Dagli anni '90, la tecnologia di imaging con tomografia a raggi X con radiazione di sincrotrone è stata ampiamente utilizzata nella ricerca sui materiali.

La spettroscopia di assorbimento dei raggi X è una tecnica spettrale per analizzare la composizione elementare e gli stati elettronici dei materiali utilizzando le variazioni del segnale prima e dopo l'incidente dei raggi X della radiazione di sincrotrone.

La radiazione di sincrotrone è la radiazione elettromagnetica prodotta lungo la direzione tangente dell'orbita quando l'elettrone si muove lungo una curva ad alta velocità, che può essere utilizzata per svolgere molte ricerche scientifiche e tecnologiche avanzate.

Allo stato attuale, XAFS è stato applicato in molti campi, in particolare nel campo della catalisi e della ricerca sui materiali delle batterie, ed è diventato un importante metodo di caratterizzazione accurata.

Quando i materiali di grafite vengono utilizzati come materiali per elettrodi negativi per batterie al litio, una delle condizioni necessarie per il grado di grafitizzazione.

Nel 1912, Laue et al. previsto dalla teoria e confermato dall'esperimento che la diffrazione può verificarsi quando i raggi X incontrano il cristallo, dimostrando che i raggi X hanno la proprietà dell'onda elettromagnetica, che divenne la prima pietra miliare nella diffrazione dei raggi X.

XAFS, come tecnica di caratterizzazione avanzata per l'analisi della struttura locale dei materiali, può fornire informazioni più accurate sulla coordinazione della struttura atomica nell'intervallo della struttura a corto raggio rispetto alla diffrazione dei cristalli di raggi X.

La diffrazione dei raggi X è una tecnica analitica non distruttiva comunemente usata che può essere utilizzata per rivelare la struttura cristallina, la composizione chimica e le proprietà fisiche delle sostanze.

Diffrazione dei raggi X, attraverso la diffrazione dei raggi X di un materiale, l'analisi del suo modello di diffrazione, per ottenere la composizione del materiale, la struttura o la forma degli atomi o delle molecole all'interno del materiale e altri mezzi di ricerca.

In base ai cambiamenti di posizione e intensità dei picchi di diffrazione XRD in situ, è possibile dedurre gli intermedi generati durante il ciclo e il meccanismo di reazione può essere ulteriormente derivato da questi intermedi.

La diffrazione dei raggi X attraversa ogni fase del controllo di qualità dei farmaci, come lo studio delle materie prime e dei preparati.

Lo stress residuo ha un grande impatto sulla stabilità dimensionale, sulla resistenza alla tensocorrosione, sulla resistenza alla fatica, sul cambiamento di fase e su altre proprietà di materiali e componenti. La sua misurazione è stata ampiamente preoccupata dal mondo accademico e industriale.