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Diffrattometro1. La precisione del diffrattometro è elevata. 2. Il campo di applicazione del diffrattometro è ampio. 3. Il diffrattometro è facile da usare, pratico ed efficiente.Di più- Diffrazione di raggi X su monocristallo1. La macchina per monocristalli adotta la tecnologia di controllo PLC. 2. Design modulare, accessori plug and play. 3. Apparecchiatura elettronica di interblocco per porte di piombo con doppia protezione. 4. Tubo a raggi X a cristallo singolo: è possibile selezionare una varietà di bersagli, come Cu, Mo, ecc. 5. Il monocristallo adotta una tecnologia concentrica a quattro cerchi per garantire che il centro di nessun goniometro rimanga invariato.Di più
- Analizzatore di cristalli a raggi X in serie1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.Di più
- Diffrattometro a polvere1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kWDi più
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Analizzatore di orientamento a raggi X
- Tongda
- Liaoning, Cina
- 1-2 mesi
- 100 unità all'anno
Introduzione all'analizzatore di orientamento a raggi X:
Lo strumento automatico di orientamento a raggi X utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per determinare con precisione e rapidità l'angolo di taglio di monocristalli naturali e artificiali (cristalli piezoelettrici, cristalli ottici, cristalli laser, cristalli semiconduttori). Abbinato alla macchina da taglio, può essere utilizzato per il taglio direzionale dei suddetti cristalli.Strumento automatico di orientamento a raggi Xè uno strumento indispensabile per la lavorazione di precisione e la produzione di dispositivi a cristallo.Strumento automatico di orientamento a raggi XÈ ampiamente utilizzato nella ricerca, nella lavorazione e nella produzione di materiali cristallini.
Vantaggi dell'analizzatore di orientamento a raggi X:
Tabella di esempio dell'analizzatore di orientamento a raggi X TA:
Progettato per adattarsi a cristalli a barra tonda, il supporto del campione è dotato di una guida di carico, con una capacità di misurazione da 1 a 30 kg e un diametro da 2 a 6 pollici (estensibile fino a 8 pollici), e di un dispositivo di aspirazione a vuoto. Questo tipo di goniometro misura la superficie di riferimento di un cristallo a forma di barra e anche la superficie di un wafer.
Tabella di esempio dell'analizzatore di orientamento a raggi X TB:
Progettato per adattarsi a cristalli a barra tonda, il supporto per il campione è dotato di una guida di carico e di una rotaia di supporto a V. Può misurare lingotti con un peso compreso tra 1 e 30 kg, un diametro tra 2 e 6 pollici (estensibile fino a 8 pollici) e una lunghezza di 500 mm. Un dispositivo di aspirazione a vuoto è fissato al supporto del campione. Questo tipo di goniometro misura la superficie terminale del cristallo a barra e anche la superficie del wafer.
Tabella di esempio dell'analizzatore di orientamento a raggi X TC:
Viene utilizzato principalmente per il rilevamento della superficie di riferimento circolare esterna di singoli wafer, come quelli di silicio e zaffiro. La posizione del ricevitore di raggi X sul disco di aspirazione adotta un design aperto, che supera il problema del blocco dei raggi X e del disallineamento da parte del disco di aspirazione, e soddisfa diverse specifiche. Grazie al rilevamento del bordo di riferimento, la pompa di aspirazione del supporto del campione può aspirare wafer da 2 a 8 pollici per rendere il rilevamento più preciso.
Tabella di esempio dell'analizzatore di orientamento a raggi X TD:
Utilizzato principalmente per la misurazione multipunto di wafer come quelli di silicio e zaffiro. Il wafer può essere ruotato manualmente sul supporto del campione, ad esempio di 0°, 90°, 180°, 270°, ecc., per soddisfare le esigenze di misurazione specifiche dei clienti.
Tongda dispone di un solido team di ricerca e sviluppo in grado di fornire soluzioni tecniche complete per le applicazioni di diffrazione a raggi X.
ADandong TongdaCrediamo che la trasparenza inizi dai dettagli. Per questo motivo, il nostro sito web ufficiale fornisce specifiche tecniche complete, dalle dimensioni e dal peso alla composizione dei materiali, offrendoti una comprensione approfondita delle capacità delle nostre apparecchiature.
Oltre alle specifiche tecniche, le certificazioni sono una garanzia di qualità e sicurezza. Siamo orgogliosi di possedere la certificazione ISO 9001 per il Sistema di Gestione della Qualità (vedi sotto), a testimonianza del nostro impegno verso gli standard internazionali in ogni fase del processo, dalla ricerca e sviluppo alla produzione. Stiamo inoltre lavorando attivamente per ottenere la conformità alle normative CE e RoHS, in modo che possiate scegliere Tongda con la massima tranquillità.