costantemente sviluppati e applicati nuovi tipi di portacampioni rotanti, come alcuni portacampioni per l'analisi elettrochimica in situ della diffrazione dei raggi X, che possono monitorare e analizzare in tempo reale i cambiamenti dei materiali in diversi ambienti o condizioni, ampliando le capacità di analisi delle apparecchiature di diffrazione dei raggi X. In sintesi, il portacampioni rotante nel diffrattometro a raggi X è fondamentale per ottenere informazioni accurate sulla struttura cristallina delle sostanze. Il portacampioni rotante può non solo migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione, ma anche adattarsi a diverse esigenze di test ed espandere le capacità analitiche dello strumento.

Nel diffrattometro a raggi X, gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono componenti cruciali che migliorano notevolmente la funzionalità e la flessibilità dello strumento. Utilizzati per l'analisi di pellicole su schede, blocchi e substrati, possono eseguire test quali rilevamento di fase cristallina, orientamento, consistenza, stress e struttura in piano di pellicole sottili. Panoramica di base degli accessori di misura integrati multifunzionali: Definizione: Termine generico per una serie di dispositivi o moduli aggiuntivi utilizzati nel diffrattometro a raggi X per ampliare le funzioni dello strumento e migliorare l'accuratezza e l'efficienza delle misurazioni. Scopo: Questi accessori mirano a consentire al diffrattometro a raggi X di soddisfare una gamma più ampia di esigenze sperimentali e di fornire informazioni più complete e accurate sulla struttura dei materiali. Le caratteristiche funzionali degli accessori di misura integrati multifunzionali: Eseguire test del diagramma polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione; Le prove di stress possono essere condotte utilizzando il metodo dell'inclinazione parallela o lo stesso metodo dell'inclinazione; Test su film sottile (rotazione nel piano del campione). Caratteristiche tecniche degli accessori di misura integrati multifunzionali: Elevata precisione: in genere utilizzano tecnologie di rilevamento e sistemi di controllo avanzati per garantire elevata precisione e ripetibilità delle misurazioni. Automazione: molti accessori supportano operazioni automatizzate e possono essere perfettamente integrati con l'host del diffrattometro a raggi X per ottenere misurazioni con un clic. Design modulare: consente agli utenti di selezionare e combinare facilmente diversi moduli accessori in base alle loro effettive esigenze. Campi di applicazione degli accessori di misura integrati multifunzionali: Ampiamente utilizzato in campi quali la scienza dei materiali, la fisica, la chimica, la biologia e la geologia; Valutazione di strutture di assemblaggio metalliche come piastre laminate; Valutazione dell'orientamento della ceramica; Valutazione dell'orientamento prioritario dei cristalli in campioni di film sottili; Prove di sollecitazione residua su vari materiali metallici e ceramici (valutazione della resistenza all'usura, resistenza al taglio, ecc.); Prove di stress residuo su film multistrato (valutazione dello scollamento del film, ecc.); Analisi dell'ossidazione superficiale e dei film di nitruro su materiali superconduttori ad alta temperatura come film sottili e piastre metalliche; Vetro Si、Analisi di film multistrato su substrati metallici (film sottili magnetici, film di indurimento superficiale dei metalli, ecc.); Analisi di materiali galvanici quali materiali macromolecolari, carta e lenti. Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali nel diffrattometro a raggi X sono la chiave per migliorare le prestazioni dello strumento. Non solo migliorano la funzionalità dello strumento, ma migliorano anche l'accuratezza e l'efficienza della misurazione, fornendo ai ricercatori metodi di analisi dei materiali più completi e approfonditi. Con il continuo progresso della tecnologia, questi accessori continueranno a svolgere un ruolo importante nel promuovere la ricerca scientifica in campi correlati per ottenere più scoperte.

Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono accessori importanti utilizzati nei diffrattometri a raggi X. Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo consentono di effettuare misurazioni di diffrazione a raggi X entro un intervallo di angoli molto piccolo, da 0° a 5°, per test di spessore di pellicole multistrato nano. Svolge un ruolo importante in campi quali scienza dei materiali, fisica, chimica e biologia. Tipi e caratteristiche comuni: Accessorio per film sottile a luce parallela: questo accessorio può generare fasci di raggi X paralleli ed è adatto per misurazioni di diffrazione a piccolo angolo di campioni di film sottile. Può migliorare l'accuratezza e la risoluzione delle misurazioni, ridurre gli errori di misurazione causati dalla divergenza del fascio e adattarsi meglio a campioni di film sottile di diversi spessori e proprietà. Stadio di campionamento multifunzionale: dotato di accessori di diffrazione a piccolo angolo, lo stadio di campionamento multifunzionale può fornire vari ambienti di prova per i campioni, come riscaldamento in situ, raffreddamento, stiramento, ecc. Ciò rende più conveniente studiare i cambiamenti strutturali dei materiali in diverse condizioni esterne e consente l'osservazione in tempo reale della risposta strutturale dei materiali durante la temperatura, lo stress e altri cambiamenti. Gli accessori del diffrattometro ad angolo piccolo svolgono un ruolo importante in molteplici campi, quali scienza dei materiali, fisica, chimica e biologia, consentendo di ottenere una diffrazione ad angolo piccolo e una misurazione precisa dello spessore di pellicole multistrato nanometriche, offrendo ai ricercatori un potente strumento per l'esplorazione approfondita delle microstrutture e delle proprietà dei materiali.

Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 utilizza un nuovo rilevatore array ad alte prestazioni e il caricamento di questo rilevatore ha notevolmente migliorato le prestazioni complessive della macchina. Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per eseguire analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X da banco è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori di array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 può aumentare l'intensità del calcolo della diffrazione di decine di volte o più, ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve e supportare anche la scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio.

Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellari, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. La diffrattometria a raggi X a cristallo singolo è un prodotto ad alta tecnologia nell'ambito del Progetto nazionale per lo sviluppo di importanti strumenti e attrezzature scientifiche del Ministero della scienza e della tecnologia, guidato da Dandong Tongda Technology Co., Ltd., che colma la lacuna nello sviluppo e nella produzione di diffrattometri a raggi X a cristallo singolo in Cina.

Il diffrattometro a raggi X in polvere è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che rende il diffrattometro a raggi X TD-3500 dotato delle caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!

Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è un diffrattometro a raggi X multifunzionale e ad alte prestazioni prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Le caratteristiche principali sono i rilevatori ad alte prestazioni, i diversi metodi di scansione, il funzionamento comodo e sicuro, le prestazioni stabili e affidabili. Per dettagli specifici, fare riferimento al sito Web di Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

Il cambiacampioni automatico adotta un motore passo-passo importato e un controllore logico programmabile (PLC) come sistema di controllo principale. La scelta di questi due componenti chiave garantisce in modo significativo la precisione, la stabilità e l'affidabilità a lungo termine del funzionamento dell'apparecchiatura. Il flusso di lavoro del cambiacampioni automatico è progettato per essere semplice ed efficiente: L'operatore precarica fino a sei campioni in sequenza nelle posizioni designate del cambiacampioni. Dopo aver impostato i parametri di misurazione tramite il sistema di controllo, il cambiacampioni inizia a funzionare. Seguendo le istruzioni del programma, ogni campione viene inviato automaticamente e con precisione in sequenza alla posizione di misurazione del diffrattometro a raggi X. Una volta completata la misurazione di un campione, il dispositivo lo rimuove automaticamente e invia rapidamente il campione successivo, fino a quando tutti i campioni non sono stati misurati. I dati di misurazione vengono salvati automaticamente, facilitando la successiva revisione e analisi e riducendo al contempo gli errori di registrazione che potrebbero derivare da operazioni manuali. L'intero processo non richiede alcun intervento manuale, consentendo all'operatore di liberare tempo per altre attività ed evitando potenziali errori legati all'affaticamento dovuto a un funzionamento prolungato. Oltre alla funzione di base di cambio automatico del campione, l'apparecchiatura vanta anche diverse caratteristiche degne di nota: Miglioramento dell'efficienza: consente la misurazione automatica continua e senza intervento dell'operatore, rendendolo particolarmente adatto per lo screening rapido di campioni in batch o per analisi sequenziali su lunghi periodi. Coerenza dei dati: il processo automatizzato riduce l'intervento umano, contribuendo a migliorare la ripetibilità e la comparabilità dei dati di misurazione. Facilità d'uso: il sistema di controllo basato su PLC è in genere stabile e intuitivo, riducendo la soglia operativa. Applicazione flessibile: utilizzato principalmente in settori quali la protezione ambientale, l'elettronica/le batterie e altri settori che richiedono tecnologie di analisi dei materiali. Questo cambiacampioni automatico è utilizzato principalmente nel campo applicativo dell'analisi di diffrazione dei raggi X (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ha maturato una consolidata esperienza nel campo degli strumenti analitici. La sua serie TD di strumenti analitici e apparecchiature per prove non distruttive è utilizzata in vari campi di ricerca sui materiali. Questo cambiacampioni automatico a 6 (o 12) posizioni riflette l'approccio dell'azienda volto a integrare la tecnologia di automazione nelle apparecchiature di prova tradizionali per migliorarne l'efficienza complessiva. Come accessorio funzionale, funziona in sinergia con i diffrattometri a raggi X, migliorando le capacità di automazione dello strumento host.