Il diffrattometro a raggi X (XRD) può essere suddiviso in diffrattometro a raggi X in polvere e diffrattometro a cristallo singolo a raggi X, il principio fisico di base dei due è lo stesso.

XRD è un mezzo di ricerca che è la diffrazione mediante diffrazione dei raggi X di un materiale per analizzare il suo modello di diffrazione per ottenere informazioni come la composizione del materiale, la struttura o la forma degli atomi o delle molecole all'interno del materiale.

La diffrazione dei raggi X con incidenza radente (GI-XRD) è un tipo di tecnica di diffrazione dei raggi X, che è diversa dal tradizionale esperimento XRD, principalmente modificando l'angolo di incidenza dei raggi X e l'orientamento del campione.

La diffrazione dei raggi X (XRD) è attualmente un metodo potente per studiare la struttura cristallina (come il tipo e la distribuzione della posizione degli atomi o degli ioni e dei loro gruppi, la forma e le dimensioni delle cellule, ecc.).

Basandosi sulla legge di Bragg, la diffrazione di raggi X in situ (XRD) può essere utilizzata per monitorare il cambiamento di fase e i suoi parametri reticolari nell'elettrodo o nell'interfaccia elettrodo-elettrolita in tempo reale durante il ciclo di carica-scarica di un batteria.

Diffrazione dei raggi X, attraverso la diffrazione dei raggi X di un materiale, l'analisi del suo modello di diffrazione, per ottenere la composizione del materiale, la struttura o la forma degli atomi o delle molecole all'interno del materiale e altri mezzi di ricerca.

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La diffrazione di raggi X è il mezzo più efficace e più utilizzato, e la diffrazione di raggi X è il primo metodo utilizzato dall'uomo per studiare la microstruttura della materia.

I raggi X sono un tipo di radiazione elettromagnetica di lunghezza d'onda corta, tra i raggi ultravioletti e gamma, sviluppata dal fisico tedesco WK. Fu scoperta da Roentgen nel 1895, quindi è anche chiamata raggi Roentgen.