Guidato da un motore passo-passo importato e controllato da un controllore logico programmabile (PLC) Siemens importato, non è necessario sostituire manualmente i campioni. Il sistema misura automaticamente i campioni in modo continuo e salva automaticamente i dati. È possibile caricare sei campioni contemporaneamente per una misurazione continua. Nel complesso, come efficiente apparecchiatura ausiliaria sperimentale, il cambiacampioni automatico svolge un ruolo importante in molteplici campi. Con il continuo progresso della tecnologia e la crescente domanda di applicazioni, anche le prestazioni e la funzionalità del cambiacampioni automatico saranno ulteriormente migliorate e perfezionate.

Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono utilizzati per analizzare pellicole su schede, blocchi e substrati e possono eseguire test quali rilevamento di fase cristallina, orientamento, consistenza, stress e struttura in piano di pellicole sottili. Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono in genere progettati per migliorare la funzionalità del diffrattometro a raggi X, consentendo loro di adattarsi a esigenze di test più diversificate. Esiste una stretta relazione tra gli accessori di misurazione integrati multifunzionali e il diffrattometro a raggi X. Questi accessori non solo migliorano la funzionalità e le prestazioni del diffrattometro a raggi X, ma ne migliorano anche la facilità di utilizzo e la sicurezza. Nelle applicazioni pratiche, gli utenti possono scegliere accessori adatti in base alle loro esigenze specifiche per espandere gli scenari applicativi del diffrattometro a raggi X e migliorare l'efficienza della misurazione.

L'accessorio in situ per temperature medie e basse è progettato per comprendere i cambiamenti nella struttura cristallina durante il processo di refrigerazione a bassa temperatura; per fornire un ambiente di campionamento a temperatura media e bassa (solitamente al di sotto della temperatura ambiente ma non estremamente bassa, come un intervallo tra -100 ℃ e la temperatura ambiente) per microscopi e altri strumenti. Ambiente sotto vuoto: -196~500℃ Precisione del controllo della temperatura: ±0,5℃ Metodo di refrigerazione: azoto liquido (consumo inferiore a 4L/h) Materiale della finestra: pellicola di poliestere Metodo di raffreddamento: raffreddamento a circolazione di acqua deionizzata

L'accessorio ad alta temperatura è progettato per comprendere i cambiamenti nella struttura cristallina dei campioni durante il riscaldamento ad alta temperatura, nonché i cambiamenti nella dissoluzione reciproca di varie sostanze durante il riscaldamento ad alta temperatura.  Gli accessori ad alta temperatura svolgono un ruolo cruciale come importanti apparecchiature sperimentali e industriali in molteplici campi. La loro ampia gamma di campi di applicazione, i precisi parametri tecnici e i diversi tipi di prodotti rendono gli accessori ad alta temperatura una parte indispensabile della ricerca scientifica e della produzione industriale. parametro tecnico Impostazione della temperatura: ambiente con gas inerte da temperatura ambiente a 1200 ℃ Ambiente sotto vuoto con temperatura elevata di 1600 ℃ Precisione del controllo della temperatura: ± 0,5 ℃ Materiale della finestra: pellicola di poliestere

Tubi a raggi X progettati specificamente per strumenti analitici: tubi in ceramica corrugati, tubi in cermet e tubi in vetro, adatti a vari modelli di XRD, XRF, analizzatori di cristalli e strumenti di orientamento in patria e all'estero. Parametri tecnici dei tubi a raggi X: 1. Tipi di materiale target opzionali: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W, ecc. 2. Tipo di messa a fuoco: 0,2 × 12 mm² o 1 × 10 mm² o 0,4 × 14 mm² (messa a fuoco fine)

Originariamente accessorio per batteria, intervallo di prova: 0,5-160 gradi, resistenza alla temperatura: 400 ℃, dimensioni della finestra in berillio (pellicola di poliestere): diametro 15 mm (personalizzabile); Spessore 0,1 mm (personalizzabile). Sono ampiamente utilizzati come accessori per diffrattometri a raggi X in sistemi elettrochimici contenenti carbonio, ossigeno, azoto, zolfo, complessi metallici incorporati, ecc. Originariamente accessorio per batteria viene utilizzato per fissare l'intero stadio del campione Originariamente batteria sullo strumento di misurazione dell'angolo del diffrattometro a raggi X, fungendo da collegamento e supporto.

Il portacampioni multifunzione appartiene all'accessorio diffrattometro a raggi X (accessorio XRD), che adotta una tecnologia di progettazione avanzata e idee di progettazione modulare e realizza funzioni quali rotazione, differenziale di sollevamento e resistenza all'ossidazione ad alta temperatura attraverso la combinazione di diversi moduli. Il portacampioni multifunzione è adatto a varie tecnologie avanzate di crescita e deposizione di film sottili, tra cui MBE (epitassia a fascio molecolare), PLD (deposizione laser pulsata), sputtering magnetron ed EB (evaporazione a fascio di elettroni), e può anche essere utilizzato per ricottura del substrato, degasaggio ad alta temperatura e modifica dei materiali. Il substrato del Sample Holder multifunzione può raggiungere una temperatura di riscaldamento massima di 1100 ℃ e può essere collegato a RF/DC, con autorotazione e una velocità di 0-20 giri al minuto. È regolabile in continuo e fornisce il posizionamento zero. Il design modulare consente di selezionare più configurazioni di combinazione e la dimensione del campione può ospitare fino a 8 pollici. In sintesi, il portacampioni multifunzione è un'attrezzatura sperimentale potente e flessibile, adatta a varie ricerche scientifiche e applicazioni industriali come accessorio per diffrattometro a raggi X (accessorio XRD). Il design modulare e le molteplici funzioni del portacampioni multifunzione lo rendono uno strumento indispensabile nei laboratori e nella produzione industriale.

L'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è uno strumento specializzato per l'analisi della diffrazione dei raggi X, che filtra più linee sparse aumentando la lunghezza della piastra reticolare, riducendo così l'influenza del segnale del substrato sui risultati e migliorando l'intensità del segnale della pellicola sottile. Nel campo della scienza dei materiali, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è comunemente utilizzato per studiare la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e lo stato di stress dei materiali della pellicola sottile. Con lo sviluppo della nanotecnologia, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è stato ampiamente utilizzato anche nei test di spessore e nell'analisi della diffrazione a piccolo angolo di pellicole multistrato nano. La progettazione e la produzione dell'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela perseguono un'elevata precisione per soddisfare i requisiti della ricerca scientifica e della produzione industriale per l'accuratezza dei dati. Durante l'uso, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela deve mantenere un elevato grado di stabilità per garantire l'affidabilità dei risultati dei test. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, la domanda di strumenti analitici ad alta precisione e alta stabilità è in costante aumento. Anche gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela, in quanto componente importante, stanno vivendo una crescita sostenuta della domanda di mercato. Per soddisfare la domanda di mercato e migliorare le prestazioni del prodotto, la tecnologia degli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela è in continua innovazione e miglioramento. Ad esempio, il miglioramento del materiale e del design delle piastre reticolari, l'ottimizzazione del sistema ottico e altri mezzi possono migliorare l'effetto di filtraggio e la capacità di potenziamento del segnale. In sintesi, gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela svolgono un ruolo cruciale nell'analisi della diffrazione dei raggi X. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, le sue prospettive di applicazione diventeranno ancora più ampie.

Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi speciali utilizzati negli esperimenti di diffrazione a raggi X (XRD), principalmente per misurare i picchi di diffrazione nell'intervallo di angoli bassi per studiare la microstruttura e le proprietà dei materiali. Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi specializzati per diffrattometri a raggi X che consentono misurazioni di diffrazione precise entro un intervallo di angoli inferiore a 2θ (tipicamente da 0° a 5° o inferiore). Questa tecnologia è di grande importanza per lo studio di nanostrutture, materiali mesoporosi, pellicole multistrato e altri materiali. Configurando i corrispondenti accessori per diffrattometri ad angolo piccolo, è possibile misurare con precisione lo spessore delle pellicole multistrato nano. Nel complesso, gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono un componente indispensabile e importante dei diffrattometri a raggi X, con ampie prospettive di applicazione nella scienza dei materiali, chimica, fisica e altri campi.

Gli accessori in fibra vengono testati per la loro struttura cristallina unica utilizzando il metodo di diffrazione dei raggi X (trasmissione). Testare l'orientamento del campione in base a dati quali cristallinità della fibra e larghezza di metà picco. Gli accessori in fibra trovano ampia applicazione in vari campi, tra cui la scienza dei materiali, la biomedicina, l'ingegneria chimica, la nanotecnologia, l'esplorazione geologica, il monitoraggio ambientale e molto altro.

Il sistema di irradiazione a raggi X a cabinet genera raggi X ad alta energia per irradiare cellule o piccoli animali. Utilizzato per varie ricerche di base e applicate. Nella storia, sono state utilizzate apparecchiature di irradiazione di isotopi radioattivi, che richiedono il trasporto di campioni in una struttura di irradiazione del nucleo. Oggi, dispositivi di irradiazione a raggi X più piccoli, più sicuri, più semplici e meno costosi possono essere installati nei laboratori per un'irradiazione comoda e rapida delle cellule. Vari campioni possono essere irradiati direttamente in laboratorio senza compromettere la fertilità o la sicurezza. Questo dispositivo di irradiazione a raggi X biologico è comodo da usare per il personale senza formazione professionale in materia di raggi X e non ci sono costose richieste di licenza o costi di manutenzione per la sicurezza o le fonti di radiazioni. Lo strumento di irradiazione a raggi X è facile da usare, sicuro, affidabile ed economico e può sostituire le fonti di isotopi radioattivi.

L'analizzatore di orientamento a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per determinare l'orientamento dei cristalli. È ampiamente utilizzato in campi quali scienza dei materiali, geologia, fisica, ecc., per studiare la struttura cristallina, i parametri del reticolo, i difetti dei cristalli, ecc. Il principio di funzionamento di un analizzatore di orientamento a raggi X è quello di irradiare un fascio di raggi X monocromatico sul cristallo in esame. Quando i raggi X interagiscono con gli atomi nel cristallo, si verifica la dispersione. Secondo la legge di Bragg, quando la lunghezza d'onda dei raggi X è un multiplo intero della spaziatura atomica in un cristallo, la luce diffusa interferirà e formerà una serie di strisce alternate luminose e scure, note come riflessione di Bragg. Misurando gli angoli e le intensità di queste riflessioni di Bragg, è possibile calcolare informazioni come l'orientamento del cristallo e i parametri del reticolo. L'analizzatore di orientamento dei raggi X di solito comprende le seguenti parti principali: 1. Sorgente di raggi X: dispositivo che produce raggi X monocromatici, in genere utilizzando un tubo a raggi X o una sorgente di radiazione di sincrotrone. 2. Piano di campionamento: piattaforma utilizzata per posizionare il cristallo da analizzare, in grado di regolare la posizione e l'angolazione del cristallo. 3.Rilevatore: utilizzato per ricevere raggi X dispersi e convertirli in segnali elettrici. I rilevatori comuni includono contatori a scintillazione, contatori proporzionali, ecc. 4. Sistema di acquisizione ed elaborazione dati: utilizzato per raccogliere i segnali in uscita dai rilevatori ed eseguire l'elaborazione e l'analisi dei dati. Di solito include analizzatori multicanale, computer e altre apparecchiature. 5. Sistema di controllo: utilizzato per controllare il movimento della sorgente di raggi X, del portacampione e del rilevatore per ottenere la misurazione dei cristalli in diverse direzioni. Utilizzando un analizzatore di orientamento a raggi X, i ricercatori possono determinare con precisione l'orientamento e i parametri reticolari dei cristalli, ottenendo così una comprensione più approfondita della loro struttura e delle loro proprietà. Ciò è di grande importanza per lo sviluppo di nuovi materiali, l'esplorazione geologica, la crescita dei cristalli e altri campi.