Basandosi sulla legge di Bragg, la diffrazione di raggi X in situ (XRD) può essere utilizzata per monitorare il cambiamento di fase e i suoi parametri reticolari nell'elettrodo o nell'interfaccia elettrodo-elettrolita in tempo reale durante il ciclo di carica-scarica di un batteria.

Il diffrattometro a raggi X viene utilizzato principalmente per la caratterizzazione di fase, l'analisi quantitativa, l'analisi della struttura cristallina, l'analisi della struttura del materiale, l'analisi dell'orientamento del cristallo di campioni di polvere, blocchi o film sottile.

Il diffrattometro a raggi X, noto anche come diffrattometro a cristalli di raggi X, abbreviato XPD o XRD, è uno strumento per studiare la microstruttura interna della materia. Il diffrattometro a raggi X presenta i vantaggi di alta precisione, elevata stabilità e funzionamento conveniente.

La diffrazione a raggi X (XRD) è un metodo importante per studiare la fase e la struttura cristallina di una sostanza. Quando una sostanza (cristallo o non cristallo) viene analizzata per diffrazione, la sostanza viene irradiata dai raggi X per produrre diversi gradi di fenomeno di diffrazione, composizione del materiale, tipo di cristallo, modalità di legame intramolecolare, configurazione molecolare, conformazione e altre caratteristiche del materiale determinano il modello di diffrazione specifico della sostanza.