L'irradiatore a raggi X può generare raggi X ad alta energia per irradiare cellule o piccoli animali. Utilizzato per varie ricerche di base e applicate. Nel corso della storia, sono stati utilizzati irradiatori di isotopi radioattivi, che richiedono il trasporto di campioni a una struttura di irradiazione del nucleo. Oggi, apparecchiature di irradiazione a raggi X più piccole, più sicure, più semplici e meno costose possono essere installate nei laboratori per un'irradiazione comoda e rapida delle cellule.

Gli accessori ad alta temperatura sono progettati per comprendere i cambiamenti nella struttura cristallina dei campioni durante il riscaldamento ad alta temperatura, nonché i cambiamenti nella dissoluzione reciproca di varie sostanze durante il riscaldamento ad alta temperatura.

Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF è uno strumento analitico su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. È utilizzato principalmente per l'orientamento di singoli cristalli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione delle tensioni residue, lo studio della struttura di piastre e barre, lo studio della struttura di sostanze sconosciute e le dislocazioni di singoli cristalli.

Il diffrattometro a raggi X ad alta potenza TDM-20 (XRD da banco) è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il principio della diffrazione dei raggi X può essere utilizzato per analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. È ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica.

Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che rende il diffrattometro a raggi X TD-3500 dotato delle caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione della serie TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione.

Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellati, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. È ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali.

Dispositivo a tubi a raggi X utilizzato per generare raggi X, ampiamente utilizzato in strumenti analitici di laboratorio come i diffrattometri a raggi X, come imaging medico, test industriali e ricerca scientifica. Nel campo industriale, vengono utilizzati per rilevare difetti all'interno dei materiali, come saldature, crepe, ecc. Nella ricerca scientifica, i tubi a raggi X vengono utilizzati per studiare la struttura e le proprietà delle sostanze.

La macchina portatile per prove di saldatura a raggi X NDT è adatta principalmente ai settori industriali della difesa nazionale, della cantieristica navale, del petrolio, della chimica, della meccanica, dell'aerospaziale e dell'edilizia per ispezionare la qualità di lavorazione e saldatura di materiali e componenti quali scafi di navi, condotte, recipienti ad alta pressione, caldaie, aeromobili, veicoli e ponti, nonché difetti interni e qualità intrinseca di vari metalli leggeri, gomma, ceramica, ecc.

Il cambiacampioni automatico è azionato da un motore passo-passo importato e controllato da un controllore logico programmabile (PLC) Siemens importato, eliminando la necessità di sostituzione manuale dei campioni. Il sistema misura automaticamente i campioni in modo continuo e salva automaticamente i dati. È possibile caricare sei campioni contemporaneamente per una misurazione continua.

L'accessorio di misurazione ottica parallela della pellicola aumenta la lunghezza della piastra reticolare per filtrare più linee sparse, il che è utile per ridurre l'influenza del segnale del substrato sui risultati e migliorare l'intensità del segnale della pellicola.