Gli orientatori per cristalli a raggi X di Dandong Tongda (precisione di ±30 secondi d'arco, capacità di carico di 30 kg) garantiscono un orientamento preciso per cristalli piezoelettrici, ottici, laser e semiconduttori. Grazie a modelli e portacampioni specializzati, questi sistemi supportano la ricerca e la produzione di cristalli a livello globale, guadagnandosi il riconoscimento internazionale per gli strumenti di precisione cinesi.

Gli orientatori per cristalli a raggi X di Dandong Tongda (precisione di ±30 secondi d'arco, capacità di carico di 30 kg) garantiscono un orientamento preciso per cristalli piezoelettrici, ottici, laser e semiconduttori. Grazie a modelli e portacampioni specializzati, questi sistemi supportano la ricerca e la produzione di cristalli a livello globale, guadagnandosi il riconoscimento internazionale per gli strumenti di precisione cinesi.

Dandong Tongda, un'azienda cinese leader nel settore, produce orientatori avanzati per cristalli a raggi X. Utilizzando la diffrazione dei raggi X, questi strumenti consentono la misurazione precisa dell'angolo di taglio e il taglio direzionale di vari cristalli. Modelli chiave come TYX-200 e TYX-2H8 offrono elevata precisione (±30"), ampia capacità di campionamento, semplicità d'uso e rilevamento efficiente. Ampiamente utilizzati nei settori dei semiconduttori, dell'ottica e della ricerca, questi strumenti di livello mondiale sono certificati, brevettati ed esportati in tutto il mondo.

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF è uno strumento analitico su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. È utilizzato principalmente per l'orientamento di singoli cristalli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione delle tensioni residue, lo studio della struttura di piastre e barre, lo studio della struttura di sostanze sconosciute e le dislocazioni di singoli cristalli.

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF è uno strumento analitico a raggi X su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. Viene utilizzato principalmente per l'orientamento di singoli cristalli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione delle tensioni residue, lo studio della struttura di piastre e barre, lo studio della struttura di sostanze sconosciute e le dislocazioni di singoli cristalli. L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF adotta un manicotto tubolare verticale e può utilizzare quattro finestre contemporaneamente. L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF adotta la tecnologia di controllo PLC importata, con elevata precisione di controllo e buone prestazioni anti-interferenza, che possono ottenere un funzionamento affidabile del sistema. Il PLC controlla l'interruttore ad alta tensione, il sollevamento e ha la funzione di addestrare automaticamente il tubo a raggi X, estendendo efficacemente la durata utile del tubo a raggi X e dello strumento a raggi X.

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF è uno strumento a raggi X su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. Utilizza il principio di interazione tra raggi X e cristallo per determinare la disposizione atomica all'interno del cristallo analizzando il modello di diffrazione dei raggi X. Utilizzato principalmente per l'orientamento di cristalli singoli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione dello stress residuo, lo studio della struttura di piastre e barre, l'indagine della struttura di sostanze sconosciute e dislocazioni di cristalli singoli. L'analizzatore di cristalli a raggi X, in quanto strumento a raggi X, fornisce informazioni preziose per la ricerca scientifica sui materiali e altri campi correlati. Con il continuo progresso della tecnologia e l'espansione delle applicazioni, l'analizzatore di cristalli a raggi X continuerà a svolgere un ruolo importante nella ricerca scientifica e nella produzione industriale.

Lo strumento di orientamento automatico a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio di diffrazione dei raggi X per determinare la struttura cristallina, l'orientamento e i parametri del reticolo. Ha un'ampia gamma di applicazioni nella scienza dei materiali, geologia, fisica e chimica, in particolare nello studio della microstruttura e delle proprietà di materiali monocristallini, policristallini e materiali a film sottile. Quanto segue fornirà un'introduzione dettagliata al principio di funzionamento, all'applicazione e alle precauzioni operative dell'orientatore di cristalli a raggi X. Con l'avanzamento della tecnologia, i dispositivi di strumenti di orientamento automatico a raggi X continuano a migliorare, con una risoluzione più elevata e un funzionamento più semplice. Allo stesso tempo, la combinazione con altre tecniche analitiche come la microscopia elettronica e l'analisi spettroscopica rende l'analisi della struttura cristallina più completa e approfondita. Inoltre, i dispositivi di analisi dell'orientamento a raggi X portatili e di monitoraggio online si sono gradualmente sviluppati, offrendo possibilità di analisi in loco e monitoraggio in tempo reale. In sintesi, l'analizzatore di orientamento a raggi X è un potente strumento analitico che è fondamentale per comprendere e controllare la microstruttura dei materiali. Con il continuo sviluppo della tecnologia, la sua applicazione in vari campi diventerà più estesa e approfondita.

L'analizzatore di orientamento a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per determinare l'orientamento dei cristalli. È ampiamente utilizzato in campi quali scienza dei materiali, geologia, fisica, ecc., per studiare la struttura cristallina, i parametri del reticolo, i difetti dei cristalli, ecc. Il principio di funzionamento di un analizzatore di orientamento a raggi X è quello di irradiare un fascio di raggi X monocromatico sul cristallo in esame. Quando i raggi X interagiscono con gli atomi nel cristallo, si verifica la dispersione. Secondo la legge di Bragg, quando la lunghezza d'onda dei raggi X è un multiplo intero della spaziatura atomica in un cristallo, la luce diffusa interferirà e formerà una serie di strisce alternate luminose e scure, note come riflessione di Bragg. Misurando gli angoli e le intensità di queste riflessioni di Bragg, è possibile calcolare informazioni come l'orientamento del cristallo e i parametri del reticolo. L'analizzatore di orientamento dei raggi X di solito comprende le seguenti parti principali: 1. Sorgente di raggi X: dispositivo che produce raggi X monocromatici, in genere utilizzando un tubo a raggi X o una sorgente di radiazione di sincrotrone. 2. Piano di campionamento: piattaforma utilizzata per posizionare il cristallo da analizzare, in grado di regolare la posizione e l'angolazione del cristallo. 3.Rilevatore: utilizzato per ricevere raggi X dispersi e convertirli in segnali elettrici. I rilevatori comuni includono contatori a scintillazione, contatori proporzionali, ecc. 4. Sistema di acquisizione ed elaborazione dati: utilizzato per raccogliere i segnali in uscita dai rilevatori ed eseguire l'elaborazione e l'analisi dei dati. Di solito include analizzatori multicanale, computer e altre apparecchiature. 5. Sistema di controllo: utilizzato per controllare il movimento della sorgente di raggi X, del portacampione e del rilevatore per ottenere la misurazione dei cristalli in diverse direzioni. Utilizzando un analizzatore di orientamento a raggi X, i ricercatori possono determinare con precisione l'orientamento e i parametri reticolari dei cristalli, ottenendo così una comprensione più approfondita della loro struttura e delle loro proprietà. Ciò è di grande importanza per lo sviluppo di nuovi materiali, l'esplorazione geologica, la crescita dei cristalli e altri campi.

L'analizzatore di tensioni residue multifunzionale TDTC-150 integra funzioni analitiche fondamentali, tra cui l'analisi delle tensioni residue ad alta precisione, la misurazione quantitativa dell'austenite residua e l'analisi dimensionale di fase/cristallite, in un unico dispositivo. È dotato di un sistema di controllo PLC modulare, un design leggero e portatile e un servosistema ad alta precisione con un rilevatore multicanale per un'acquisizione dati efficiente e ad alta risoluzione. Lo strumento supporta un'ampia gamma di materiali come acciai, leghe di titanio e compositi. Dandong Tongda Technology, con la sua consolidata esperienza nell'esportazione a livello globale, offre il TDTC-150 per soddisfare la crescente domanda internazionale di soluzioni affidabili e multifunzionali per le prove sui materiali nei settori della produzione avanzata e della ricerca e sviluppo.

L'analizzatore di stress a raggi X TD-Mini di Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. utilizza la tecnologia di diffrazione dei raggi X per prove non distruttive. Misura lo stress in metalli/plastiche con elevata precisione e adattabilità al campo. Presenta un design compatto, un funzionamento intuitivo, un'elevata efficienza e un'ampia gamma di applicazioni. Include un tubo a raggi X da 60 W con bersagli multipli e un rilevatore di conteggio fotonico ad alta velocità (>1x10⁹ cps).

L'analizzatore di stress residuo a diffrazione di raggi X TD-RSD integra molteplici geometrie di diffrazione e tecnologie di rilevamento ad alta precisione. Consente un'analisi accurata dello stress residuo in metalli, ceramiche e compositi, con una potenza di 3 kW, una ripetibilità di ±7 MPa e un funzionamento automatizzato per applicazioni industriali e di ricerca.

TDTC-150: analizzatore di stress a raggi X portatile per uso in laboratorio e in loco. Misura rapidamente lo stress residuo, l'austenite residua e analizza la struttura e le fasi delle leghe. Le caratteristiche principali includono alta precisione, analisi multimodale e acquisizione dati efficiente per diversi materiali.