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Tongda Science and Technology ha sviluppato il primo diffrattometro a raggi X per monocristalli in Cina (TD-5000). Offre diffrattometri, orientatori, analizzatori con robotica basata sull'intelligenza artificiale e controllo remoto. Il 30% del personale è dedicato alla ricerca e sviluppo e l'azienda detiene 23 brevetti. Esporta in tutto il mondo.

Guasti comuni degli XRD: spostamento del campione, calo della sensibilità del rivelatore, raffreddamento insufficiente, guasto del generatore, crash del software. Soluzioni: controllare il supporto/allineamento, pulire/calibrare il rivelatore, verificare il flusso del refrigerante, sostituire regolarmente il tubo a raggi X e il software.

Per ottenere dati XRD di alta qualità, è necessario mantenere e calibrare lo strumento, utilizzando parametri ottimali (lunghezza d'onda, velocità) in base al campione. Preparare un campione pulito, piatto e uniforme. Infine, utilizzare un software appropriato per un'analisi accurata dei dati.

Il sistema di diffrazione a raggi X TD-3500 garantisce elevata precisione e stabilità grazie al controllore industriale PLC Siemens e al goniometro θ-θ. Offre un funzionamento automatizzato e intuitivo ed è validato in settori come l'analisi del TiO₂, fornendo soluzioni affidabili per l'identificazione di fase e la misurazione delle sollecitazioni.

La scelta di un diffratore a raggi X richiede di bilanciare prestazioni (accuratezza, velocità), versatilità (tipologie di campioni) e usabilità con un valore a lungo termine. I fattori chiave includono l'affidabilità dello strumento, la sicurezza, il rapporto costo-efficacia (considerando sia il prezzo iniziale che i costi operativi) e un solido supporto da parte del fornitore, che comprende formazione, guida applicativa e assistenza locale. Prima dell'acquisto, è inoltre necessario valutare l'infrastruttura del laboratorio, confrontare le opzioni di mercato e pianificare futuri aggiornamenti e manutenzione.

I diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione analizzano i materiali catturando precisi pattern di diffrazione, rivelando la struttura cristallina, i parametri del reticolo, le posizioni degli atomi e la composizione chimica. Il processo prevede la preparazione del campione, la regolazione dello strumento, l'acquisizione del pattern e l'analisi dei dati, offrendo informazioni fondamentali per la ricerca e lo sviluppo dei materiali.

La nuova generazione di HR-XRD riduce il consumo energetico tramite aggiornamenti hardware, controlli intelligenti e gestione dell'intero ciclo di vita, mantenendo la precisione e riducendo al contempo costi ed emissioni per i laboratori ecologici.

Il TD-3700 è un diffrattometro a raggi X di nuova generazione dotato di un rivelatore array ad alta velocità per intensità di misura di decine di volte superiori e analisi rapide e prive di rumore. La sua modalità di trasmissione eccelle con campioni in tracce. Modulare e con comando one-touch, garantisce semplicità d'uso e conformità globale per diverse applicazioni di laboratorio in tutto il mondo.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta non solo il metodo di scansione dei dati di diffrazione convenzionale, ma anche il metodo di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione. Il rivelatore array sfrutta completamente la tecnologia di conteggio dei fotoni misti, senza rumore, acquisizione dati veloce e velocità oltre dieci volte superiore a quella dei rivelatori a scintillazione. Ha un'eccellente risoluzione energetica e può rimuovere efficacemente gli effetti di fluorescenza. I rivelatori multicanale hanno tempi di lettura più rapidi e raggiungono migliori rapporti segnale/rumore. Un sistema di controllo del rivelatore con gating elettronico e trigger esterno completa efficacemente la sincronizzazione del sistema. Il principio di funzionamento del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Utilizzando la fluttuazione dei raggi X, quando vengono irradiati su un cristallo, gli atomi o gli ioni nel cristallo agiscono come centri di diffusione, diffondendo i raggi X in tutte le direzioni. A causa della regolarità della disposizione atomica nei cristalli, queste onde diffuse interferiscono tra loro e si rinforzano a vicenda in determinate direzioni, formando diffrazione. Misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità di diffrazione, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo. Le caratteristiche principali del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 sono: (1) Sistema di raccolta facile da usare, con un clic; (2) Design modulare, accessori per strumenti plug and play, nessuna necessità di calibrazione; (3) Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen per visualizzare lo stato dello strumento; (4) Dispositivo elettronico di interblocco della porta principale, doppia protezione, per garantire la sicurezza dell'utente; (5) Generatore di raggi X ad alta frequenza e ad alta tensione, con prestazioni stabili e affidabili; (6) Unità di controllo di registrazione avanzata con forte capacità anti-interferenza. L'elevata precisione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente un'analisi ad alta precisione della struttura cristallina dei materiali, come la determinazione precisa delle costanti reticolari, dei parametri cellulari, ecc. La precisione della misurazione dell'angolo può raggiungere ±0,0001°. L'elevata risoluzione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente di distinguere chiaramente i picchi di diffrazione adiacenti, analizzare accuratamente le informazioni di diffrazione di diversi piani cristallini per strutture cristalline complesse e rivelare le caratteristiche microstrutturali dei materiali. La natura non distruttiva del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: non danneggia il campione durante il processo di analisi e può essere mantenuto nello stato originale per più analisi, il che è particolarmente importante per campioni preziosi o difficili da reperire. Analisi rapida del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: i moderni diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione hanno capacità di rilevamento rapide e possono completare i test dei campioni in un breve lasso di tempo, migliorando l'efficienza del lavoro. 3. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Materiali semiconduttori: utilizzati per rilevare la qualità cristallina dei materiali monocristallini semiconduttori e dei film sottili epitassici, analizzare le discrepanze reticolari, i difetti e altre informazioni, che aiutano a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi semiconduttori. Materiali superconduttori: studiare la struttura cristallina e il processo di transizione di fase dei materiali superconduttori per fornire una base per l'ottimizzazione delle proprietà superconduttive. Nanomateriali: l'analisi della granulometria, della struttura cristallina, della deformazione microscopica, ecc. dei nanomateriali aiuta i ricercatori a comprenderne meglio le proprietà e le applicazioni. Altri campi: è anche ampiamente utilizzato nella ricerca e nel controllo qualità di materiali metallici, materiali ceramici, materiali polimerici, biomateriali e altri campi. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione è uno strumento analitico ad alta precisione, ad alta risoluzione, non distruttivo e veloce con un importante valore applicativo in molti campi.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 offre prestazioni analitiche eccezionali grazie all'innovativa tecnologia di rilevamento e alla doppia modalità di scansione. Grazie alla rapida acquisizione dei dati, alla semplicità d'uso e alla maggiore sicurezza, consente un'analisi precisa dei materiali in applicazioni di ricerca e industriali, stabilendo nuovi standard per gli strumenti scientifici cinesi.