Lo strumento di orientamento automatico a raggi X è uno strumento indispensabile per l'elaborazione di precisione e la produzione di dispositivi a cristalli. È ampiamente utilizzato nella ricerca, lavorazione e produzione di materiali cristallini.

Negli ultimi 10 anni, l'Istituto di Fisica dell'Accademia Cinese delle Scienze ha utilizzato il metodo della diffrazione delle polveri per determinare la struttura cristallina di molti composti organici e inorganici.

Il rilevatore di raggi X è un dispositivo utilizzato per rilevare i raggi X, che ha una vasta gamma di applicazioni in medicina, scienza e industria. I rilevatori di raggi X convertono i raggi X in segnali elettrici per l'elaborazione digitale e l'imaging.

I raggi X hanno una lunghezza d'onda corta e un'energia elevata e possono penetrare gli oggetti per osservare direttamente i difetti interni. Molto apprezzato nel campo dei controlli non distruttivi. Esiste infatti anche un’altra funzione molto utilizzata, ovvero il rilevamento di corpi estranei.

I test non distruttivi (NDT) sono un tipo di metodo di test ampiamente utilizzato in vari settori, ampiamente apprezzato per l'elevata precisione, l'effetto di imaging ad alta risoluzione e la velocità di rilevamento rapida ed efficiente.

La composizione del modello di diffrazione è principalmente la posizione e l'intensità del picco di diffrazione e la nostra analisi del modello XRD si basa sui cambiamenti nell'intensità e nella posizione per spiegare i cambiamenti nel micro e macro del materiale.

SBA-15 è una sorta di setaccio molecolare mesoporoso e la sua sintesi è un'altra importante tecnologia chimica emergente negli ultimi anni.

Al giorno d'oggi, la tecnologia di imaging a raggi X ha formato un sistema tecnologico di test non distruttivi a raggi X relativamente completo. Vengono innovate anche nuove tecnologie di rilevamento, utilizzando la tecnologia di rilevamento online a raggi X.

L'incidenza radente significa che i raggi X sono esposti alla pellicola con un angolo di incidenza molto piccolo (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

L'XRD a fascio parallelo di cristalli ottici a raggi X è stato applicato con successo nell'analisi di film sottili, nella valutazione della struttura del campione, nel monitoraggio della fase cristallina e della struttura, ecc.