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Lo spazio tridimensionale degli atomi è organizzato in un ordine a lungo raggio e la più piccola unità di disposizione ripetuta è chiamata cellula, che può essere divisa in 7 tipi di sistemi cristallini, 14 tipi di reticolo e 230 tipi di gruppi spaziali. secondo la legge concordataria.
I cristalli, sebbene a lungo ammirati per la loro regolarità e simmetria, non furono studiati scientificamente fino al XVII secolo. Diamo uno sguardo alla storia antica della cristallografia.
La tecnologia di diffrazione dei raggi X è ampiamente utilizzata nella ricerca sulle batterie agli ioni di litio. XRD è un metodo convenzionale per l'analisi qualitativa e quantitativa delle fasi nei materiali.
Il Mid-Autumn Festival, la celebrazione del festival! Dandong Tongda Technology Co., Ltd. affinché tutti i dipendenti emettano i benefici del Festival di Metà Autunno!
Il diffrattometro a raggi X (XRD) globale si è sviluppato costantemente negli ultimi anni e la Cina è un mercato con grandi prospettive di sviluppo.
L’applicazione di nuove tecnologie e nuovi prodotti come il 5G, i big data e l’intelligenza artificiale porterà un’enorme domanda sul mercato dei semiconduttori e la spesa globale per le apparecchiature per semiconduttori è entrata in un ciclo ascendente.
L'XRD ad alta risoluzione (HR-XRD) è un metodo comune per misurare la composizione e lo spessore di semiconduttori composti come SiGe, AlGaAs, InGaAs, ecc.
Il diffrattometro a raggi X (XRD) può essere suddiviso in diffrattometro a raggi X in polvere e diffrattometro a cristallo singolo a raggi X, il principio fisico di base dei due è lo stesso.
XRD è un mezzo di ricerca che è la diffrazione mediante diffrazione dei raggi X di un materiale per analizzare il suo modello di diffrazione per ottenere informazioni come la composizione del materiale, la struttura o la forma degli atomi o delle molecole all'interno del materiale.
La diffrazione dei raggi X con incidenza radente (GI-XRD) è un tipo di tecnica di diffrazione dei raggi X, che è diversa dal tradizionale esperimento XRD, principalmente modificando l'angolo di incidenza dei raggi X e l'orientamento del campione.
È necessario ridurre le tensioni residue dannose e prevedere l'andamento della distribuzione e il valore delle tensioni residue. In questo articolo viene introdotto il metodo di prova non distruttiva delle prove di stress residuo.