Il diffrattometro a raggi X TD-3500 è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della granulometria, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che conferisce al diffrattometro a raggi X TD-3500 le caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!   Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un generatore di raggi X (generatore a stato solido ad alta frequenza e alta tensione, generatore di frequenza di potenza opzionale), che ha un alto grado di automazione, un tasso di guasto estremamente basso, una forte capacità anti-interferenza, una buona stabilità del sistema e può estendere la durata di servizio dell'intera macchina. Il PLC e l'interfaccia del computer controllano automaticamente l'apertura e la chiusura del cancello luminoso, controllano automaticamente l'aumento e la diminuzione della pressione del tubo e del flusso del tubo e hanno la funzione di addestrare automaticamente i tubi a raggi X. Monitoraggio online in tempo reale tramite un touch screen per visualizzare lo stato dello strumento. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un'unità di controllo di registrazione avanzata, un circuito di controllo PLC, una tecnologia di controllo PLC avanzata e un touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer. L'hardware del sistema adotta un concetto di progettazione modulare, aumentando notevolmente la capacità anti-interferenza del sistema e rendendolo più stabile. Grazie all'uso di circuiti di controllo PLC Siemens importati con elevata precisione e automazione, il sistema può funzionare stabilmente per lungo tempo senza guasti. Il sistema di diffrattometro a raggi X TD-3500 presenta i seguenti vantaggi rispetto ai circuiti a microcontrollore utilizzati da altre aziende: Controllo del circuito semplice, facile da installare e da eseguire il debug; Grazie al suo design modulare, la manutenzione del sistema è molto semplice e gli utenti possono ripararlo e eseguirne il debug autonomamente, senza la necessità della presenza dei tecnici del produttore; Adottando un avanzato touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer, con funzioni di protezione complete e un funzionamento molto comodo, il design dell'animazione altamente tridimensionale è più umanizzato, intuitivo e comodo da usare per gli operatori e valutare le informazioni sui guasti, ecc.; Migliorando notevolmente la stabilità di conteggio del sistema, migliorando così la stabilità complessiva dell'intera macchina; Grazie alla forte capacità di espansione del PLC, può facilmente espandere vari accessori funzionali senza la necessità di aggiungere circuiti hardware aggiuntivi. Rilevatore del diffrattometro a raggi X TD-3500 Rivelatore proporzionale (PC) o rivelatore a scintillazione (SC). Strumento di misura angolare ad alta precisione per diffrattometro a raggi X TD-3500 Lo strumento di misurazione dell'angolo della serie TD adotta una trasmissione a cuscinetto ad alta precisione importata e il controllo del movimento è completato da un sistema servo di azionamento vettoriale ad anello completamente chiuso ad alta precisione. L'azionamento intelligente include un microprocessore RISC a 32 bit e un encoder magnetico ad alta risoluzione, che può correggere automaticamente errori di posizione del movimento estremamente piccoli, garantendo un'elevata precisione e accuratezza dei risultati di misurazione. La riproducibilità dell'angolo può raggiungere 0,0001 gradi e gli angoli di passo più piccoli possono raggiungere 0,0001 gradi. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X TD-3500: Scienza dei materiali: utilizzata per studiare informazioni chiave quali la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e la consistenza dei materiali. Analisi chimica: può essere utilizzata per l'analisi qualitativa o quantitativa di composti organici, inorganici, polimerici e altre sostanze. Geologia: aiuta a comprendere la formazione dei giacimenti minerali, l'evoluzione della Terra e molto altro. Prodotti biofarmaceutici: determinare la struttura cristallina dei farmaci, ottimizzare le formulazioni dei farmaci e migliorarne l'efficacia. Il diffrattometro a raggi X è un potente strumento analitico ampiamente utilizzato in molteplici campi. Misurando accuratamente l'angolo e l'intensità di diffrazione, può fornire informazioni dettagliate sulla struttura cristallina e sulla composizione dei materiali.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta non solo il metodo di scansione dei dati di diffrazione convenzionale, ma anche il metodo di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione. Il rivelatore array sfrutta completamente la tecnologia di conteggio dei fotoni misti, senza rumore, acquisizione dati veloce e velocità oltre dieci volte superiore a quella dei rivelatori a scintillazione. Ha un'eccellente risoluzione energetica e può rimuovere efficacemente gli effetti di fluorescenza. I rivelatori multicanale hanno tempi di lettura più rapidi e raggiungono migliori rapporti segnale/rumore. Un sistema di controllo del rivelatore con gating elettronico e trigger esterno completa efficacemente la sincronizzazione del sistema. Il principio di funzionamento del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Utilizzando la fluttuazione dei raggi X, quando vengono irradiati su un cristallo, gli atomi o gli ioni nel cristallo agiscono come centri di diffusione, diffondendo i raggi X in tutte le direzioni. A causa della regolarità della disposizione atomica nei cristalli, queste onde diffuse interferiscono tra loro e si rinforzano a vicenda in determinate direzioni, formando diffrazione. Misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità di diffrazione, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo. Le caratteristiche principali del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 sono: (1) Sistema di raccolta facile da usare, con un clic; (2) Design modulare, accessori per strumenti plug and play, nessuna necessità di calibrazione; (3) Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen per visualizzare lo stato dello strumento; (4) Dispositivo elettronico di interblocco della porta principale, doppia protezione, per garantire la sicurezza dell'utente; (5) Generatore di raggi X ad alta frequenza e ad alta tensione, con prestazioni stabili e affidabili; (6) Unità di controllo di registrazione avanzata con forte capacità anti-interferenza. L'elevata precisione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente un'analisi ad alta precisione della struttura cristallina dei materiali, come la determinazione precisa delle costanti reticolari, dei parametri cellulari, ecc. La precisione della misurazione dell'angolo può raggiungere ±0,0001°. L'elevata risoluzione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente di distinguere chiaramente i picchi di diffrazione adiacenti, analizzare accuratamente le informazioni di diffrazione di diversi piani cristallini per strutture cristalline complesse e rivelare le caratteristiche microstrutturali dei materiali. La natura non distruttiva del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: non danneggia il campione durante il processo di analisi e può essere mantenuto nello stato originale per più analisi, il che è particolarmente importante per campioni preziosi o difficili da reperire. Analisi rapida del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: i moderni diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione hanno capacità di rilevamento rapide e possono completare i test dei campioni in un breve lasso di tempo, migliorando l'efficienza del lavoro. 3. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Materiali semiconduttori: utilizzati per rilevare la qualità cristallina dei materiali monocristallini semiconduttori e dei film sottili epitassici, analizzare le discrepanze reticolari, i difetti e altre informazioni, che aiutano a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi semiconduttori. Materiali superconduttori: studiare la struttura cristallina e il processo di transizione di fase dei materiali superconduttori per fornire una base per l'ottimizzazione delle proprietà superconduttive. Nanomateriali: l'analisi della granulometria, della struttura cristallina, della deformazione microscopica, ecc. dei nanomateriali aiuta i ricercatori a comprenderne meglio le proprietà e le applicazioni. Altri campi: è anche ampiamente utilizzato nella ricerca e nel controllo qualità di materiali metallici, materiali ceramici, materiali polimerici, biomateriali e altri campi. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione è uno strumento analitico ad alta precisione, ad alta risoluzione, non distruttivo e veloce con un importante valore applicativo in molti campi.

1. Funzione del diffrattometro a cristallo singolo: Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli geminati, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa lunghezza del legame, angolo di legame, configurazione, conformazione e persino densità elettronica di legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è un prodotto ad alta tecnologia finanziato dal Ministero della Scienza e della Tecnologia della Cina nell'ambito del Progetto nazionale di sviluppo di grandi strumenti e attrezzature scientifiche, guidato da Dandong Tongda Technology Co., Ltd., che colma la lacuna nello sviluppo e nella produzione di diffrattometri a cristallo singolo in Cina. 2. Caratteristiche del diffrattometro a cristallo singolo: L'intera macchina adotta la tecnologia di controllo del controllore logico programmabile (PLC); facile da usare, sistema di raccolta con un clic; Design modulare, accessori plug and play, nessuna necessità di calibrazione; Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen, visualizzazione dello stato dello strumento; Generatore di raggi X ad alta potenza con prestazioni stabili e affidabili; dispositivo di interblocco elettronico della porta principale, doppia protezione. 3. Precisione del diffrattometro a cristallo singolo: Precisione di ripetibilità dell'angolo 2 θ: 0,0001 °; Angolo di passo minimo: 0,0001 ° Intervallo di controllo della temperatura: 100K-300K; Precisione di controllo: ± 0,3K 4. Strumento di misura dell'angolo utilizzato nel diffrattometro a cristallo singolo: L'uso della tecnica dei quattro cerchi concentrici assicura che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente da qualsiasi rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e ottenere una maggiore completezza. Quattro cerchi concentrici sono una condizione necessaria per la scansione del diffrattometro monocristallino convenzionale. 5. Rilevatore bidimensionale ad alta velocità utilizzato nel diffrattometro a cristallo singolo a raggi X: Il rilevatore combina le tecnologie chiave del conteggio di singoli fotoni e della tecnologia a pixel misti per ottenere la migliore qualità dei dati, garantendo al contempo un basso consumo energetico e un basso raffreddamento. Viene applicato in vari campi come la radiazione di sincrotrone e le sorgenti luminose convenzionali da laboratorio, eliminando efficacemente l'interferenza del rumore di lettura e della corrente oscura. La tecnologia a pixel misti può rilevare direttamente i raggi X, rendere il segnale più facile da distinguere e fornire in modo efficiente dati di alta qualità. 6. Attrezzatura a bassa temperatura utilizzata nel diffrattometro a cristallo singolo a raggi X: I dati raccolti tramite apparecchiature a bassa temperatura producono risultati più ideali. Con l'aiuto di apparecchiature a bassa temperatura, possono essere fornite condizioni più vantaggiose per consentire ai cristalli indesiderati di ottenere risultati ideali, così come ai cristalli ideali di ottenere risultati più ideali. Intervallo di controllo della temperatura: 100K~300K; Precisione di controllo: ± 0,3K; Consumo di azoto liquido: 1,1~2 litri/ora; 7. Accessorio opzionale, lente di messa a fuoco multistrato: Potenza del tubo a raggi X: 30 W o 50 W, ecc.; Divergenza: 0,5~1 mrad; Materiale bersaglio del tubo a raggi X: bersaglio Mo/Cu; macchia focale: 0,5~2 mm.

Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. Il principio dello spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS): Assorbimento di raggi X a struttura fine Lo spettro si riferisce agli spettri ad alta risoluzione vicino ai bordi caratteristici degli elettroni del nucleo atomico che assorbono i raggi X. Quando l'energia dei raggi X è la stessa dell'energia di eccitazione degli elettroni del guscio interno dell'elemento misurato, saranno fortemente assorbiti, con conseguente limite di assorbimento (o bordo di assorbimento). Vicino al bordo di assorbimento, a causa di molteplici scattering e altri motivi, il coefficiente di assorbimento dei raggi X mostrerà fenomeni oscillatori, vale a dire struttura fine. 2. Principali vantaggi dello spettro di assorbimento dei raggi X a struttura fine (XAFS): (1) Il prodotto di flusso luminoso più elevato, con un flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV e un'efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottenere una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone (2) Eccellente stabilità, la stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica ripetuta è inferiore a 50 meV (3) Il limite di rilevamento dell'1%, l'elevato flusso luminoso, l'eccellente ottimizzazione del percorso ottico e l'eccellente stabilità della sorgente luminosa garantiscono che i dati EXAFS di alta qualità possano essere ottenuti anche quando il contenuto di elementi misurati è >1%. 3. Campi di applicazione di XAFS: Catalisi industriale, materiali per l'accumulo di energia, nanomateriali, tossicologia ambientale, analisi qualitativa, analisi degli elementi pesanti, ecc. 4. Caratteristiche principali di XAFS: (1) Ordinamento a corto raggio: EXAFS dipende dalle interazioni a corto raggio e non si basa sull'ordinamento a lungo raggio. XAFS può essere utilizzato per studiare la struttura di sistemi disordinati come centri attivi amorfi, liquidi, fusi e catalizzatori. (2) Specificità dell'elemento: il metodo della fluorescenza può essere utilizzato per misurare campioni di elementi con concentrazioni basse fino a un milionesimo. Regolando l'energia dei raggi X incidenti, è possibile studiare le strutture vicine di atomi di diversi elementi nello stesso composto. (3) Caratteristiche di polarizzazione: i raggi X polarizzati possono essere utilizzati per misurare gli angoli dei legami atomici e le strutture superficiali nei campioni orientati. Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X, con i suoi principi unici, le sue caratteristiche significative e i suoi ampi campi di applicazione, è diventato uno strumento indispensabile e importante in molteplici campi quali la scienza dei materiali, la chimica catalitica e la ricerca energetica, fornendo un valido supporto per l'esplorazione approfondita delle microstrutture dei materiali e degli stati elettronici.

Il cambiacampioni automatico utilizzato nei diffrattometri a raggi X è un dispositivo impiegato per la sostituzione automatica dei campioni, finalizzato a migliorare l'efficienza e l'accuratezza degli esperimenti di diffrazione dei raggi X. Guidato da un motore passo-passo importato e controllato da un controllore logico programmabile (PLC) Siemens importato, non è necessario sostituire manualmente i campioni. Il sistema misura automaticamente i campioni in modo continuo e salva automaticamente i dati. È possibile caricare più campioni contemporaneamente per una misurazione continua. I componenti principali di un cambia campioni automatico sono: Meccanismo di trasferimento del campione: solitamente comprende un nastro trasportatore, una piastra di pressione elastica e un motore di azionamento, responsabile del trasferimento sequenziale delle piastre del campione di prova nella posizione di recupero. Meccanismo di sostituzione del campione: generalmente composto da componenti di serraggio, componenti di azionamento dell'azione e piatto girevole, può sostituire automaticamente la piastra del campione tra la posizione di prelievo del nastro trasportatore e la fase del campione dello strumento di diffrazione. Modulo sensore: come il modulo sensore fotoelettrico e il modulo sensore fotoresistore, utilizzato per rilevare la posizione del campione e lo stato di funzionamento del diffrattometro, al fine di controllare il modulo del circuito per eseguire le azioni di controllo corrispondenti. Modulo del circuito di controllo: collega e controlla il lavoro collaborativo dei meccanismi e dei moduli sopra menzionati per garantire un funzionamento preciso e stabile del processo di cambio automatico del campione. Modulo di alimentazione: fornisce supporto energetico all'intero dispositivo di cambio automatico dei campioni. 2. Principio di funzionamento del cambiacampioni automatico: Dopo che il diffrattometro ha completato il test del campione corrente, il modulo sensore rileva il cambiamento di stato della luce dell'otturatore del diffrattometro e trasmette il segnale al modulo del circuito di controllo. Dopo aver ricevuto il segnale, il modulo del circuito di controllo attiva il meccanismo di sostituzione del campione per spostarlo nella posizione di prelievo del nastro trasportatore e nella fase di campionamento dello strumento di diffrazione, e blocca le piastre del campione rispettivamente nelle due posizioni tramite le parti di serraggio. Quindi, il meccanismo di sostituzione del campione scambia le posizioni delle due piastre del campione per completare l'operazione di sostituzione del campione. Successivamente, il nastro trasportatore si avvia e trasporta il pannello campione successivo nella posizione di prelievo, in attesa del successivo cambio campione. 3. Vantaggi e caratteristiche dei cambiacampioni automatici: • Migliora l'efficienza dei test: può sostituire automaticamente i campioni durante il processo di test dello strumento di diffrazione senza intervento manuale, riducendo notevolmente il ciclo di test e migliorando l'efficienza del lavoro. • Ridurre l'errore umano: evitare errori operativi e sbagli che possono verificarsi durante la sostituzione manuale dei campioni e migliorare l'accuratezza e l'affidabilità dei risultati dei test. • Protezione dello strumento: riduce la possibilità di guasti dello strumento causati dalla frequente apertura e chiusura manuale dello sportello del difrattometro e prolunga la durata utile del difrattometro. • Adatto per testare un gran numero di campioni: può caricare più campioni per soddisfare le esigenze di test continui di un gran numero di campioni ed è adatto per il rilevamento ad alto rendimento in settori quali la ricerca scientifica e la produzione. In sintesi, il cambia-campioni automatico utilizzato negli strumenti di diffrazione dei raggi X è un'apparecchiatura automatizzata efficiente e precisa che apporta numerose comodità e vantaggi agli esperimenti di diffrazione dei raggi X, contribuendo a migliorare l'efficienza e la qualità degli esperimenti.

Il monocromatore a cristallo curvo in grafite utilizzato nei diffrattometri a raggi X è un componente chiave per selezionare specifiche lunghezze d'onda dei raggi X e rimuovere radiazioni indesiderate come le linee Kβ e i raggi X fluorescenti. Il monocromatore a cristallo curvo in grafite è un componente installato di fronte al rilevatore di raggi X, che monocromatizza i raggi X che passano attraverso la fessura di ricezione e rileva solo i raggi X caratteristici Kα nello spettro dei raggi X. Utilizzando questo dispositivo, i raggi X continui, i raggi X caratteristici Kβ e i raggi X fluorescenti possono essere completamente eliminati, consentendo un'analisi di diffrazione dei raggi X con un elevato rapporto segnale/rumore. Quando i tubi a raggi X con bersaglio in rame vengono utilizzati insieme ai corrispondenti monocromatori, i raggi X fluorescenti generati da campioni a base di Mn, Fe, Co, Ni possono essere eliminati, rendendoli adatti all'analisi di vari campioni. principio di funzionamento: Diffrazione di Bragg: in base alla legge di Bragg, quando i raggi X incidono su un cristallo a un certo angolo, se 2dsin θ=n λ (dove d è la spaziatura interplanare del cristallo, θ è l'angolo incidente, λ è la lunghezza d'onda dei raggi X e n è un numero intero), si verificherà la diffrazione. Utilizza questo principio per regolare l'orientamento del cristallo in modo che solo i raggi X che soddisfano condizioni specifiche possano passare attraverso, ottenendo così la selezione delle lunghezze d'onda dei raggi X. Risoluzione energetica: grazie alla spaziatura interplanare e alle caratteristiche strutturali dei cristalli di grafite, può distinguere efficacemente i raggi X di diverse energie. Il monocromatore a cristallo curvo in grafite ad alta risoluzione energetica può ridurre ulteriormente le radiazioni indesiderate e migliorare la qualità dei dati di diffrazione. Caratteristiche strutturali: Forma curva: il monocromatore a cristallo curvo in grafite ha in genere una forma curva, che aiuta a focalizzare i raggi X e a migliorare l'efficienza della diffrazione. Allo stesso tempo, la forma curva aiuta anche a ridurre lo stress sul cristallo, migliorandone la stabilità e la durata. Grafite ad elevata purezza: il monocromatore a cristallo curvo in grafite è solitamente realizzato con materiali in grafite ad elevata purezza per garantire buone prestazioni di diffrazione e stabilità. Elevata efficienza di diffrazione: presenta un'elevata efficienza di diffrazione, che consente di selezionare efficacemente i raggi X della lunghezza d'onda desiderata, migliorando così la qualità dei dati di diffrazione. Ampio intervallo di lunghezze d'onda: può funzionare su un ampio intervallo di lunghezze d'onda ed è adatto a vari tipi di esperimenti di diffrazione dei raggi X. Buona stabilità: grazie all'uso di materiale in grafite ad elevata purezza, presenta una buona stabilità e una lunga durata. Campi di applicazione: Scienza dei materiali: nel campo della scienza dei materiali, i diffrattometri a raggi X sono ampiamente utilizzati per studiare la struttura cristallina, la composizione di fase e altre proprietà dei materiali. Il monocromatore a cristallo curvo in grafite, come componente importante del diffrattometro a raggi X, fornisce un importante supporto tecnico per la ricerca sulla scienza dei materiali. Fisica: Nel campo della fisica, i diffrattometri a raggi X vengono utilizzati anche per studiare la microstruttura e le proprietà fisiche della materia. In sintesi, il monocromatore a cristallo curvo in grafite utilizzato nei diffrattometri a raggi X è un dispositivo di selezione e filtraggio dei raggi X efficiente e preciso, che fornisce un importante supporto tecnico per gli esperimenti di diffrazione dei raggi X.

Il portacampione rotante in un diffrattometro a raggi X è un componente chiave utilizzato per la regolazione precisa e il fissaggio della posizione del campione, il campione può ruotare all'interno del proprio piano, il che è utile per gli errori causati da grani grossolani. Per campioni con texture e cristallografia, il portacampione rotante assicura una buona riproducibilità dell'intensità di diffrazione ed elimina l'orientamento preferito. Principio di funzionamento del portacampioni rotante: Quando il diffrattometro a raggi X è in funzione, i raggi X ad alta energia generati dalla sorgente di raggi X vengono irradiati sul campione fissato sul portacampione rotante. A causa della specifica struttura cristallina e dei parametri reticolari del campione, i raggi X subiranno fenomeni di diffusione, assorbimento e diffrazione quando interagiscono con il campione, dove i fenomeni di diffrazione si verificano secondo i requisiti dell'equazione di Bragg. Il portacampione rotante può ruotare ad angoli più piccoli in base all'impostazione, consentendo al campione di ricevere l'irradiazione di raggi X ad angoli diversi, ottenendo così modelli di diffrazione ad angoli diversi. In questo modo, il rilevatore può misurare l'intensità dei raggi X dopo la diffrazione del campione e convertirla in un segnale elettrico da trasmettere al computer per l'elaborazione dei dati. La funzione principale del portacampioni rotante è: Metodo di rotazione: asse β (piano campione) Velocità di rotazione: 1~60RPM Piccola larghezza del passo: 0,1 º Modalità di funzionamento: Rotazione a velocità costante per la scansione del campione (passo, continuo) Vantaggi del portacampioni rotante: Il portacampione rotante può migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione: per campioni con forme irregolari di polvere o particelle, la caratteristica dell'orientamento preferito è incline a verificarsi durante la preparazione convenzionale del campione di polvere, con conseguenti deviazioni nella distribuzione dell'intensità di diffrazione e influenzando l'accuratezza dell'analisi dei risultati di diffrazione. La rotazione del piano del campione può spostare il campione in una certa forma in uno spazio appropriato, eliminando in una certa misura l'influenza dell'orientamento preferito, migliorando così l'accuratezza dei dati di diffrazione. Il portacampioni rotante può adattarsi a varie esigenze di test: in grado di adattarsi a diversi tipi di strumenti di misurazione dell'angolo di diffrazione dei raggi X, come strumenti di misurazione dell'angolo verticale, apparecchiature di diffrazione di polvere compatte a bassa potenza, ecc., offrendo praticità per diverse esigenze di test. E il portacampioni rotante può soddisfare i requisiti di vari campioni e condizioni di test regolando parametri come velocità e sterzata. Il portacampioni rotante può ampliare le capacità analitiche dello strumento: vengono costantemente sviluppati e applicati nuovi tipi di portacampioni rotanti, come alcuni portacampioni per l'analisi elettrochimica in situ della diffrazione dei raggi X, che possono monitorare e analizzare in tempo reale i cambiamenti dei materiali in diversi ambienti o condizioni, ampliando le capacità di analisi delle apparecchiature di diffrazione dei raggi X. In sintesi, il portacampioni rotante nel diffrattometro a raggi X è fondamentale per ottenere informazioni accurate sulla struttura cristallina delle sostanze. Il portacampioni rotante può non solo migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione, ma anche adattarsi a diverse esigenze di test ed espandere le capacità analitiche dello strumento.

Nel diffrattometro a raggi X, gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono componenti cruciali che migliorano notevolmente la funzionalità e la flessibilità dello strumento. Utilizzati per l'analisi di pellicole su schede, blocchi e substrati, possono eseguire test quali rilevamento di fase cristallina, orientamento, consistenza, stress e struttura in piano di pellicole sottili. Panoramica di base degli accessori di misura integrati multifunzionali: Definizione: Termine generico per una serie di dispositivi o moduli aggiuntivi utilizzati nel diffrattometro a raggi X per ampliare le funzioni dello strumento e migliorare l'accuratezza e l'efficienza delle misurazioni. Scopo: Questi accessori mirano a consentire al diffrattometro a raggi X di soddisfare una gamma più ampia di esigenze sperimentali e di fornire informazioni più complete e accurate sulla struttura dei materiali. Le caratteristiche funzionali degli accessori di misura integrati multifunzionali: Eseguire test del diagramma polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione; Le prove di stress possono essere condotte utilizzando il metodo dell'inclinazione parallela o lo stesso metodo dell'inclinazione; Test su film sottile (rotazione nel piano del campione). Caratteristiche tecniche degli accessori di misura integrati multifunzionali: Elevata precisione: in genere utilizzano tecnologie di rilevamento e sistemi di controllo avanzati per garantire elevata precisione e ripetibilità delle misurazioni. Automazione: molti accessori supportano operazioni automatizzate e possono essere perfettamente integrati con l'host del diffrattometro a raggi X per ottenere misurazioni con un clic. Design modulare: consente agli utenti di selezionare e combinare facilmente diversi moduli accessori in base alle loro effettive esigenze. Campi di applicazione degli accessori di misura integrati multifunzionali: Ampiamente utilizzato in campi quali la scienza dei materiali, la fisica, la chimica, la biologia e la geologia; Valutazione di strutture di assemblaggio metalliche come piastre laminate; Valutazione dell'orientamento della ceramica; Valutazione dell'orientamento prioritario dei cristalli in campioni di film sottili; Prove di sollecitazione residua su vari materiali metallici e ceramici (valutazione della resistenza all'usura, resistenza al taglio, ecc.); Prove di stress residuo su film multistrato (valutazione dello scollamento del film, ecc.); Analisi dell'ossidazione superficiale e dei film di nitruro su materiali superconduttori ad alta temperatura come film sottili e piastre metalliche; Vetro Si、Analisi di film multistrato su substrati metallici (film sottili magnetici, film di indurimento superficiale dei metalli, ecc.); Analisi di materiali galvanici quali materiali macromolecolari, carta e lenti. Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali nel diffrattometro a raggi X sono la chiave per migliorare le prestazioni dello strumento. Non solo migliorano la funzionalità dello strumento, ma migliorano anche l'accuratezza e l'efficienza della misurazione, fornendo ai ricercatori metodi di analisi dei materiali più completi e approfonditi. Con il continuo progresso della tecnologia, questi accessori continueranno a svolgere un ruolo importante nel promuovere la ricerca scientifica in campi correlati per ottenere più scoperte.

L'accessorio ad alta temperatura in un diffrattometro è un dispositivo aggiuntivo che può eseguire l'analisi della diffrazione dei raggi X su campioni in condizioni di alta temperatura. Per comprendere i cambiamenti nella struttura cristallina dei campioni durante il riscaldamento ad alta temperatura e i cambiamenti nella dissoluzione reciproca di varie sostanze durante il riscaldamento ad alta temperatura. Principio di funzionamento dell'accessorio ad alta temperatura: Utilizzando metodi quali riscaldamento a resistenza, riscaldamento a induzione o riscaldamento a radiazione, il campione viene riscaldato entro un intervallo di temperatura impostato. Allo stesso tempo, è dotato di sensori di temperatura ad alta precisione e sistemi di controllo per monitorare e regolare la temperatura del campione in tempo reale, garantendo la stabilità e l'accuratezza della temperatura. L'accuratezza del controllo della temperatura può raggiungere ±0,5℃ o anche superiore. Per mantenere la stabilità del campione ad alte temperature ed evitare che reagisca con l'ossigeno nell'aria, gli accessori ad alta temperatura solitamente richiedono un sistema di protezione dell'atmosfera. Le atmosfere comuni includono gas inerti come argon, azoto, ecc. Il sistema di controllo dell'atmosfera può controllare accuratamente la portata e la pressione dell'atmosfera, fornendo un ambiente sperimentale stabile per il campione. Le funzioni principali dell'accessorio ad alta temperatura sono: Il monitoraggio in tempo reale della transizione di fase del campione, delle reazioni chimiche, dei cambiamenti della struttura cristallina e di altri processi può essere eseguito in ambienti ad alta temperatura per ottenere informazioni sulla struttura e sulle proprietà delle sostanze a diverse temperature. Analizzando la posizione, l'intensità e la forma dei picchi di diffrazione, è possibile ottenere i parametri delle celle cristalline, la struttura cristallina, la composizione di fase e altre informazioni del campione, e il contenuto di ciascun componente può essere misurato con precisione. Studia la velocità, il meccanismo e il comportamento di diffusione delle reazioni chimiche. Ad esempio, osservando i cambiamenti strutturali dei catalizzatori durante le reazioni ad alta temperatura, comprendendo la formazione e la scomparsa dei loro centri attivi e ottimizzando le prestazioni dei catalizzatori. Campo di applicazione dell'accessorio ad alta temperatura: Utilizzato per studiare la transizione di fase, l'evoluzione della struttura cristallina e i cambiamenti di prestazioni di materiali superconduttori ad alta temperatura, leghe metalliche, materiali ceramici, ecc. a diverse temperature, fornendo una base per la progettazione e la preparazione dei materiali. Il monitoraggio dei cambiamenti nelle sostanze durante le reazioni chimiche, come lo studio dei cambiamenti strutturali dei catalizzatori e l'evoluzione dei centri attivi nelle reazioni catalitiche ad alta temperatura, può aiutare a sviluppare catalizzatori efficienti. Studia le proprietà fisiche delle sostanze ad alte temperature, come il magnetismo, la struttura elettronica e la loro relazione con la temperatura, ed esplora nuovi fenomeni e leggi fisiche. Parametro tecnico dell'accessorio ad alta temperatura: Impostazione della temperatura: ambiente con gas inerte da temperatura ambiente a 1200 ℃ Ambiente sotto vuoto: alta temperatura di 1600 ℃ Precisione del controllo della temperatura: ± 0,5 ℃ Materiale della finestra: pellicola di poliestere Metodo di raffreddamento: raffreddamento a circolazione di acqua deionizzata In sintesi, l'accessorio ad alta temperatura nel diffrattometro è un importante strumento di prova in grado di eseguire analisi di diffrazione dei raggi X su campioni in condizioni di alta temperatura, fornendo un valido supporto alla ricerca in campi quali la scienza dei materiali, l'ingegneria chimica e la fisica.

Il portacampioni multifunzione in un diffrattometro a raggi X è un dispositivo utilizzato per posizionare e fissare campioni, con molteplici funzioni e caratteristiche. Può testare tracce di campioni di polvere, così come campioni simili a fogli, di grandi dimensioni, irregolari, che non possono essere tagliati o macinati in polvere. Supporto e fissaggio del campione multifunzione: il supporto del campione può fissare saldamente il campione, assicurandone la stabilità durante la diffrazione dei raggi X ed evitando che l'accuratezza e l'affidabilità dei dati di diffrazione siano influenzate dal movimento del campione. Regolazione dell'altezza e dell'angolazione del supporto del campione multifunzione: ha la funzione di regolare l'altezza e l'angolazione e può regolare in modo flessibile la distanza e l'angolo relativo tra il campione e il tubo a raggi X e il rilevatore in base alle dimensioni, alla forma e ai requisiti di rilevamento dei diversi campioni, al fine di ottenere il miglior effetto di diffrazione. Funzione di rotazione del portacampioni multifunzione: alcuni tavoli portacampioni possono ruotare, consentendo al campione di ricevere l'irradiazione a raggi X da diverse angolazioni, ottenendo così maggiori informazioni sulla diffrazione da diverse angolazioni, il che aiuta ad analizzare in modo completo la struttura cristallina e l'orientamento del campione. Adattamento del portacampioni multifunzione: può adattarsi a diversi tipi di campioni, come solidi, liquidi, polvere, ecc. Sostituendo diversi supporti o accessori per campioni, può soddisfare i requisiti di prova di vari campioni. Controllo ambientale del portacampioni multifunzione: alcuni portacampioni avanzati sono dotati anche di sistemi di controllo ambientale in grado di testare i campioni in condizioni specifiche di temperatura, umidità, atmosfera e altre condizioni per simulare gli effetti di diversi ambienti sui campioni, ampliando ulteriormente la gamma di applicazioni dei diffrattometri a raggi X. Il portacampioni multifunzione del diffrattometro a raggi X è un'attrezzatura ausiliaria potente, flessibile e versatile, di grande importanza per migliorare l'accuratezza e l'efficienza degli esperimenti di diffrazione dei raggi X.