La diffrazione dei raggi X (XRD) è un mezzo di ricerca per ottenere informazioni come la composizione di un materiale, la struttura o la forma di un atomo o una molecola interna analizzando il suo modello di diffrazione attraverso la diffrazione dei raggi X.

Utilizzando il principio della diffrazione dei raggi X, l'angolo di taglio dei singoli cristalli naturali e artificiali viene determinato in modo accurato e rapido e la macchina da taglio è attrezzata per il taglio direzionale di detti cristalli.

La fluorescenza a raggi X a riflessione totale (TXRF) è una tecnica di analisi degli elementi di superficie comunemente utilizzata per analizzare particelle, residui e impurità su superfici lisce.

L'analizzatore di cristalli a raggi X è una sorta di grande strumento analitico per lo studio della microstruttura interna delle sostanze, utilizzato principalmente nell'orientamento del singolo cristallo, nel rilevamento dei difetti, nella determinazione dello stress residuo, nella dislocazione del singolo cristallo e così via.

La diffrazione di raggi X è il mezzo più efficace e più utilizzato, e la diffrazione di raggi X è il primo metodo utilizzato dall'uomo per studiare la microstruttura della materia.