sfondo

Assorbimento dei raggi X - Struttura fine

1.XAFS è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali.
2. Campi di applicazione XAFS: catalisi industriale, nanomateriali, anche analisi della qualità, analisi degli elementi pesanti, ecc.
3. Vantaggi del prodotto XAFS: risoluzione ultra elevata (fino a 0,5 eV), modello di fluorescenza (basso contenuto di base posteriore alta), flusso luminoso ultra elevato, limiti di rilevamento ultra bassi (fino a 0,3-0,5%, 10.1039/D2CC05081A)

  • Tongda
  • Liaoning, Cina
  • 1—2 mesi
  • 100 notti all'anno
  • informazione

La spettroscopia di assorbimento dei raggi X (XAFS), detta anche spettroscopia di assorbimento dei raggi X (XAS), è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali basata sulla sorgente luminosa di radiazione di sincrotrone ed è ampiamente utilizzata in campi caldi come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. 

Parametro tecnico

 

 




Prestazioni complete

Parametro

Istruzioni

Gamma di energia

5-19 keV

Modalità spettrale

Modalità di trasmissione

Flusso luminoso al campione

> 1.000.000 di fotoni /s/ev

Risoluzione energetica

XANES:0,5-1,5eV EXAFS:1,5-10eV

Percorso dei raggi X

L'accesso all'elio riduce l'assorbimento dell'aria

Ripetibilità

Deriva energetica di acquisizione ripetuta <50meV


sorgente di raggi X

Energia

1,6 kW, alta tensione 10-40 kV, corrente 1-40 mA

Materiale bersaglio

Target W\Mo, è possibile selezionare altri target

Monocromatore

Tipo

Cristallo analitico sferico con raggio di curvatura di 500 mm, dimensioni 100 mm

Rivelatore

Tipo

SDD di grande area, area effettiva 150 mm2



Altra configurazione

Ruota campione

Ruota di campionamento a 18 bit, test automatizzato continuo multi-campione

Piscina di campioni in situ

Elettrocatalisi, temperatura variabile, altre condizioni meccaniche multi-campo in cella situ

Cristallo analitico

Monocromatore di cristallo per analisi personalizzate per elementi speciali



Vantaggio fondamentale:

1. Prodotti con il flusso luminoso più elevato

Il flusso di fotoni è superiore a 1.000.000 di fotoni/SEC/eV e l'efficienza di acquisizione spettrale è diverse volte superiore a quella di altri prodotti; Ottieni la stessa qualità dei dati del sincrotrone radiozione.

2. Ottima stabilità

La stabilità dell'intensità luminosa monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica dell'acquisizione ripetuta è < 50 meV.

Limite di rilevamento del 3,1%

L'elevato flusso luminoso, l'eccellente ottimizzazione del percorso ottico e l'eccellente stabilità della sorgente luminosa garantiscono dati EXAFS di alta qualità con un contenuto di elementi misurato pari a >1%.


Principio dello strumento

La struttura fine dell'assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in catalisi, energia, nanotecnologie e altri campi caldi.

X-ray Absorption Fine Structure

                                                                          Il monocromatore da laboratorio XES testa le strutture geometriche

XAFS

                                                                 Dati Mn, dati XAFS Mn K-edge, dati coerenti con la sorgente di radiazione di sincrotrone

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

                                                        Dati dello spettro di emissione del campione di Fe Kβ: XES da nucleo a nucleo e XES da valenza a nucleo



Dati di prova

Dati EXAFS della lamina

X-ray Absorption Fine Structure


Elementi misurabili: la parte verde può misurare il lato K, la parte gialla può misurare il lato L

XAFS


Campi di applicazione: catalisi industriale, materiali per l'accumulo di energia, nanomateriali, tossicologia ambientale, analisi della qualità, analisi degli elementi pesanti, ecc.

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

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