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  • Diffrattometro
    Diffrattometro
    1. La precisione del diffrattometro è elevata. 2. Il campo di applicazione del diffrattometro è ampio. 3. Il diffrattometro è facile da usare, comodo ed efficiente.
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  • Diffrazione di raggi X su monocristallo
    Diffrazione di raggi X su monocristallo
    1. La macchina per monocristalli adotta la tecnologia di controllo PLC. 2. Design modulare, accessori plug and play. 3. Apparecchiatura elettronica di interblocco per porte di piombo con doppia protezione. 4. Tubo a raggi X a cristallo singolo: è possibile selezionare una varietà di bersagli, come Cu, Mo, ecc. 5. Il monocristallo adotta una tecnologia concentrica a quattro cerchi per garantire che il centro di nessun goniometro rimanga invariato.
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  • Analizzatore di cristalli a raggi X in serie
    Analizzatore di cristalli a raggi X in serie
    1. Lo strumento a raggi X è facile da usare e veloce nel rilevamento. 2. Lo strumento a raggi X è preciso e affidabile, con prestazioni eccellenti. 3. Lo strumento a raggi X dispone di vari accessori funzionali per soddisfare le esigenze di diverse finalità di analisi.
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  • Diffrattometro a polvere
    Diffrattometro a polvere
    1. Tipo di rilevatore: rilevatore array o rilevatore SDD; 2. Calcolo del controllo automatico del PLC, conversione della modalità di integrazione, il PLC esegue automaticamente PHA, correzione del tempo morto 3. Tipo di misurazione del campione: campione di polvere, campioni liquidi, campioni allo stato fuso, campioni viscosi, polveri sciolte, campioni solidi sfusi 4. Disponibile con una varietà di accessori per diffrattometri 5.Potenza massima in polvere: 3 kW
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  • Misurazioni accurate, intuizioni straordinarie

    Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.

    Assorbimento dei raggi X Struttura fineHAFSSpettro di struttura fine dell'assorbimento dei raggi XE-mailDi più
    Misurazioni accurate, intuizioni straordinarie
  • La chiave per scoprire il mondo microscopico della materia

    Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è uno strumento analitico utilizzato per studiare la struttura e le proprietà delle sostanze. XAFS ottiene informazioni su atomi e molecole in un campione misurando l'assorbimento dei raggi X del campione entro un intervallo di energia specifico. XAFS è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali. La tecnologia XAFS è ampiamente utilizzata nella scienza dei materiali, nella chimica, nella biologia e in altri campi, in particolare in aree di ricerca come catalisi, batterie, sensori, ecc. XAFS ha un importante valore applicativo. Attraverso la tecnologia XAFS, i ricercatori possono acquisire una comprensione più approfondita della microstruttura e delle proprietà dei campioni, fornendo un potente supporto per la progettazione e l'ottimizzazione di nuovi materiali.

    Assorbimento dei raggi X Struttura fineHAFSSpettro di struttura fine dell'assorbimento dei raggi XE-mailDi più
    La chiave per scoprire il mondo microscopico della materia
  • Perché lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è uno strumento indispensabile nella moderna scienza dei materiali?

    Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. I principali vantaggi di XAFS: Prodotto di flusso luminoso più elevato: Flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV, con efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottieni una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone Ottima stabilità: La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica durante la raccolta ripetuta è inferiore a 50 meV Limite di rilevamento dell'1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

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