Per determinare se è presente amianto nel talco si utilizza solitamente una combinazione di microscopia polarizzante o elettronica e diffrazione di raggi X, mentre l'analisi quantitativa dell'amianto utilizza principalmente il metodo di diffrazione di raggi X.

Con il graduale aumento della regolamentazione dei cristalli dei farmaci, l'analisi quantitativa dei cristalli efficaci nelle preparazioni dei farmaci è un anello molto importante nel processo di controllo della qualità della produzione dei farmaci.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. è un produttore professionale di diffrattometro a raggi X, ha una storia di 14 anni e ha collaborato con molte università e imprese in patria e all'estero.

Con lo sviluppo della tecnologia di rilevamento XRD, la miniaturizzazione degli strumenti, il basso consumo energetico, l'uso semplice, il rilevamento intelligente sta diventando sempre più popolare ed è diventato la tendenza degli strumenti.

L'amianto, noto anche come "amianto", si riferisce a prodotti minerali silicati con elevata resistenza alla trazione, elevata flessibilità, resistenza all'erosione chimica e termica, isolamento elettrico e filabilità. I tre tipi più comuni sono crisotilo, ferro e cianite.

Un indicatore importante dell'XRD è la presenza di un'ottima sorgente luminosa a raggi X. La cosiddetta sorgente luminosa a raggi X di buona qualità si riferisce solitamente ad alta intensità, elevato parallelismo ed elevata purezza. Questo articolo introdurrà una delle tecnologie fondamentali del neo-confucianesimo, il percorso ottico CBO.

La tecnologia di diffrazione dei raggi X è ampiamente utilizzata nella ricerca sulle batterie agli ioni di litio. XRD è un metodo convenzionale per l'analisi qualitativa e quantitativa delle fasi nei materiali.

Prendendo come esempio il ridimensionamento della deposizione, questo documento introduce come utilizzare il diffrattometro a raggi X per la fase qualitativa e l'analisi quantitativa.

La fluorescenza a raggi X a riflessione totale (TXRF) è una tecnica di analisi degli elementi di superficie comunemente utilizzata per analizzare particelle, residui e impurità su superfici lisce.

La diffrazione dei raggi X (XRD) è attualmente un metodo potente per studiare la struttura cristallina (come il tipo e la distribuzione della posizione degli atomi o degli ioni e dei loro gruppi, la forma e le dimensioni delle cellule, ecc.).

Questa procedura è una procedura sviluppata autonomamente. Contiene una varietà di funzioni di analisi quantitativa sviluppate da noi, che sono conformi alla teoria della diffrazione e sono calcolate in base all'intensità integrale.