Un diffrattometro a raggi X a cristallo singolo rivela la struttura atomica tridimensionale analizzando i modelli di diffrazione dei raggi X (legge di Bragg). Attraverso la raccolta dati, la trasformata di Fourier e il perfezionamento del modello, genera mappe di densità elettronica per determinare le configurazioni molecolari.

Un monocristallo di qualità per la diffrazione dei raggi X richiede la scelta ottimale del solvente (solubilità/volatilità moderata), un metodo di crescita appropriato (evaporazione/diffusione), un'elevata purezza del campione e un ambiente privo di vibrazioni per garantire una morfologia ben definita e difetti minimi.

Questo articolo descrive in dettaglio una strategia completa a tre punte per eliminare l'interferenza di diffrazione di ordine superiore nell'analisi di raggi X su cristallo singolo. I metodi prevedono la filtrazione hardware alla sorgente mediante monocromatori e fenditure, l'ottimizzazione dei parametri durante la raccolta dei dati per sopprimere la rilevazione e algoritmi software di correzione degli effetti residui nell'elaborazione dei dati. Questo approccio combinato garantisce una determinazione della struttura cristallina ad alta precisione controllando gli errori di intensità.