Il metodo di assistenza allo stress interno senza energia aggiuntiva proposto in questo documento fornisce una nuova strategia economica e conveniente per migliorare la dinamica di reazione della batteria.

XRD può misurare campioni sfusi e in polvere e presenta requisiti diversi per le diverse dimensioni e proprietà dei campioni.

Il diffrattometro a raggi X (XRD) globale si è sviluppato costantemente negli ultimi anni e la Cina è un mercato con grandi prospettive di sviluppo.

Prendendo come esempio il ridimensionamento della deposizione, questo documento introduce come utilizzare il diffrattometro a raggi X per la fase qualitativa e l'analisi quantitativa.

L’applicazione di nuove tecnologie e nuovi prodotti come il 5G, i big data e l’intelligenza artificiale porterà un’enorme domanda sul mercato dei semiconduttori e la spesa globale per le apparecchiature per semiconduttori è entrata in un ciclo ascendente.

L'XRD ad alta risoluzione (HR-XRD) è un metodo comune per misurare la composizione e lo spessore di semiconduttori composti come SiGe, AlGaAs, InGaAs, ecc.

XRD è un mezzo di ricerca che è la diffrazione mediante diffrazione dei raggi X di un materiale per analizzare il suo modello di diffrazione per ottenere informazioni come la composizione del materiale, la struttura o la forma degli atomi o delle molecole all'interno del materiale.

La diffrazione dei raggi X con incidenza radente (GI-XRD) è un tipo di tecnica di diffrazione dei raggi X, che è diversa dal tradizionale esperimento XRD, principalmente modificando l'angolo di incidenza dei raggi X e l'orientamento del campione.

È necessario ridurre le tensioni residue dannose e prevedere l'andamento della distribuzione e il valore delle tensioni residue. In questo articolo viene introdotto il metodo di prova non distruttiva delle prove di stress residuo.

La diffrazione dei raggi X (XRD) è attualmente un metodo potente per studiare la struttura cristallina (come il tipo e la distribuzione della posizione degli atomi o degli ioni e dei loro gruppi, la forma e le dimensioni delle cellule, ecc.).

La cristallografia a raggi X è una tecnica utilizzata per determinare la struttura atomica e molecolare di un cristallo, in cui la struttura cristallina fa sì che il fascio di raggi X incidente si diffrange in molte direzioni specifiche.

Basandosi sulla legge di Bragg, la diffrazione di raggi X in situ (XRD) può essere utilizzata per monitorare il cambiamento di fase e i suoi parametri reticolari nell'elettrodo o nell'interfaccia elettrodo-elettrolita in tempo reale durante il ciclo di carica-scarica di un batteria.