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Il diffrattometro a raggi X monocristallini TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellari, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a raggi X monocristallini può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, sul gruppo spaziale, sulla struttura molecolare dei cristalli, sul legame idrogeno intermolecolare e sulle interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come la configurazione e la conformazione molecolare. La XRD monocristallina è ampiamente utilizzata nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. Il diffrattometro a cristallo singolo adotta la tecnica della concentricità a quattro cerchi per garantire che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente dalla rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e ottenere una maggiore integrità. La concentricità a quattro cerchi è una condizione necessaria per la scansione convenzionale a cristallo singolo. Il personale tecnico dell'azienda ha completato l'installazione e il debug del diffrattometro a raggi X monocristallino estero e i risultati dei test hanno ampiamente soddisfatto gli utenti stranieri. Allo stesso tempo, la funzionalità, la stabilità e il servizio post-vendita dello strumento hanno ricevuto elogi unanimi dagli utenti stranieri.
Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X da tavolo utilizza il principio del diffrattometro a raggi X per eseguire analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica. L'inserimento di un nuovo rivelatore array ad alte prestazioni ha portato a un miglioramento significativo delle prestazioni dell'XRD da banco. Le apparecchiature XRD da banco hanno un volume ridotto e un peso leggero; La potenza di lavoro dell'alimentatore ad alta tensione Benchtop XRD può raggiungere i 1600 watt; L'XRD da banco può calibrare e testare rapidamente i campioni; Il controllo del circuito XRD da banco è semplice e facile da installare e da eseguire il debug; La ripetibilità dell'angolo del Benchtop XRD può raggiungere 0,0001.
L'analizzatore di stress residuo a diffrazione di raggi X TD-RSD integra molteplici geometrie di diffrazione e tecnologie di rilevamento ad alta precisione. Consente un'analisi accurata dello stress residuo in metalli, ceramiche e compositi, con una potenza di 3 kW, una ripetibilità di ±7 MPa e un funzionamento automatizzato per applicazioni industriali e di ricerca.
Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. è un'azienda leader nella produzione di apparecchiature per analisi a raggi X e prove non distruttive. In qualità di azienda nazionale ad alta tecnologia, forniamo prodotti all'avanguardia come i diffrattometri a raggi X della serie TD e i cambiacampioni automatici. La nostra filosofia incentrata sul cliente garantisce un supporto completo pre-vendita, durante e post-vendita, che include consulenze tecniche, formazione professionale e manutenzione permanente. Forniamo soluzioni complete per la scienza dei materiali, la produzione industriale e il monitoraggio ambientale, supportate da un sistema di assistenza affidabile. Contatti: +86-415-6123805 / firefly@tongdatek.com
Tongda Tech attrae talenti creando un ambiente di lavoro dinamico, che si configura come "casa e parco giochi". Grazie alle strutture ricreative e alle attività di gruppo, favorisce il relax, il lavoro di squadra e l'innovazione. Questo equilibrio aumenta la soddisfazione, riduce il turnover e stimola la crescita condivisa.
La diffrazione dei raggi X è un metodo per studiare la fase e la struttura cristallina di una sostanza utilizzando il fenomeno della diffrazione dei raggi X in un cristallo.
La tecnica di diffrazione dei raggi X viene spesso utilizzata per rilevare la qualità dei cristalli di wafer e wafer epitassiali.
Il rilevamento qualitativo XRD è comodo, veloce e presenta meno interferenze. Con la continua innovazione dei mezzi tecnici, la tecnologia della diffrazione dei raggi X ha una prospettiva di applicazione più ampia nel campo dell'analisi dei materiali.
Diffrazione dei raggi X, attraverso la diffrazione dei raggi X di un materiale, l'analisi del suo modello di diffrazione, per ottenere la composizione del materiale, la struttura o la forma degli atomi o delle molecole all'interno del materiale e altri mezzi di ricerca.
In base ai cambiamenti di posizione e intensità dei picchi di diffrazione XRD in situ, è possibile dedurre gli intermedi generati durante il ciclo e il meccanismo di reazione può essere ulteriormente derivato da questi intermedi.
Recentemente, un nuovo studio ha fuso con successo ossidi metallici con zeolite A e ha rivelato il mistero di questo processo attraverso la tecnologia XRD e FTIR.
XRD, è l'abbreviazione di diffrazione di raggi X, come persona materiale, indipendentemente dal materiale realizzato, XRD è il mezzo di caratterizzazione più comunemente usato e più basilare.