



1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.
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La versione cinese del software di misurazione e analisi delle tensioni residue supporta sia metodi di adattamento lineare che ellittico. Utilizza equazioni complete delle tensioni senza presupporre uno sforzo di taglio nullo, insieme al metodo di adattamento ellittico, consentendo la misurazione simultanea dei valori di tensione normale e di tensione di taglio. Ogni misurazione utilizza più di 9 angoli ψ. L'adattamento del profilo di picco include gaussiani, lorentziani, di Pearson VII, parabolici, ecc. I risultati delle misurazioni possono visualizzare simultaneamente i valori di tensione normale, i valori di tensione di taglio, nonché informazioni come l'intensità del picco, la larghezza integrale e la larghezza totale a metà massimo (FWHM).
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Analizzatore di stress residuo TD-RSD XRD Precisione di ±7 MPa, innovazione a doppio rilevatore, funzionamento completamente automatico e software potente. Ottimizza i processi, migliora l'affidabilità del prodotto. Soluzione compatta, efficiente e all'avanguardia.
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1. Il tavolo di campionamento è dotato di una pista portante che può pesare fino a 1 kg e ha un diametro di 6 pollici (fino a 8 pollici). 2. Sul tavolo portacampioni è installato un dispositivo a ventosa. 3. Applicazione: Determinazione precisa e rapida dell'angolo di taglio di monocristalli naturali e artificiali.
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L'analizzatore portatile di tensioni residue a raggi X è un dispositivo di controllo non distruttivo basato sulla tecnologia di diffrazione dei raggi X. Viene utilizzato principalmente per misurare la distribuzione delle tensioni residue superficiali e prossime alla superficie in materiali come metalli e materie plastiche, combinando elevata precisione e adattabilità sul campo.
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Sistema di controllo PLC; design modulare, funzionamento semplice e prestazioni dell'apparecchiatura più stabili Design leggero: leggero, adatto per misurazioni rapide in loco; Misurazione ad alta precisione: controllo del sistema servo di azionamento vettoriale ad anello completamente chiuso ad alta precisione; Funzionamento semplice: sistema Windows integrato o funzioni di automazione, supporta test con un clic e visualizzazione dei risultati in tempo reale; Compatibilità multifunzionale: misurazione di acciaio al carbonio, acciaio legato, lega di titanio e altri metalli, vetro, materiali a base di nichel e vari materiali compositi; Ottimizzazione della velocità: il rilevatore line array a microstriscia di silicio multicanale può garantire prestazioni prive di rumore, misurazioni ad alta intensità e rapida acquisizione dei dati.
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1.XAFS è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali. 2. Campi di applicazione XAFS: catalisi industriale, nanomateriali, anche analisi della qualità, analisi degli elementi pesanti, ecc. 3. Vantaggi del prodotto XAFS: risoluzione ultra elevata (fino a 0,5 eV), modello di fluorescenza (basso contenuto di base posteriore alta), flusso luminoso ultra elevato, limiti di rilevamento ultra bassi (fino a 0,3-0,5%, 10.1039/D2CC05081A)
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