La diffrazione dei raggi X è un metodo per studiare la fase e la struttura cristallina di una sostanza utilizzando il fenomeno della diffrazione dei raggi X in un cristallo.Diffrattometro a raggi Xè un tipo di strumento per realizzare la tecnologia di diffrazione dei raggi X, composta principalmente da sorgente di raggi X, sistema di meccanismo di regolazione dell'orientamento della posizione del campione e del campione, rilevatore di raggi X e sistema di elaborazione e analisi del modello di diffrazione.

Nella ricerca scientifica,Diffrazione di raggi Xnon può solo caratterizzare la struttura e la fase dei materiali. Infatti, il modello XRD include anche informazioni cristallografiche come il gruppo spaziale, la lunghezza del legame, la dimensione del grano e lo stress reticolare del materiale sintetico. 

XRDil perfezionamento può verificare la correttezza dell'analisi strutturale. Quando un elemento nel materiale cristallino viene sostituito o parzialmente sostituito, possiamo anche utilizzare la struttura isomorfa per effettuare un raffinamento e ottenere la struttura cristallina del materiale sostitutivo. 

L'analisi di perfezionamento della struttura XRD consiste nel sostituire la singola quantità di dispersione hkl con la quantità di dispersione totale e utilizzare il modello matematico per adattare i dati sperimentali, separare la quantità di dispersione di ciascuna fase e realizzare un'analisi di fase quantitativa. Il processo di adattamento consiste nel regolare continuamente i valori dei parametri nel modello e infine ottenere il miglior accordo tra i dati sperimentali e i valori calcolati del modello.