ILDiffrazione di raggi Xmodello costituisce la base più affidabile per determinare i modelli policristallini e il modello di diffrazione dei raggi X è spesso considerato il"impronta digitale"di modelli cristallini. 

I dati di diffrazione dei raggi X ottenuti dopo il test della polvereDiffrattometro a raggi Xsono classificati nelle seguenti tre categorie: (1) La determinazione del tipo policristallino mediante l'angolo 2θ e la spaziatura del piano cristallino (valore d) rappresenta la disposizione e le informazioni sulla posizione di atomi e molecole nell'API del farmaco; è l'informazione caratteristica del tipo di cristallo. (2) L'altezza del picco, l'intensità del picco e l'intensità relativa del picco sono le statistiche della distribuzione dei diversi piani cristallini nella configurazione cristallina, che rappresentano le informazioni caratteristiche della configurazione cristallina del campione e la base per l'analisi quantitativa della configurazione cristallina. (3) FWHM indica la forma del picco deldiffrazione picco, che riflette le proprietà della dimensione e della forma dei grani del policristallo e non serve come informazione caratteristica del tipo di cristallo.