XRD, è l'abbreviazione di diffrazione di raggi X, come persona materiale, indipendentemente dal materiale realizzato, XRD è il mezzo di caratterizzazione più comunemente usato e più basilare.

Quando un fascio di raggi X estremamente sottile passa attraverso un materiale con una densità elettronica irregolare di dimensioni nanometriche, i raggi X si diffonderanno in una piccola regione angolare vicino alla direzione del fascio originale, questo fenomeno è chiamato X a piccolo angolo -diffusione dei raggi.

La diffusione dei raggi X a piccolo angolo è la diffusione diffusa degli elettroni ai raggi X nella gamma dell'angolo piccolo vicino al fascio originale. La diffusione a piccolo angolo si verifica in tutti i materiali con densità elettronica non uniforme su scala nanometrica.

La diffrazione dei raggi X a piccolo angolo (SAXD) viene utilizzata principalmente per determinare la spaziatura di facce cristalline molto grandi o la struttura di film sottili.

L'utilizzo dei raggi X per studiare la struttura dei cristalli principalmente attraverso il fenomeno della diffrazione dei raggi X nel cristallo.

La tecnica di diffrazione dei raggi X è un metodo analitico utilizzato per studiare la struttura di una sostanza. Determina la struttura di un cristallo misurando l'angolo di diffrazione dei raggi X nel cristallo.

La XRD in situ, nota anche come diffrazione di raggi X in situ, è una tecnica per effettuare misurazioni di diffrazione di raggi X durante una struttura o una transizione di fase. Questa tecnologia può monitorare in tempo reale il cambiamento dinamico della struttura del materiale sotto la forza esterna.

L'XRD in situ è ​​una delle tecniche di caratterizzazione avanzata più popolari e sviluppate per lo studio dei sistemi di batterie agli ioni di litio e agli ioni di sodio nei processi elettrochimici.

La tecnologia XRD gioca un ruolo importante nella ricerca e nello sviluppo di materiali ceramici. Fornisce una base scientifica affidabile per la sintesi, l'ottimizzazione del processo di preparazione, il miglioramento delle prestazioni e la divulgazione applicativa dei materiali ceramici.

È difficile quantificare le fasi amorfe e cristalline dei materiali cementizi a causa della complessità delle fasi minerali presenti nella miscela e dei notevoli picchi sovrapposti. Risultati eccellenti possono essere ottenuti perfezionando Rietveld il campione misurato utilizzando configurazioni di misurazione standard.

Nella ricerca sulla scienza dei materiali, la diffrazione dei raggi X (XRD) è un importante metodo sperimentale. Attraverso i dati XRD, possiamo ottenere informazioni come la dimensione dei grani, la distorsione del reticolo e la densità delle dislocazioni.