Gli accessori ad alta temperatura sono progettati per comprendere i cambiamenti nella struttura cristallina dei campioni durante il riscaldamento ad alta temperatura, nonché i cambiamenti nella dissoluzione reciproca di varie sostanze durante il riscaldamento ad alta temperatura.
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Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.
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La diffrazione a raggi X (XRD) consente una quantificazione precisa della fase di TiO2, fondamentale per la qualità del prodotto. I diffrattometri della serie TD di Dandong Tongda, dotati di programmi specializzati, garantiscono un'analisi accurata del rutilo/anatasio (<0.2% error).
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Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 eroga 1200 W di potenza in un design compatto, superando gli standard internazionali da 600 W. Con una linearità di ±0,01° e una ripetibilità di 0,0001°, consente un'analisi di fase precisa per la ricerca sui materiali e il controllo qualità industriale. Il suo sistema di raffreddamento integrato e la compatibilità con gli accessori globali lo rendono una soluzione ideale ed economica per i laboratori internazionali.
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L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF offre prestazioni eccezionali nell'analisi microstrutturale, supportando l'orientamento di singoli cristalli, il rilevamento di difetti e la misurazione delle sollecitazioni. Dotato di un design a tubo verticale con funzionamento multi-finestra e controllo PLC importato, garantisce elevata precisione e conformità alla sicurezza (radiazioni<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide
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Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. è un'azienda leader del settore, focalizzata su ricerca e sviluppo e innovazione in tecnologie chiave come l'analisi diffrattometrica. Attraverso collaborazioni accademiche, sviluppa prodotti ad alta efficienza con proprietà intellettuale indipendente, rompendo i monopoli internazionali. L'azienda fonda il proprio marchio su integrità e professionalità, aderendo al motto "L'eccellenza definisce lo standard, l'integrità costruisce il marchio" per migliorare la competitività e contribuire allo sviluppo dell'industria cinese degli strumenti scientifici.
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Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 offre prestazioni analitiche eccezionali grazie all'innovativa tecnologia di rilevamento e alla doppia modalità di scansione. Grazie alla rapida acquisizione dei dati, alla semplicità d'uso e alla maggiore sicurezza, consente un'analisi precisa dei materiali in applicazioni di ricerca e industriali, stabilendo nuovi standard per gli strumenti scientifici cinesi.
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Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 integra una generazione avanzata di raggi X, un'elevata precisione goniometrica e un rilevamento efficiente in un design compatto. Offre analisi di fase affidabili per la scienza dei materiali, il settore farmaceutico e il controllo qualità industriale, con supporto globale e certificazioni internazionali.
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Il diffrattometro a raggi X TD-5000 rompe il monopolio internazionale negli strumenti scientifici di fascia alta. Questa innovazione cinese offre una precisione eccezionale (accuratezza di 0,0001°) e capacità di rilevamento avanzate, al servizio dei ricercatori nei settori farmaceutico, della scienza dei materiali e della chimica attraverso analisi strutturali complete.
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L'accessorio ad alta temperatura in situ di Dandong Tongda consente l'analisi in tempo reale delle variazioni strutturali dei materiali fino a 1600 °C con una precisione di ±1 °C. Ideale per la ricerca su superconduttori, ceramiche e film sottili, è esportato in tutto il mondo.
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