Dandong Tongda Technology Co., Ltd. è una impresa professionale che produce prodotti a raggiX. Il suo prodotto principale è strumenti a raggiX analisi, e nel 2013, è diventato il progetto impresario per la Nazionale Maggiore Scientifico Strumento e Attrezzature Sviluppo Speciale Raggi X Singolo Cristallo Diffrazione Strumento del Ministero della Scienza e della Tecnologia della Cina. La nostra azienda a adere ai principi del cliente primo, prodotto primo, e servizio primo, insiste sul orientamento alle persone, e ha a forte team tecnologico. Siamo impegnati a fornire agli utenti i prodotti high-tech della più alta qualità con tecnologia avanzata, e fornire un forte supporto e servizi a gli utenti con efficienti istituti di consulenza tecnica e di servizio postvendita.

La diffrazione dei raggi X è una tecnica di base per lo studio della struttura solida, che può fornire informazioni spettrali uniche per la composizione chimica e la disposizione strutturale dei campioni.

Gli scienziati guidati da NTU Singapore hanno sviluppato e simulato un nuovo metodo di risparmio energetico in grado di produrre raggi X altamente focalizzati e finemente controllati che sono mille volte più potenti dei metodi convenzionali.

L'intensità dei raggi X dei test non distruttivi in ​​un punto dello spazio è la somma del numero di fotoni e del prodotto energetico su un'unità di area perpendicolare alla direzione di propagazione dei raggi X nell'unità di tempo.

Nell'analisi a raggi X, uno strumento utilizzato per misurare l'angolo tra un fascio di raggi X incidente e un fascio di raggi X diffratti. Il diffrattometro mappa automaticamente la variazione dell'intensità di diffrazione con l'angolo 2θ.

Il diffrattometro a raggi X policristallino, noto anche come diffrattometro per polveri, viene solitamente utilizzato per misurare materiali sfusi in polvere, metalli policristallini o polimeri.

Le condizioni di potenza dipendono dal tubo a raggi X come materiale target e dal tipo di messa a fuoco. Sebbene i target di Cu siano ampiamente utilizzati per la diffrazione, l'uso di target di Cu per l'analisi dell'austenite residua non è raccomandato a causa della forte fluorescenza dei materiali a base di ferro.

Mediante la diffrazione dei raggi X del materiale e l'analisi del suo modello di diffrazione, si ottengono informazioni come la composizione del materiale, la struttura o la morfologia degli atomi o delle molecole interni.

La diffrazione dei raggi X (XRD) è un mezzo di ricerca per ottenere informazioni come la composizione di un materiale, la struttura o la forma di un atomo o una molecola interna analizzando il suo modello di diffrazione attraverso la diffrazione dei raggi X.

Utilizzando il principio della diffrazione dei raggi X, l'angolo di taglio dei singoli cristalli naturali e artificiali viene determinato in modo accurato e rapido e la macchina da taglio è attrezzata per il taglio direzionale di detti cristalli.

La fluorescenza a raggi X a riflessione totale (TXRF) è una tecnica di analisi degli elementi di superficie comunemente utilizzata per analizzare particelle, residui e impurità su superfici lisce.