Gli analizzatori XRD utilizzano la legge di Bragg per misurare gli angoli di diffrazione, consentendo la decodifica non distruttiva delle fasi cristalline, delle costanti reticolari, delle dimensioni dei grani e dello stress derivante dalle variazioni della spaziatura interplanare.

Fondamenti fisici del diffrattometro a raggi X (per la misurazione dello stress): derivazione approfondita della geometria della diffrazione e della relazione sforzo-deformazione

La nuova generazione di HR-XRD riduce il consumo energetico tramite aggiornamenti hardware, controlli intelligenti e gestione dell'intero ciclo di vita, mantenendo la precisione e riducendo al contempo costi ed emissioni per i laboratori ecologici.

Questa guida descrive dettagliatamente la manutenzione essenziale per i sistemi XRD da banco, coprendo la generazione di raggi X, l'ottica, i rivelatori e la sicurezza. Una manutenzione regolare garantisce la precisione, previene i guasti e prolunga la durata delle apparecchiature. Il sistema XRD da banco TDM-20 di Dandong Tongda Technology soddisfa tutte le vostre esigenze analitiche.

La manutenzione degli XRD segue il principio "Prevenzione prima di tutto, ispezione regolare". I protocolli di sicurezza richiedono "Priorità di protezione, procedure standardizzate". Le pratiche chiave includono il controllo ambientale, la cura dei componenti, rigorosi controlli di sicurezza e un corretto spegnimento. Il rispetto di tali protocolli garantisce la longevità dello strumento, la sicurezza dell'operatore e l'affidabilità dei dati.

I diffrattometri da banco consentono una rapida identificazione di fase in loco. Le loro dimensioni compatte e la semplicità d'uso superano i limiti tradizionali della diffrazione a raggi X, aumentando l'efficienza in applicazioni di controllo qualità, ricerca e sviluppo e sul campo come lo screening e l'analisi dei materiali.

L'efficienza del diffrattometro per polveri può essere raddoppiata ottimizzando la preparazione del campione (macinazione, caricamento), i parametri dello strumento (intervallo/velocità di scansione) e adottando l'elaborazione in batch e la manutenzione ordinaria. Questi passaggi garantiscono dati di alta qualità riducendo significativamente i tempi di sperimentazione e le rilavorazioni.

La diffrazione a raggi X (XRD) consente una quantificazione precisa della fase di TiO2, fondamentale per la qualità del prodotto. I diffrattometri della serie TD di Dandong Tongda, dotati di programmi specializzati, garantiscono un'analisi accurata del rutilo/anatasio (<0.2% error).

Il modello di diffrazione dei raggi X funge da base più affidabile per determinare i modelli policristallini e il modello di diffrazione dei raggi X è spesso considerato come "l'impronta digitale" dei modelli cristallini.

La struttura cristallina dei film di perovskite modificati dal BMIMAc liquido ionico (IL) sotto varie durate di ricottura è stata caratterizzata mediante diffrazione di raggi X.