Struttura fine di assorbimento dei raggi X
1.XAFS è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali.
2. Campi di applicazione XAFS: catalisi industriale, nanomateriali, anche analisi di qualità, analisi di elementi pesanti, ecc
3.Vantaggi del prodotto XAFS: risoluzione ultraelevata (a partire da 0,5 eV), modello di fluorescenza (base posteriore alta a basso contenuto), flusso luminoso ultraelevato, limiti di rilevamento ultrabassi (a partire da 0,3-0,5%, 10,1039/ D2CC05081A)
- Tongda
- Liaoning, Cina
- 1—2 mesi
- 100 notti all'anno
- informazione
Struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS), chiamata anche spettro di assorbimento dei raggi X scopia (XAS), è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale ure di materiali basati sulla sorgente luminosa di radiazione di sincrotrone ed è ampiamente utilizzato in campi caldi come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.
Parametro tecnico | ||
Prestazioni complete | Parametro | Istruzioni |
Gamma energetica | 5-19keV | |
Modalità spettrale | Modalità di trasmissione | |
Flusso luminoso al campione | >1.000.000 di fotoni/s/ev | |
Risoluzione energetica | XANES: 0,5-1,5 eV EXAFS: 1,5-10 eV | |
Via dei raggi X | L'accesso all'elio riduce l'assorbimento d'aria | |
Ripetibilità | Deriva energetica di acquisizione ripetuta <50meV | |
Sorgente di raggi X | Energia | 1,6 kW, alta tensione 10-40 kV, corrente 1-40 mA |
Materiale di destinazione | Bersaglio W\Mo, è possibile selezionare altri bersagli | |
Monocromatore | Tipo | Cristallo analitico sferico con raggio di curvatura di 500 mm, dimensione 100 mm |
Rivelatore | Tipo | SDD di ampia area, area effettiva di 150 mm2 |
Altra configurazione | Ruota campione | Ruota campione a 18 bit, test automatizzato continuo multi-campione |
Pool di campioni in situ | Elettrocatalisi, temperatura variabile, altre condizioni meccaniche multicampo, cella in situ | |
Cristallo analitico | Monocromatore a cristallo di analisi personalizzato per elementi speciali | |
Vantaggio principale:
1. Prodotti con il flusso luminoso più elevato
Il flusso di fotoni è superiore a 1.000.000 di fotoni/SEC /eV e l'efficienza di acquisizione spettrale è molte volte quella di altri prodotti; Ottieni la stessa qualità dei dati del rad di sincrotroneioazione.
2. Stabilità eccellente
La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva dell'energia di acquisizione ripetuta è < 50 meV.
Limite di rilevamento del 3,1%.
L'elevato flusso luminoso, l'eccellente ottimizzazione del percorso ottico e l'eccellente stabilità della sorgente luminosa garantiscono dati EXAFS di alta qualità con il contenuto degli elementi misurati>1%.
Principio dello strumento
La struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato nella catalisi, nell'energia, nella nanotecnologia e in altri campi caldi.
Il monocromatore da laboratorio XES testa le strutture geometriche
Dati Mn, dati XAFS Mn K-edge, dati coerenti con la sorgente di radiazione di sincrotrone
Dati sullo spettro di emissione del campione di Fe Kβ: da nucleo a nucleo XES e valenza a nucleo XES
Dati di test
Dati EXAFS laminati
Elementi misurabili: la parte verde può misurare il lato K, la parte gialla può misurare il lato L
Campi di applicazione: catalisi industriale, materiali per l'accumulo di energia, nanomateriali, tossicologia ambientale, anche analisi di qualità, analisi di elementi pesanti, ecc.
