La diffrazione dei raggi X (XRD) è un mezzo di ricerca per ottenere informazioni come la composizione di un materiale, la struttura o la forma di un atomo o una molecola interna analizzando il suo modello di diffrazione attraverso la diffrazione dei raggi X.

Il diffrattometro a raggi singoli Dandong Tongda TD-5000X ha vinto il premio "ACCSI2023 Instrument and Detection 3i Award --2022 Annual Scientific Instrument Industry Outstanding New Product Award".

È un produttore professionale di strumenti per l'analisi a raggi X e strumenti per controlli non distruttivi e ha ottenuto numerose certificazioni come imprese high-tech nazionali, imprese di certificazione del sistema di qualità ISO e dispone di un brevetto di invenzione e di un brevetto per modello di utilità.

La tecnologia di diffrazione dei raggi X è ampiamente utilizzata nella ricerca sulle batterie agli ioni di litio. XRD è un metodo convenzionale per l'analisi qualitativa e quantitativa delle fasi nei materiali.

Il Mid-Autumn Festival, la celebrazione del festival! Dandong Tongda Technology Co., Ltd. affinché tutti i dipendenti emettano i benefici del Festival di Metà Autunno!

XRD può misurare campioni sfusi e in polvere e presenta requisiti diversi per le diverse dimensioni e proprietà dei campioni.

Nell'agosto 2023, sotto la guida dell'azienda, la grande famiglia di Dandong Tongda Technology Co., Ltd. nella provincia di Liaoning ha organizzato una cena all'aperto alla vigilia della fine del mese.

Prendendo come esempio il ridimensionamento della deposizione, questo documento introduce come utilizzare il diffrattometro a raggi X per la fase qualitativa e l'analisi quantitativa.

Negli ultimi anni si è registrato un crescente interesse per la misurazione di campioni biologici ad alta pressione. Ciò si riflette nello sviluppo di nuove tecniche di misurazione della pressione diverse da quelle implementate da DAC. Uno di questi è la tecnica di congelamento dei cristalli sotto pressione.

Il diffrattometro a raggi X (XRD) può essere suddiviso in diffrattometro a raggi X in polvere e diffrattometro a cristallo singolo a raggi X, il principio fisico di base dei due è lo stesso.

I raggi X sono un tipo di radiazione elettromagnetica di lunghezza d'onda corta, tra i raggi ultravioletti e gamma, sviluppata dal fisico tedesco WK. Fu scoperta da Roentgen nel 1895, quindi è anche chiamata raggi Roentgen.

Il diffrattometro a raggi X viene utilizzato principalmente per la caratterizzazione di fase, l'analisi quantitativa, l'analisi della struttura cristallina, l'analisi della struttura del materiale, l'analisi dell'orientamento del cristallo di campioni di polvere, blocchi o film sottile.