



I diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione analizzano i materiali catturando precisi pattern di diffrazione, rivelando la struttura cristallina, i parametri del reticolo, le posizioni degli atomi e la composizione chimica. Il processo prevede la preparazione del campione, la regolazione dello strumento, l'acquisizione del pattern e l'analisi dei dati, offrendo informazioni fondamentali per la ricerca e lo sviluppo dei materiali.
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