La diffrazione dei raggi X attraversa ogni fase del controllo di qualità dei farmaci, come lo studio delle materie prime e dei preparati.

Lo stress residuo ha un grande impatto sulla stabilità dimensionale, sulla resistenza alla tensocorrosione, sulla resistenza alla fatica, sul cambiamento di fase e su altre proprietà di materiali e componenti. La sua misurazione è stata ampiamente preoccupata dal mondo accademico e industriale.

Recentemente, un nuovo studio ha fuso con successo ossidi metallici con zeolite A e ha rivelato il mistero di questo processo attraverso la tecnologia XRD e FTIR.

XRD, è l'abbreviazione di diffrazione di raggi X, come persona materiale, indipendentemente dal materiale realizzato, XRD è il mezzo di caratterizzazione più comunemente usato e più basilare.

La struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali basati sulla sorgente luminosa di radiazione di sincrotrone.

Quando un fascio di raggi X estremamente sottile passa attraverso un materiale con una densità elettronica irregolare di dimensioni nanometriche, i raggi X si diffonderanno in una piccola regione angolare vicino alla direzione del fascio originale, questo fenomeno è chiamato X a piccolo angolo -diffusione dei raggi.

La diffusione dei raggi X a piccolo angolo è la diffusione diffusa degli elettroni ai raggi X nella gamma dell'angolo piccolo vicino al fascio originale. La diffusione a piccolo angolo si verifica in tutti i materiali con densità elettronica non uniforme su scala nanometrica.

La diffrazione dei raggi X a piccolo angolo (SAXD) viene utilizzata principalmente per determinare la spaziatura di facce cristalline molto grandi o la struttura di film sottili.

L'utilizzo dei raggi X per studiare la struttura dei cristalli principalmente attraverso il fenomeno della diffrazione dei raggi X nel cristallo.

La tecnica di diffrazione dei raggi X è un metodo analitico utilizzato per studiare la struttura di una sostanza. Determina la struttura di un cristallo misurando l'angolo di diffrazione dei raggi X nel cristallo.

La XRD in situ, nota anche come diffrazione di raggi X in situ, è una tecnica per effettuare misurazioni di diffrazione di raggi X durante una struttura o una transizione di fase. Questa tecnologia può monitorare in tempo reale il cambiamento dinamico della struttura del materiale sotto la forza esterna.