Negli ultimi anni, con la domanda di energia pulita e lo sviluppo di un’economia a zero emissioni di gas serra, il campo dell’elettrocatalisi ha suscitato grande interesse.

I principali indicatori dei materiali polimerici includono il tipo di polimero o la sua cristallinità. I polimeri presentano anche una microstruttura diversa, che può influenzare anche le proprietà meccaniche dei materiali polimerici.

La diffrazione dei raggi X (XRD) è un mezzo di ricerca per ottenere informazioni come la composizione di un materiale, la struttura o la forma di un atomo o una molecola interna analizzando il suo modello di diffrazione attraverso la diffrazione dei raggi X.

I cristalli, sebbene a lungo ammirati per la loro regolarità e simmetria, non furono studiati scientificamente fino al XVII secolo. Diamo uno sguardo alla storia antica della cristallografia.

Utilizzando il principio della diffrazione dei raggi X, l'angolo di taglio dei singoli cristalli naturali e artificiali viene determinato in modo accurato e rapido e la macchina da taglio è attrezzata per il taglio direzionale di detti cristalli.

Il metodo di assistenza allo stress interno senza energia aggiuntiva proposto in questo documento fornisce una nuova strategia economica e conveniente per migliorare la dinamica di reazione della batteria.

XRD può misurare campioni sfusi e in polvere e presenta requisiti diversi per le diverse dimensioni e proprietà dei campioni.

Il diffrattometro a raggi X (XRD) globale si è sviluppato costantemente negli ultimi anni e la Cina è un mercato con grandi prospettive di sviluppo.

Prendendo come esempio il ridimensionamento della deposizione, questo documento introduce come utilizzare il diffrattometro a raggi X per la fase qualitativa e l'analisi quantitativa.

L’applicazione di nuove tecnologie e nuovi prodotti come il 5G, i big data e l’intelligenza artificiale porterà un’enorme domanda sul mercato dei semiconduttori e la spesa globale per le apparecchiature per semiconduttori è entrata in un ciclo ascendente.

L'XRD ad alta risoluzione (HR-XRD) è un metodo comune per misurare la composizione e lo spessore di semiconduttori composti come SiGe, AlGaAs, InGaAs, ecc.