La spettroscopia di assorbimento di raggi X ad alta risoluzione è una tecnica all'avanguardia per l'analisi su scala atomica degli stati elettronici e chimici dei materiali. La sfida principale è raggiungere<1 eV energy resolution with high signal-to-noise. We overcome this by combining high-harmonic rejection mirrors with channel-cut monochromators for optimal brightness and resolution, integrating ultra-low-noise silicon drift detectors with real-time calibration for stability, and offering modular in-situ chambers for fast, efficient measurements under realistic conditions. Our spectrometers enable groundbreaking research in catalysis, quantum materials, and biochemistry.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 integra un rivelatore array ad alta velocità, che aumenta l'intensità del segnale da decine a centinaia di volte. Consente analisi rapide di fase, stress e struttura in modalità trasmissione/riflessione, supportando settori che vanno dall'elettronica alla ricerca sui materiali con elevata efficienza e precisione.

Il sistema di diffrazione a raggi X TD-3500 garantisce elevata precisione e stabilità grazie al controllore industriale PLC Siemens e al goniometro θ-θ. Offre un funzionamento automatizzato e intuitivo ed è validato in settori come l'analisi del TiO₂, fornendo soluzioni affidabili per l'identificazione di fase e la misurazione delle sollecitazioni.

La spettroscopia di assorbimento a raggi X (XAS) fornisce informazioni a livello atomico sui materiali energetici. Traccia in tempo reale i cambiamenti di valenza e strutturali negli elettrodi delle batterie agli ioni di litio durante il ciclo. Per i catalizzatori delle celle a combustibile, XAS rivela siti attivi e meccanismi di stabilità analizzando gli stati elettronici e gli ambienti di coordinazione. Nei fotocatalizzatori, chiarisce i percorsi di trasferimento di carica e l'evoluzione dinamica dei siti, guidando la progettazione di materiali avanzati.

Lo strumento di orientamento dei cristalli funge da navigatore fondamentale nella produzione di fascia alta, consentendo il rilevamento preciso e non distruttivo dell'allineamento atomico in materiali come silicio e zaffiro. Garantisce taglio e lavorazione ottimali nei settori dei semiconduttori e dell'ottica, migliorando le prestazioni del prodotto, riducendo gli sprechi e supportando una produzione automatizzata e ad alta precisione.

I diffrattometri a raggi X Dandong eccellono per la compatibilità con tutti gli scenari di campionamento, dalle polveri ai film sottili. Dotati di design modulare e ottiche di precisione, consentono un'analisi efficiente delle polveri e un'accurata caratterizzazione dei film sottili utilizzando la tecnologia GIXRD. La loro adattabilità si estende a materiali sfusi, monocristallini e fibrosi tramite accessori, supportando i test in situ. Convenienti e versatili, sono strumenti essenziali per la ricerca e sviluppo e il controllo qualità in tutti i settori industriali.

La scelta di un diffratore a raggi X richiede di bilanciare prestazioni (accuratezza, velocità), versatilità (tipologie di campioni) e usabilità con un valore a lungo termine. I fattori chiave includono l'affidabilità dello strumento, la sicurezza, il rapporto costo-efficacia (considerando sia il prezzo iniziale che i costi operativi) e un solido supporto da parte del fornitore, che comprende formazione, guida applicativa e assistenza locale. Prima dell'acquisto, è inoltre necessario valutare l'infrastruttura del laboratorio, confrontare le opzioni di mercato e pianificare futuri aggiornamenti e manutenzione.

I diffrattometri a raggi X di fabbricazione cinese offrono un'elevata risoluzione spaziale/energetica, test non distruttivi e un funzionamento affidabile. Sono essenziali per l'analisi delle strutture cristalline nella scienza dei materiali, delle composizioni rocciose in geologia e delle strutture proteiche in biologia, promuovendo la ricerca e l'innovazione in molteplici campi.

L'ottimizzazione della geometria e dell'ottica del goniometro è fondamentale per le prestazioni del diffrattometro a polveri. La geometria Bragg-Brentano consente una messa a fuoco precisa, mentre sistemi moderni come le fenditure di Soller e gli specchi di Göbel migliorano la risoluzione. In combinazione con rivelatori avanzati (ad esempio, 1Der), queste innovazioni sopprimono il rumore, rilevano segnali deboli e ampliano le applicazioni nella scienza dei materiali e nell'analisi industriale.