L'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è uno strumento specializzato per l'analisi della diffrazione dei raggi X, che filtra più linee sparse aumentando la lunghezza della piastra reticolare, riducendo così l'influenza del segnale del substrato sui risultati e migliorando l'intensità del segnale della pellicola sottile. Nel campo della scienza dei materiali, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è comunemente utilizzato per studiare la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e lo stato di stress dei materiali della pellicola sottile. Con lo sviluppo della nanotecnologia, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è stato ampiamente utilizzato anche nei test di spessore e nell'analisi della diffrazione a piccolo angolo di pellicole multistrato nano. La progettazione e la produzione dell'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela perseguono un'elevata precisione per soddisfare i requisiti della ricerca scientifica e della produzione industriale per l'accuratezza dei dati. Durante l'uso, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela deve mantenere un elevato grado di stabilità per garantire l'affidabilità dei risultati dei test. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, la domanda di strumenti analitici ad alta precisione e alta stabilità è in costante aumento. Anche gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela, in quanto componente importante, stanno vivendo una crescita sostenuta della domanda di mercato. Per soddisfare la domanda di mercato e migliorare le prestazioni del prodotto, la tecnologia degli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela è in continua innovazione e miglioramento. Ad esempio, il miglioramento del materiale e del design delle piastre reticolari, l'ottimizzazione del sistema ottico e altri mezzi possono migliorare l'effetto di filtraggio e la capacità di potenziamento del segnale. In sintesi, gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela svolgono un ruolo cruciale nell'analisi della diffrazione dei raggi X. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, le sue prospettive di applicazione diventeranno ancora più ampie.

Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi speciali utilizzati negli esperimenti di diffrazione a raggi X (XRD), principalmente per misurare i picchi di diffrazione nell'intervallo di angoli bassi per studiare la microstruttura e le proprietà dei materiali. Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi specializzati per diffrattometri a raggi X che consentono misurazioni di diffrazione precise entro un intervallo di angoli inferiore a 2θ (tipicamente da 0° a 5° o inferiore). Questa tecnologia è di grande importanza per lo studio di nanostrutture, materiali mesoporosi, pellicole multistrato e altri materiali. Configurando i corrispondenti accessori per diffrattometri ad angolo piccolo, è possibile misurare con precisione lo spessore delle pellicole multistrato nano. Nel complesso, gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono un componente indispensabile e importante dei diffrattometri a raggi X, con ampie prospettive di applicazione nella scienza dei materiali, chimica, fisica e altri campi.

Gli accessori in fibra vengono testati per la loro struttura cristallina unica utilizzando il metodo di diffrazione dei raggi X (trasmissione). Testare l'orientamento del campione in base a dati quali cristallinità della fibra e larghezza di metà picco. Gli accessori in fibra trovano ampia applicazione in vari campi, tra cui la scienza dei materiali, la biomedicina, l'ingegneria chimica, la nanotecnologia, l'esplorazione geologica, il monitoraggio ambientale e molto altro.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700, con tutti i vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500, è dotato di un rivelatore array ad alte prestazioni. Rispetto ai rivelatori a scintillazione o ai rivelatori proporzionali, l'intensità di calcolo della diffrazione può essere aumentata di diverse decine di volte e si possono ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e una maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta sia la scansione dei dati di diffrazione convenzionali che i metodi di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione.

Utilizzando il metodo di diffrazione (trasmissione) dei raggi X per testare la struttura cristallina unica delle fibre. Testare l'orientamento del campione in base a dati quali la struttura delle fibre e la larghezza di metà picco.

L'uso della tecnica dei quattro cerchi concentrici assicura che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente da qualsiasi rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e una maggiore completezza. Quattro cerchi concentrici sono una condizione necessaria per la scansione convenzionale a cristallo singolo.

Il diffrattometro a raggi X viene utilizzato principalmente per l'analisi qualitativa e quantitativa di fase, l'analisi della struttura cristallina, l'analisi della struttura del materiale, l'analisi dell'orientamento dei cristalli, la determinazione dello stress macroscopico o microscopico, la determinazione della dimensione del grano, la determinazione della cristallinità, ecc. Di campioni di polvere, blocco o pellicola.

L'uso del rilevatore di pixel ibrido può ottenere la migliore qualità dei dati garantendo al contempo un basso consumo energetico e un basso raffreddamento. Questo rilevatore combina le tecnologie chiave del conteggio di singoli fotoni e dei pixel ibridi, ed è applicato in vari campi come la radiazione di sincrotrone e le sorgenti luminose convenzionali da laboratorio, eliminando efficacemente l'interferenza del rumore di lettura e della corrente oscura. La tecnologia dei pixel ibridi può rilevare direttamente i raggi X, rendendo più facile distinguere i segnali, e il rilevatore può fornire in modo efficiente dati di alta qualità.

Lo strumento di misurazione dell'angolo multifunzionale ad alta precisione di Tongda Technology è in grado di misurare non solo campioni di polvere convenzionali, ma anche di testare campioni liquidi, colloidali, viscosi, polveri sciolte e campioni solidi di grandi dimensioni.

Il goniometro è il cuore del diffrattometro a raggi X e il diffrattometro a raggi X della serie TD ha una precisione di misurazione estremamente elevata

Il goniometro è il cuore del diffrattometro a raggi X e il diffrattometro a raggi X della serie TD ha una precisione di misurazione estremamente elevata

Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per l'analisi qualitativa o quantitativa delle fasi del campione, l'analisi della struttura cristallina, la determinazione della cristallinità, ecc. Vari accessori funzionali speciali e il software di controllo e applicazione corrispondente possono essere installati in base alle effettive esigenze per formare un sistema di diffrazione con funzioni speciali. Il diffrattometro a raggi X è uno strumento analitico di laboratorio ad alta precisione.