L'accessorio di misurazione ottica parallela della pellicola aumenta la lunghezza della piastra reticolare per filtrare più linee sparse, il che è utile per ridurre l'influenza del segnale del substrato sui risultati e migliorare l'intensità del segnale della pellicola.

L'irradiatore a raggi X può generare raggi X ad alta energia per irradiare cellule o piccoli animali. Utilizzato per varie ricerche di base e applicate. Nel corso della storia, sono stati utilizzati irradiatori di isotopi radioattivi, che richiedono il trasporto di campioni a una struttura di irradiazione del nucleo. Oggi, apparecchiature di irradiazione a raggi X più piccole, più sicure, più semplici e meno costose possono essere installate nei laboratori per un'irradiazione comoda e rapida delle cellule.

Gli accessori ad alta temperatura sono progettati per comprendere i cambiamenti nella struttura cristallina dei campioni durante il riscaldamento ad alta temperatura, nonché i cambiamenti nella dissoluzione reciproca di varie sostanze durante il riscaldamento ad alta temperatura.

Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 offre prestazioni analitiche eccezionali grazie all'innovativa tecnologia di rilevamento e alla doppia modalità di scansione. Grazie alla rapida acquisizione dei dati, alla semplicità d'uso e alla maggiore sicurezza, consente un'analisi precisa dei materiali in applicazioni di ricerca e industriali, stabilendo nuovi standard per gli strumenti scientifici cinesi.

Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 integra una generazione avanzata di raggi X, un'elevata precisione goniometrica e un rilevamento efficiente in un design compatto. Offre analisi di fase affidabili per la scienza dei materiali, il settore farmaceutico e il controllo qualità industriale, con supporto globale e certificazioni internazionali.

Il diffrattometro a raggi X TD-5000 rompe il monopolio internazionale negli strumenti scientifici di fascia alta. Questa innovazione cinese offre una precisione eccezionale (accuratezza di 0,0001°) e capacità di rilevamento avanzate, al servizio dei ricercatori nei settori farmaceutico, della scienza dei materiali e della chimica attraverso analisi strutturali complete.

L'accessorio ad alta temperatura in situ di Dandong Tongda consente l'analisi in tempo reale delle variazioni strutturali dei materiali fino a 1600 °C con una precisione di ±1 °C. Ideale per la ricerca su superconduttori, ceramiche e film sottili, è esportato in tutto il mondo.

Affidabile in tutto il mondo: l'analizzatore di orientamento a raggi X di Dandong Tongda riceve certificazioni multinazionali Nell'attuale panorama globale in rapida evoluzione dei semiconduttori, dei dispositivi ottici e della scienza dei materiali, la misurazione precisa dell'orientamento dei cristalli è diventata fondamentale per migliorare la qualità dei prodotti e l'efficienza produttiva. In qualità di sviluppatore e produttore specializzato nel campo degli strumenti di analisi a raggi X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. annuncia il lancio del suo analizzatore di orientamento a raggi X ad alte prestazioni. Questo strumento integra un'avanzata tecnologia di diffrazione a raggi X con algoritmi intelligenti, offrendo soluzioni di misurazione dell'orientamento rapide e accurate per i settori legati alla cristallizzazione in tutto il mondo. Principio tecnico: la perfetta integrazione della diffrazione dei raggi X e della misurazione di precisione L'analizzatore di orientamento a raggi X funziona in base alla legge di diffrazione di Bragg. Quando i raggi X colpiscono la superficie del cristallo, i piani atomici disposti regolarmente al suo interno generano fenomeni di diffrazione ad angoli specifici. Catturando questi segnali di diffrazione con rilevatori di precisione e calcolando gli angoli di diffrazione, lo strumento è in grado di determinare con precisione l'orientamento del cristallo, fornendo dati affidabili per il successivo taglio e la successiva lavorazione. Rispetto ai metodi di orientamento tradizionali, la tecnologia di orientamento dei cristalli a raggi X offre significativi vantaggi in termini di non-distruttività, elevata precisione ed efficienza, garantendo risultati di misurazione affidabili senza danneggiare il campione. Lo strumento raggiunge una precisione di misura di ±30 secondi d'arco (±30"), con una lettura minima di 10 secondi d'arco, soddisfacendo i requisiti di orientamento della stragrande maggioranza dei materiali cristallini. Serie di prodotti: soluzioni complete per diverse esigenze applicative Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda Technology includono principalmente due modelli fondamentali: il TYX-200 e il TYX-2H8. Il modello TYX-200, come versione base, è dotato di un display digitale con una lettura minima di 10" e una precisione di misura di ±30", che lo rende adatto alle esigenze di orientamento di routine dei materiali cristallini. Il modello TYX-2H8 è un aggiornamento completo del TYX-200, con una struttura goniometrica migliorata, binari portanti potenziati e un piano portacampioni rialzato. Il TYX-2H8 può misurare campioni di peso compreso tra 1 e 30 kg con diametri compresi tra 2 e 8 pollici. Alcune configurazioni possono anche essere estese per gestire campioni di peso compreso tra 30 e 180 kg, con diametri fino a 350 mm e lunghezze fino a 480 mm. Per requisiti di ricerca più complessi, l'azienda offre anche gli analizzatori di orientamento a raggi X della serie TDF, che utilizzano la tecnologia di controllo PLC importata, offrono un intervallo di tensione del tubo di 10-60 kV e consentono funzionalità più ampie, tra cui l'orientamento di monocristalli, il rilevamento di difetti e la determinazione dei parametri reticolari. Applicazioni funzionali: uno strumento chiave per la lavorazione dei cristalli in diversi settori L'analizzatore di orientamento a raggi X è in grado di determinare con precisione e rapidità gli angoli di taglio di monocristalli naturali e sintetici e, in coordinamento con le macchine da taglio, di eseguire tagli orientati. È uno strumento indispensabile per la lavorazione di precisione e la produzione di dispositivi cristallini. Nell'industria dei semiconduttori, lo strumento è ampiamente utilizzato per l'ispezione di lingotti, wafer e chip, controllando processi come taglio, rettifica e lucidatura per garantire prestazioni costanti dei dispositivi a semiconduttore. Per la lavorazione di cristalli ottici e laser, lo strumento è in grado di determinare con precisione l'orientamento dei cristalli, garantendo che le prestazioni ottiche dei dispositivi ottici soddisfino i requisiti di progettazione e migliorando la resa del prodotto. In particolare, nel campo della lavorazione del cristallo di zaffiro, lo strumento è in grado di soddisfare simultaneamente i requisiti di misurazione per gli orientamenti dei cristalli di zaffiro A, C, M e R, con un intervallo di misura regolabile elettricamente da 0 a 45°, adattandosi alle complesse esigenze di lavorazione. Nel settore della gioielleria e delle pietre preziose, lo strumento supporta l'orientamento preciso delle pietre preziose, migliorando la precisione di taglio e il valore dei prodotti finiti, aiutando i produttori a massimizzare gli effetti ottici e il valore commerciale delle pietre preziose. Caratteristiche del prodotto: il design innovativo migliora l'esperienza dell'utente Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda Technology incorporano numerose caratteristiche innovative che migliorano significativamente la praticità e l'affidabilità dello strumento. Facilità d'uso: lo strumento può essere utilizzato senza particolari conoscenze o competenze specifiche, riducendo così le difficoltà d'uso e i tempi di formazione del personale. Display digitale: il display digitale dell'angolo consente un'osservazione intuitiva, riduce gli errori di lettura e può essere azzerato in qualsiasi posizione, facilitando la visualizzazione diretta della deviazione dell'angolo del wafer. Design efficiente: alcuni modelli sono dotati di doppi goniometri che possono funzionare simultaneamente, migliorando notevolmente l'efficienza dell'ispezione. Precisione migliorata: uno speciale integratore con amplificazione del picco migliora la precisione di rilevamento, mentre una piastra di aspirazione del campione garantisce un posizionamento stabile del campione. Affidabilità e durata: il design integrato del tubo radiogeno e del cavo ad alta tensione migliora l'affidabilità dell'alta tensione. L'alta tensione del rilevatore utilizza un modulo ad alta tensione CC, garantendo un funzionamento stabile a lungo termine. Protezione di sicurezza: lo strumento utilizza vetro al piombo ad alta densità e alta trasmittanza come schermo protettivo dai raggi X. La dose di radiazioni esterne non supera 0,1 µSv/h, in conformità con gli standard di sicurezza internazionali. Configurazione della fase di campionamento: adattamento flessibile alle diverse esigenze di misurazione Per soddisfare i requisiti di misurazione di campioni di diverse forme e dimensioni, Dandong Tongda Technology offre varie configurazioni di stadi di campionamento: Tavolino portacampioni di tipo TA: progettato specificamente per barre di cristallo cilindriche, dotato di binari portanti. Può misurare barre di cristallo di peso compreso tra 1 e 30 kg con diametri da 2 a 6 pollici (espandibili a 8 pollici) e può misurare la superficie di riferimento di cristalli a forma di bastoncino o la superficie di wafer di cristallo a forma di foglio. Tavolino portacampioni tipo TB: progettato anch'esso per barre di cristallo cilindriche, incorpora guide di supporto a V e può misurare barre di cristallo lunghe fino a 500 mm, il che lo rende particolarmente adatto alla misurazione delle superfici terminali dei cristalli a forma di barra. Stadio di campionamento tipo TC: utilizzato principalmente per rilevare la superficie di riferimento della circonferenza esterna di wafer monocristallini come silicio e zaffiro. Il suo design aperto supera i problemi di ostruzione dei raggi X e le imprecisioni di posizionamento causate dalle piastre di aspirazione. Tavolino portacampioni tipo TD: progettato specificamente per la misurazione multi-punto di wafer come silicio e zaffiro. Il wafer può essere ruotato manualmente sul tavolino (ad esempio, 0°, 90°, 180°, 270°) per soddisfare le specifiche esigenze di misurazione del cliente. Mercato globale: consentire ai clienti internazionali di raggiungere innovazioni tecnologiche I prodotti di Dandong Tongda Technology Co., Ltd. sono entrati con successo nel mercato internazionale, esportando in diversi paesi e regioni, tra cui Stati Uniti, Corea del Sud, Iran, Azerbaigian, Iraq e Giordania. Aderendo ai principi "Prima il cliente, prima il prodotto, prima il servizio", l'azienda fornisce agli utenti globali prodotti high-tech di alta qualità e un supporto tecnico completo. Per i clienti esteri, l'azienda offre consulenza tecnica completa e un servizio post-vendita, inclusi formazione operativa, supporto per la manutenzione e fornitura di ricambi, garantendo la massima tranquillità agli utenti. Rispondendo alle esigenze dei clienti in diverse regioni, l'azienda può anche fornire soluzioni personalizzate, tra cui la progettazione di speciali piattaforme di campionamento e la regolazione del software di misura, garantendo la perfetta adattabilità dello strumento a specifici scenari applicativi. Le interfacce operative multilingue e la documentazione tecnica dettagliata in inglese riducono ulteriormente le barriere di utilizzo per i clienti esteri e migliorano l'esperienza utente internazionale. L'analizzatore di orientamento a raggi X di Dandong Tongda Technology non è un semplice strumento di misura, ma un partner strategico per migliorare la competitività aziendale. Può ridurre significativamente il ciclo di ricerca e sviluppo per i materiali cristallini, ottimizzare i processi di produzione, garantire la qualità del prodotto e creare valore tangibile per l'industria manifatturiera globale dei cristalli. Che si tratti di produzione di chip semiconduttori, lavorazione di componenti ottici o ricerca di nuovi materiali, scegliere Dandong Tongda Technology significa optare per una soluzione di orientamento dei cristalli affidabile, efficiente e precisa.

Innovazione negli strumenti scientifici: il diffrattometro a raggi X TD-3700 di Dandong Tongda potenzia l'innovazione nella ricerca Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. è un'azienda high-tech specializzata nella ricerca, sviluppo e produzione di strumenti per l'analisi a raggi X. Il suo prodotto di punta, il diffrattometro a raggi X TD-3700, integra analisi rapide, funzionamento intuitivo e robuste funzionalità di sicurezza. La perfetta sinergia tra l'hardware modulare e i sistemi software personalizzati lo rende uno strumento potente per campi di ricerca come la scienza dei materiali, la chimica e la mineralogia. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 dimostra vantaggi significativi sia nella tecnologia di rilevamento che nelle modalità di misurazione, consentendogli di soddisfare un'ampia gamma di esigenze analitiche. Tecnologia e prestazioni di base Rivelatori ad alte prestazioni: lo strumento può essere equipaggiato con rivelatori array 1D ad alta velocità opzionali (ad esempio, MYTHEN2R), rivelatori SDD o rivelatori 2D. Utilizzando la tecnologia di conteggio ibrido dei fotoni, funziona senza rumore di lettura, raggiunge velocità di acquisizione dati da decine a centinaia di volte superiori rispetto ai tradizionali rivelatori a scintillazione ed elimina efficacemente gli effetti di fluorescenza per un'eccellente risoluzione energetica. Ad esempio, il rivelatore array 1D è dotato di 640 canali con un tempo di lettura straordinariamente breve di soli 89 microsecondi, contribuendo a un eccezionale rapporto segnale/rumore. Modalità di scansione flessibili: il diffrattometro a raggi X TD-3700 supporta due metodi principali di scansione dei dati: la modalità di riflessione (diffrazione) convenzionale e la modalità di trasmissione. La modalità di trasmissione offre una risoluzione più elevata, rendendola adatta all'analisi di campioni limitati o all'esecuzione di analisi strutturali. La modalità di riflessione offre un segnale più forte, più appropriato per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Questa flessibilità consente allo strumento di gestire un'ampia varietà di tipi di campioni, da tracce di polvere e solidi sfusi fino a liquidi e campioni viscosi. Sistema goniometrico di precisione: utilizza un goniometro verticale θS-θd in cui il campione rimane orizzontale e fermo durante la misurazione. Questo design non solo facilita la preparazione del campione, ma aiuta anche a prevenire la potenziale corrosione del sistema di assi del goniometro da parte dei campioni, prolungandone così la durata operativa. Con un ampio intervallo di scansione 2θ (da -110° a 161°) e un'eccezionale precisione ripetitiva di 0,0001°, garantisce misurazioni altamente precise e ripetibili. Caratteristiche dello strumento e garanzia di sicurezza Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è progettato con una forte attenzione all'esperienza dell'utente e alla sicurezza operativa. Design intuitivo: Funzionamento senza sforzo: è dotato di un sistema di acquisizione con un clic e incorpora un'interfaccia touchscreen per il monitoraggio in tempo reale dello stato dello strumento. Design modulare: i componenti sono progettati per la funzionalità plug-and-play, non richiedono calibrazione e garantiscono una manutenzione semplice. Protezione di sicurezza completa: Incorpora un sistema di interblocco elettronico della porta per una protezione a doppio strato, garantendo la sicurezza dell'utente. La perdita di radiazioni esterne dal sistema di protezione è ≤ 0,1μSv/h, in conformità con i rigorosi standard di sicurezza internazionali. Include molteplici funzioni di protezione contro valori kV eccessivamente alti/bassi, valori mA eccessivamente alti/bassi, guasti al flusso d'acqua e surriscaldamento del tubo a raggi X. Sistema stabile e affidabile: utilizza un generatore di raggi X ad alta frequenza e alta tensione noto per le sue prestazioni stabili e affidabili, con stabilità del sistema ≤ 0,005%. Il refrigeratore a ricircolo integrato ha una funzione di raffreddamento incorporata, eliminando la necessità di un'unità di circolazione dell'acqua esterna. Applicazioni e riconoscimento globale Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è ampiamente utilizzato per l'analisi qualitativa/quantitativa della fase, l'analisi della struttura cristallina, la ricerca sulla struttura dei materiali, la determinazione delle dimensioni dei grani e la misurazione della cristallinità. Riconosciuti per la loro qualità affidabile, i prodotti Dandong Tongda sono stati esportati in numerosi paesi e regioni, tra cui Stati Uniti, Corea del Sud, Iran, Azerbaigian, Iraq e Giordania, ottenendo la convalida sul mercato internazionale. L'azienda ha inoltre ottenuto la certificazione ISO9001 e altre certificazioni internazionali per i sistemi di gestione della qualità. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. offre ai clienti un servizio e un supporto completi, inclusi assistenza post-vendita, formazione professionale e supporto commerciale internazionale. Accogliamo con favore le vostre richieste e non vediamo l'ora di ricevere i vostri acquisti!