Diffrattometro a raggi Xè utilizzato principalmente per la caratterizzazione di fase, l'analisi quantitativa,analisi della struttura cristallina, analisi della struttura del materiale, analisi dell'orientamento dei cristalli di campioni di polvere, blocchi o film sottile. Misura dello stress macroscopico, misura della granulometria, misura della cristallinità, ecc.

Visualizzazione della mappa di analisi del campione del diffrattometro TD-3700:

1. Polvere SI (immagine incorporata 111 ingrandimento unimodale

Nota: il tempo di scansione del TD-3700 è 10 volte più breve del normale diffrattometro, migliorando l'efficienza della scansione e risparmiando tempo.

2. Spettro completo di SiO2 (immagine incorporata: amplificazione locale del picco a cinque dita)

                           TD-3700 (rivelatore Mythen) VS TD-3500 (rivelatore a scintillazione)

3.Confronto a picco singolo dei dati di diffrazione di campioni di polvere di Si

Nota: TD-3700 può ottenere un'intensità di picco più elevata, una risoluzione più elevata e una larghezza a metà altezza del picco inferiore rispetto al normale diffrattometro

4.Spettro di diffrazione Al2O3