La struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali basati sulla sorgente luminosa di radiazione di sincrotrone.

Quando un fascio di raggi X estremamente sottile passa attraverso un materiale con una densità elettronica irregolare di dimensioni nanometriche, i raggi X si diffonderanno in una piccola regione angolare vicino alla direzione del fascio originale, questo fenomeno è chiamato X a piccolo angolo -diffusione dei raggi.

La diffusione dei raggi X a piccolo angolo è la diffusione diffusa degli elettroni ai raggi X nella gamma dell'angolo piccolo vicino al fascio originale. La diffusione a piccolo angolo si verifica in tutti i materiali con densità elettronica non uniforme su scala nanometrica.

La diffrazione dei raggi X a piccolo angolo (SAXD) viene utilizzata principalmente per determinare la spaziatura di facce cristalline molto grandi o la struttura di film sottili.

L'utilizzo dei raggi X per studiare la struttura dei cristalli principalmente attraverso il fenomeno della diffrazione dei raggi X nel cristallo.

La tecnica di diffrazione dei raggi X è un metodo analitico utilizzato per studiare la struttura di una sostanza. Determina la struttura di un cristallo misurando l'angolo di diffrazione dei raggi X nel cristallo.

La XRD in situ, nota anche come diffrazione di raggi X in situ, è una tecnica per effettuare misurazioni di diffrazione di raggi X durante una struttura o una transizione di fase. Questa tecnologia può monitorare in tempo reale il cambiamento dinamico della struttura del materiale sotto la forza esterna.

La diffrazione dei raggi X delle polveri, come uno dei metodi per lo studio del polimorfismo dei farmaci, presenta i vantaggi di non distruggere i campioni e di essere semplice da usare, ed è attualmente il metodo principale per l'analisi qualitativa e quantitativa del polimorfismo dei farmaci.

La fase vetrosa di Bragg è una fase cristallina quasi perfetta con caratteristiche vetrose che si prevede si verifichi nei reticoli di vortice e nei sistemi di onde di densità di carica in presenza di disordine.

La frequenza e l'energia dei raggi X sono seconde solo ai raggi gamma, con penetrazione, intervallo di frequenza 30PHz~300EHz, lunghezza d'onda corrispondente di 1pm~10nm, energia di 124eV~1,24MeV. Diamo un'occhiata alle proprietà e alle applicazioni dei raggi X.

Questo articolo introduce la conoscenza correlata del modello di cristallo e del feticcio del cristallo