Il portacampione rotante in un diffrattometro a raggi X è un componente chiave utilizzato per la regolazione precisa e il fissaggio della posizione del campione, il campione può ruotare all'interno del proprio piano, il che è utile per gli errori causati da grani grossolani. Per campioni con texture e cristallografia, il portacampione rotante assicura una buona riproducibilità dell'intensità di diffrazione ed elimina l'orientamento preferito. Principio di funzionamento del portacampioni rotante: Quando il diffrattometro a raggi X è in funzione, i raggi X ad alta energia generati dalla sorgente di raggi X vengono irradiati sul campione fissato sul portacampione rotante. A causa della specifica struttura cristallina e dei parametri reticolari del campione, i raggi X subiranno fenomeni di diffusione, assorbimento e diffrazione quando interagiscono con il campione, dove i fenomeni di diffrazione si verificano secondo i requisiti dell'equazione di Bragg. Il portacampione rotante può ruotare ad angoli più piccoli in base all'impostazione, consentendo al campione di ricevere l'irradiazione di raggi X ad angoli diversi, ottenendo così modelli di diffrazione ad angoli diversi. In questo modo, il rilevatore può misurare l'intensità dei raggi X dopo la diffrazione del campione e convertirla in un segnale elettrico da trasmettere al computer per l'elaborazione dei dati. La funzione principale del portacampioni rotante è: Metodo di rotazione: asse β (piano campione) Velocità di rotazione: 1~60RPM Piccola larghezza del passo: 0,1 º Modalità di funzionamento: Rotazione a velocità costante per la scansione del campione (passo, continuo) Vantaggi del portacampioni rotante: Il portacampione rotante può migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione: per campioni con forme irregolari di polvere o particelle, la caratteristica dell'orientamento preferito è incline a verificarsi durante la preparazione convenzionale del campione di polvere, con conseguenti deviazioni nella distribuzione dell'intensità di diffrazione e influenzando l'accuratezza dell'analisi dei risultati di diffrazione. La rotazione del piano del campione può spostare il campione in una certa forma in uno spazio appropriato, eliminando in una certa misura l'influenza dell'orientamento preferito, migliorando così l'accuratezza dei dati di diffrazione. Il portacampioni rotante può adattarsi a varie esigenze di test: in grado di adattarsi a diversi tipi di strumenti di misurazione dell'angolo di diffrazione dei raggi X, come strumenti di misurazione dell'angolo verticale, apparecchiature di diffrazione di polvere compatte a bassa potenza, ecc., offrendo praticità per diverse esigenze di test. E il portacampioni rotante può soddisfare i requisiti di vari campioni e condizioni di test regolando parametri come velocità e sterzata. Il portacampioni rotante può ampliare le capacità analitiche dello strumento: vengono costantemente sviluppati e applicati nuovi tipi di portacampioni rotanti, come alcuni portacampioni per l'analisi elettrochimica in situ della diffrazione dei raggi X, che possono monitorare e analizzare in tempo reale i cambiamenti dei materiali in diversi ambienti o condizioni, ampliando le capacità di analisi delle apparecchiature di diffrazione dei raggi X. In sintesi, il portacampioni rotante nel diffrattometro a raggi X è fondamentale per ottenere informazioni accurate sulla struttura cristallina delle sostanze. Il portacampioni rotante può non solo migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione, ma anche adattarsi a diverse esigenze di test ed espandere le capacità analitiche dello strumento.

Nel diffrattometro a raggi X, gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono componenti cruciali che migliorano notevolmente la funzionalità e la flessibilità dello strumento. Utilizzati per l'analisi di pellicole su schede, blocchi e substrati, possono eseguire test quali rilevamento di fase cristallina, orientamento, consistenza, stress e struttura in piano di pellicole sottili. Panoramica di base degli accessori di misura integrati multifunzionali: Definizione: Termine generico per una serie di dispositivi o moduli aggiuntivi utilizzati nel diffrattometro a raggi X per ampliare le funzioni dello strumento e migliorare l'accuratezza e l'efficienza delle misurazioni. Scopo: Questi accessori mirano a consentire al diffrattometro a raggi X di soddisfare una gamma più ampia di esigenze sperimentali e di fornire informazioni più complete e accurate sulla struttura dei materiali. Le caratteristiche funzionali degli accessori di misura integrati multifunzionali: Eseguire test del diagramma polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione; Le prove di stress possono essere condotte utilizzando il metodo dell'inclinazione parallela o lo stesso metodo dell'inclinazione; Test su film sottile (rotazione nel piano del campione). Caratteristiche tecniche degli accessori di misura integrati multifunzionali: Elevata precisione: in genere utilizzano tecnologie di rilevamento e sistemi di controllo avanzati per garantire elevata precisione e ripetibilità delle misurazioni. Automazione: molti accessori supportano operazioni automatizzate e possono essere perfettamente integrati con l'host del diffrattometro a raggi X per ottenere misurazioni con un clic. Design modulare: consente agli utenti di selezionare e combinare facilmente diversi moduli accessori in base alle loro effettive esigenze. Campi di applicazione degli accessori di misura integrati multifunzionali: Ampiamente utilizzato in campi quali la scienza dei materiali, la fisica, la chimica, la biologia e la geologia; Valutazione di strutture di assemblaggio metalliche come piastre laminate; Valutazione dell'orientamento della ceramica; Valutazione dell'orientamento prioritario dei cristalli in campioni di film sottili; Prove di sollecitazione residua su vari materiali metallici e ceramici (valutazione della resistenza all'usura, resistenza al taglio, ecc.); Prove di stress residuo su film multistrato (valutazione dello scollamento del film, ecc.); Analisi dell'ossidazione superficiale e dei film di nitruro su materiali superconduttori ad alta temperatura come film sottili e piastre metalliche; Vetro Si、Analisi di film multistrato su substrati metallici (film sottili magnetici, film di indurimento superficiale dei metalli, ecc.); Analisi di materiali galvanici quali materiali macromolecolari, carta e lenti. Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali nel diffrattometro a raggi X sono la chiave per migliorare le prestazioni dello strumento. Non solo migliorano la funzionalità dello strumento, ma migliorano anche l'accuratezza e l'efficienza della misurazione, fornendo ai ricercatori metodi di analisi dei materiali più completi e approfonditi. Con il continuo progresso della tecnologia, questi accessori continueranno a svolgere un ruolo importante nel promuovere la ricerca scientifica in campi correlati per ottenere più scoperte.

Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono accessori importanti utilizzati nei diffrattometri a raggi X. Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo consentono di effettuare misurazioni di diffrazione a raggi X entro un intervallo di angoli molto piccolo, da 0° a 5°, per test di spessore di pellicole multistrato nano. Svolge un ruolo importante in campi quali scienza dei materiali, fisica, chimica e biologia. Tipi e caratteristiche comuni: Accessorio per film sottile a luce parallela: questo accessorio può generare fasci di raggi X paralleli ed è adatto per misurazioni di diffrazione a piccolo angolo di campioni di film sottile. Può migliorare l'accuratezza e la risoluzione delle misurazioni, ridurre gli errori di misurazione causati dalla divergenza del fascio e adattarsi meglio a campioni di film sottile di diversi spessori e proprietà. Stadio di campionamento multifunzionale: dotato di accessori di diffrazione a piccolo angolo, lo stadio di campionamento multifunzionale può fornire vari ambienti di prova per i campioni, come riscaldamento in situ, raffreddamento, stiramento, ecc. Ciò rende più conveniente studiare i cambiamenti strutturali dei materiali in diverse condizioni esterne e consente l'osservazione in tempo reale della risposta strutturale dei materiali durante la temperatura, lo stress e altri cambiamenti. Gli accessori del diffrattometro ad angolo piccolo svolgono un ruolo importante in molteplici campi, quali scienza dei materiali, fisica, chimica e biologia, consentendo di ottenere una diffrazione ad angolo piccolo e una misurazione precisa dello spessore di pellicole multistrato nanometriche, offrendo ai ricercatori un potente strumento per l'esplorazione approfondita delle microstrutture e delle proprietà dei materiali.

Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 utilizza un nuovo rilevatore array ad alte prestazioni e il caricamento di questo rilevatore ha notevolmente migliorato le prestazioni complessive della macchina. Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per eseguire analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X da banco è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori di array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 può aumentare l'intensità del calcolo della diffrazione di decine di volte o più, ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve e supportare anche la scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio.

Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellari, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. La diffrattometria a raggi X a cristallo singolo è un prodotto ad alta tecnologia nell'ambito del Progetto nazionale per lo sviluppo di importanti strumenti e attrezzature scientifiche del Ministero della scienza e della tecnologia, guidato da Dandong Tongda Technology Co., Ltd., che colma la lacuna nello sviluppo e nella produzione di diffrattometri a raggi X a cristallo singolo in Cina.

Il diffrattometro a raggi X in polvere è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che rende il diffrattometro a raggi X TD-3500 dotato delle caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!

Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è un diffrattometro a raggi X multifunzionale e ad alte prestazioni prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Le caratteristiche principali sono i rilevatori ad alte prestazioni, i diversi metodi di scansione, il funzionamento comodo e sicuro, le prestazioni stabili e affidabili. Per dettagli specifici, fare riferimento al sito Web di Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 eroga 1200 W di potenza in un design compatto, superando gli standard internazionali da 600 W. Con una linearità di ±0,01° e una ripetibilità di 0,0001°, consente un'analisi di fase precisa per la ricerca sui materiali e il controllo qualità industriale. Il suo sistema di raffreddamento integrato e la compatibilità con gli accessori globali lo rendono una soluzione ideale ed economica per i laboratori internazionali.

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. è un'azienda leader del settore, focalizzata su ricerca e sviluppo e innovazione in tecnologie chiave come l'analisi diffrattometrica. Attraverso collaborazioni accademiche, sviluppa prodotti ad alta efficienza con proprietà intellettuale indipendente, rompendo i monopoli internazionali. L'azienda fonda il proprio marchio su integrità e professionalità, aderendo al motto "L'eccellenza definisce lo standard, l'integrità costruisce il marchio" per migliorare la competitività e contribuire allo sviluppo dell'industria cinese degli strumenti scientifici.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 offre prestazioni analitiche eccezionali grazie all'innovativa tecnologia di rilevamento e alla doppia modalità di scansione. Grazie alla rapida acquisizione dei dati, alla semplicità d'uso e alla maggiore sicurezza, consente un'analisi precisa dei materiali in applicazioni di ricerca e industriali, stabilendo nuovi standard per gli strumenti scientifici cinesi.

Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 integra una generazione avanzata di raggi X, un'elevata precisione goniometrica e un rilevamento efficiente in un design compatto. Offre analisi di fase affidabili per la scienza dei materiali, il settore farmaceutico e il controllo qualità industriale, con supporto globale e certificazioni internazionali.