InDiffrattometro a raggi X, ILmisuratore integrato multifunzionaleA accessorioio Sono componente cruciale che migliora notevolmente la funzionalità e la flessibilità dello strumento. Utilizzato per l'analisi di film su schede, blocchi e substrati, e può eseguire test quali rilevamento di fase cristallina, orientamento, consistenza, stress e struttura in piano di film sottili.

Panoramica di base dimisuratore integrato multifunzionaleA accessorioio:

Definizione: loro Sono termine generale per una serie di dispositivi o moduli aggiuntivi utilizzati inDiffrattometro a raggi Xper ampliare le funzioni dello strumento e migliorare la precisione e l'efficienza delle misurazioni.

Scopo: Questi allegati mirano a consentireDiffrattometro a raggi Xper soddisfare una gamma più ampia di esigenze sperimentali e fornire informazioni più complete e accurate sulla struttura dei materiali.

Le caratteristiche funzionali dimisuratore integrato multifunzionaleA accessorioio:

Eseguire test del diagramma polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione;

Le prove di stress possono essere condotte utilizzando il metodo dell'inclinazione parallela o lo stesso metodo dell'inclinazione;

Test su film sottile (rotazione nel piano del campione).

Caratteristiche tecniche dimisuratore integrato multifunzionaleA accessorioio:

Alta precisione: in genere utilizzano tecnologie di rilevamento e sistemi di controllo avanzati per garantire elevata precisione e ripetibilità delle misurazioni.

Automazione: molti allegati supportano operazioni automatizzate e possono essere integrati senza problemi conDiffrattometro a raggi Xhost per ottenere la misurazione con un clic.

Design modulare: consente agli utenti di selezionare e combinare facilmente diversi moduli accessori in base alle loro effettive esigenze.

Campi di applicazione dimisuratore integrato multifunzionaleA accessorioio:

Ampiamente utilizzato in campi quali la scienza dei materiali, la fisica, la chimica, la biologia e la geologia;

Valutazione di strutture di assemblaggio metalliche come piastre laminate;

Valutazione dell'orientamento della ceramica;

Valutazione dell'orientamento prioritario dei cristalli in campioni di film sottili;

Prove di sollecitazione residua su vari materiali metallici e ceramici (valutazione della resistenza all'usura, resistenza al taglio, ecc.);

Prove di stress residuo su film multistrato (valutazione dello scollamento del film, ecc.);

Analisi dell'ossidazione superficiale e dei film di nitruro su materiali superconduttori ad alta temperatura come film sottili e piastre metalliche;

Vetro Si、Analisi di film multistrato su substrati metallici (film sottili magnetici, film di indurimento superficiale dei metalli, ecc.);

Analisi di materiali galvanici quali materiali macromolecolari, carta e lenti.

ILmisuratore integrato multifunzionaleA accessorioio  InDiffrattometro a raggi X Sono la chiave per migliorare le prestazioni dello strumento. Non solo migliorano la funzionalità dello strumento, ma migliorano anche l'accuratezza e l'efficienza della misurazione, fornendo ai ricercatori metodi di analisi dei materiali più completi e approfonditi. Con il continuo progresso della tecnologia, questi accessori continueranno a svolgere un ruolo importante nel promuovere la ricerca scientifica in campi correlati per ottenere più scoperte.