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Svolta nella tecnologia di base: l'unità di precisione e sicurezza

Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 di Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. offre precisione eccezionale (0,0001°), efficienza e sicurezza. Dotato di un goniometro kappa a quattro cerchi e di un rilevatore PILATUS, consente un'accurata analisi della struttura cristallina 3D per la scienza dei materiali, la farmaceutica e la geologia, dimostrando l'innovazione strumentale di fascia alta della Cina.

2025/11/25
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Nuova forza nella diffrazione dei raggi X

Il diffrattometro a raggi X TD-3500 offre una precisione eccezionale con ripetibilità di 0,0001° e controllo PLC avanzato. Questo strumento versatile esegue analisi complete dei materiali su polveri, film e campioni sfusi, garantendo al contempo la massima sicurezza grazie a doppi meccanismi di protezione. Adottato da laboratori internazionali, stabilisce nuovi standard in termini di prestazioni analitiche e affidabilità per applicazioni di ricerca globali.

2025/11/21
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Analizzatore di stress a raggi X portatile

Dandong Tongda lancia il TD-Mini, un analizzatore di stress a raggi X portatile. Integra una sorgente microfocale e un rilevatore di area per offrire una precisione di laboratorio per test in loco. Ideale per i settori manifatturiero industriale, aerospaziale ed energetico, fornisce misurazioni rapide e affidabili.

2025/12/08
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Debutta a livello mondiale l'analizzatore di stress residuo a raggi X di nuova generazione

Dandong Tongda lancia il suo nuovo analizzatore di stress residuo TD-RSD. Questo avanzato strumento a raggi X garantisce misurazioni ad alta precisione ed efficienza, oltre alla conformità globale per una maggiore sicurezza e qualità nei processi produttivi in ​​tutto il mondo.

2025/12/04
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Nuova svolta nella tecnologia cinese degli analizzatori di cristalli

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF di Dandong Tongda rappresenta la svolta cinese negli strumenti analitici di fascia alta sviluppati internamente. Offre analisi della struttura cristallina precise, sicure e affidabili per la scienza dei materiali e la ricerca e sviluppo farmaceutica a livello globale.

2025/12/02
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Un affidabile analizzatore di orientamento dei cristalli a raggi X

Gli orientatori per cristalli a raggi X di Dandong Tongda (precisione di ±30 secondi d'arco, capacità di carico di 30 kg) garantiscono un orientamento preciso per cristalli piezoelettrici, ottici, laser e semiconduttori. Grazie a modelli e portacampioni specializzati, questi sistemi supportano la ricerca e la produzione di cristalli a livello globale, guadagnandosi il riconoscimento internazionale per gli strumenti di precisione cinesi.

2025/12/01
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Un affidabile analizzatore di orientamento dei cristalli a raggi X

Gli orientatori per cristalli a raggi X di Dandong Tongda (precisione di ±30 secondi d'arco, capacità di carico di 30 kg) garantiscono un orientamento preciso per cristalli piezoelettrici, ottici, laser e semiconduttori. Grazie a modelli e portacampioni specializzati, questi sistemi supportano la ricerca e la produzione di cristalli a livello globale, guadagnandosi il riconoscimento internazionale per gli strumenti di precisione cinesi.

2025/12/01
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Un diffrattometro a raggi X essenziale per l'analisi dei materiali

Il diffrattometro a raggi X TD-3500 di Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. fornisce analisi precise dei materiali per diversi settori industriali. Il suo goniometro ad alta precisione e il controllo PLC brevettato garantiscono risultati affidabili e un funzionamento intuitivo, offrendo una soluzione versatile per clienti globali.

2025/11/28
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Efficienza e precisione: gli orientatori di cristalli a raggi X realizzati in Cina semplificano il taglio dei cristalli e la ricerca e sviluppo

Dandong Tongda, un'azienda cinese leader nel settore, produce orientatori avanzati per cristalli a raggi X. Utilizzando la diffrazione dei raggi X, questi strumenti consentono la misurazione precisa dell'angolo di taglio e il taglio direzionale di vari cristalli. Modelli chiave come TYX-200 e TYX-2H8 offrono elevata precisione (±30"), ampia capacità di campionamento, semplicità d'uso e rilevamento efficiente. Ampiamente utilizzati nei settori dei semiconduttori, dell'ottica e della ricerca, questi strumenti di livello mondiale sono certificati, brevettati ed esportati in tutto il mondo.

2025/11/12
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Attacco per pellicola sottile premium

Questo accessorio per film sottile per diffrattometri a raggi X consente l'analisi ad alta precisione di film su substrati. La sua ottica ottimizzata sopprime le interferenze del substrato, potenziando i segnali deboli del film per dati affidabili da nanometri a micrometri. Essenziale per la ricerca e sviluppo in elettronica, semiconduttori e nuove energie.

2025/12/10
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