L'accessorio per la diffrazione a piccolo angolo è un componente specializzato utilizzato negli strumenti di diffrazione dei raggi X, principalmente per l'analisi della struttura e dello spessore dei materiali su scala nanometrica. 1. Funzioni principali degli accessori per la diffrazione a piccolo angolo (1) Intervallo di angolo di diffrazione: copre un piccolo intervallo di angoli da 0 ° a 5 °, adatto per l'analisi di diffrazione di materiali su scala nanometrica. (2) Applicazione principale: può testare con precisione lo spessore dei film multistrato nano e supportare lo studio della superficie del materiale o della struttura dell'interfaccia. 2. Dispositivi compatibili per attacchi a diffrazione a piccolo angolo Questo accessorio viene solitamente utilizzato insieme ai diffrattometri a raggi X (come TD-3500, TD-3700, TDM-20, ecc.). 3. Scenari applicativi degli attacchi a diffrazione a piccolo angolo (1) Scienza dei materiali: caratterizzazione delle strutture dei nanofilm e dei film multistrato. (2) Chimica e ingegneria chimica: trattamento superficiale dei materiali, test dello spessore del rivestimento. (3) Altri campi: analisi su scala nanometrica di materiali quali geologia, minerali, ceramiche e prodotti farmaceutici. 4. Informazioni sul produttore Dandong Tongda Technology Co., Ltd. è il principale produttore di questo tipo di accessorio e i suoi strumenti analitici della serie TD sono stati menzionati come strumenti che si stanno avvicinando o raggiungendo gli standard internazionali, esportati in paesi come gli Stati Uniti e l'Azerbaigian. In generale, gli accessori per la diffrazione a piccolo angolo sono strumenti chiave per l'analisi dei nanomateriali e la misurazione dello spessore di film sottili e devono essere utilizzati in combinazione con strumenti specializzati per la diffrazione a raggi X. I loro scenari applicativi si concentrano in settori all'avanguardia come la scienza dei materiali e l'ingegneria chimica.

Lo strumento di diffrazione dei raggi X da tavolo TDM-10 è uno strumento utilizzato per analizzare la struttura di fase dei materiali e può essere dotato di rivelatori a scintillazione/proporzionali/lineari. 1. Principio di funzionamento della strumentazione di diffrazione dei raggi X desktop TDM-10: in base alla legge di Bragg, quando un fascio di raggi X monocromatici incide su un cristallo, se la condizione di diffrazione di Bragg è soddisfatta (n λ=2dsin θ, dove λ è la lunghezza d'onda dei raggi X, d è la spaziatura interplanare e θ è l'angolo di incidenza), gli atomi o le molecole nel cristallo si disperderanno e interferiranno con i raggi X, formando uno specifico schema di diffrazione. Misurando l'intensità di diffrazione a diversi angoli, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo. 2. Caratteristiche della strumentazione di diffrazione dei raggi X da tavolo TDM-10: L'elevata risoluzione di uno strumento di diffrazione dei raggi X da tavolo consente una misurazione precisa della struttura cristallina delle sostanze, il che è fondamentale per studiare miscele complesse o per la ricerca di fasi policristalline e in tracce a basso contenuto. Analisi non distruttiva della strumentazione di diffrazione dei raggi X da tavolo: durante il processo di test, il campione non subirà danni e potrà rimanere nel suo stato originale per ulteriori test o utilizzi. Il funzionamento delle apparecchiature da tavolo per la diffrazione di raggi X su polvere è semplice: le moderne apparecchiature da tavolo per la diffrazione di raggi X su polvere solitamente dispongono di funzioni di automazione e intelligenza, rendendo il funzionamento più comodo e riducendo i requisiti di conoscenze e competenze professionali dell'operatore. Versatilità dell'apparecchiatura da tavolo per la diffrazione dei raggi X su polvere: l'apparecchiatura per la diffrazione dei raggi X su polvere può eseguire varie analisi, come l'analisi qualitativa e quantitativa di fase, l'analisi delle costanti reticolari, l'analisi delle sollecitazioni, ecc. 3. Parametri tecnici dell'apparecchiatura di diffrazione di raggi X in polvere da tavolo TDM-10: La macchina per la diffrazione dei raggi X da tavolo ha un volume ridotto; l'alimentazione ad alta frequenza e alta tensione riduce il consumo energetico complessivo della macchina; Può calibrare e testare rapidamente i campioni; Controllo del circuito semplice, facile da eseguire il debug e l'installazione; La precisione della misurazione della posizione del picco di diffrazione è di 0,001°; Rilevatore: scintillazione, proporzionale, array lineare; Gamma di 2 θ:- 10°~150° Potenza: 600 W; Tensione massima: 40 kV; Corrente massima: 15 mA; Tubi a raggi X: tubi in ceramica corrugata, tubi in metallo-ceramica, tubi in vetro. 4. Campi di applicazione della macchina per diffrazione dei raggi X da tavolo TDM-10: Scienza dei materiali: utilizzata per studiare la struttura cristallina, la composizione di fase, la granulometria, la cristallinità, ecc. di metalli, ceramiche, semiconduttori e altri materiali, aiutando gli scienziati dei materiali a comprendere le proprietà e le caratteristiche dei materiali. Nel campo della chimica, la macchina per la diffrazione dei raggi X può essere utilizzata nell'industria di produzione di catalizzatori, cemento, prodotti farmaceutici e altri prodotti per identificare fasi in campioni sconosciuti, nonché per analizzare quantitativamente fasi note in campioni misti. Geologia: esecuzione di analisi di fase su minerali, rocce, ecc. per determinarne la composizione e la struttura minerale. Scienze ambientali: utilizzate per analizzare la composizione minerale e le forme di inquinanti in campioni ambientali come suolo e sedimenti. Industria alimentare: rilevamento di componenti cristallini, additivi, ecc. negli alimenti. Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-10 è un potente strumento analitico con importanti applicazioni in molteplici campi.

Gli accessori in fibra vengono testati per la loro struttura cristallina unica utilizzando il metodo di diffrazione dei raggi X (trasmissione). Testare l'orientamento del campione in base a dati quali la consistenza della fibra e la larghezza di metà picco.

Gli accessori in fibra vengono testati per la loro struttura cristallina unica utilizzando il metodo di diffrazione dei raggi X (trasmissione). Testare l'orientamento del campione in base alla cristallinità della fibra e alla larghezza di metà picco delle fibre. Questo tipo di accessorio è solitamente installato su un diffrattometro grandangolare e viene utilizzato principalmente per studiare la consistenza di film sottili sul substrato, eseguire il rilevamento della fase cristallina, l'orientamento, il test di stress e altri test.

L'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è uno strumento specializzato per l'analisi della diffrazione dei raggi X, che filtra più linee sparse aumentando la lunghezza della piastra reticolare, riducendo così l'influenza del segnale del substrato sui risultati e migliorando l'intensità del segnale della pellicola sottile. Nel campo della scienza dei materiali, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è comunemente utilizzato per studiare la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e lo stato di stress dei materiali della pellicola sottile. Con lo sviluppo della nanotecnologia, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è stato ampiamente utilizzato anche nei test di spessore e nell'analisi della diffrazione a piccolo angolo di pellicole multistrato nano. La progettazione e la produzione dell'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela perseguono un'elevata precisione per soddisfare i requisiti della ricerca scientifica e della produzione industriale per l'accuratezza dei dati. Durante l'uso, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela deve mantenere un elevato grado di stabilità per garantire l'affidabilità dei risultati dei test. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, la domanda di strumenti analitici ad alta precisione e alta stabilità è in costante aumento. Anche gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela, in quanto componente importante, stanno vivendo una crescita sostenuta della domanda di mercato. Per soddisfare la domanda di mercato e migliorare le prestazioni del prodotto, la tecnologia degli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela è in continua innovazione e miglioramento. Ad esempio, il miglioramento del materiale e del design delle piastre reticolari, l'ottimizzazione del sistema ottico e altri mezzi possono migliorare l'effetto di filtraggio e la capacità di potenziamento del segnale. In sintesi, gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela svolgono un ruolo cruciale nell'analisi della diffrazione dei raggi X. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, le sue prospettive di applicazione diventeranno ancora più ampie.

Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi speciali utilizzati negli esperimenti di diffrazione a raggi X (XRD), principalmente per misurare i picchi di diffrazione nell'intervallo di angoli bassi per studiare la microstruttura e le proprietà dei materiali. Gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono dispositivi specializzati per diffrattometri a raggi X che consentono misurazioni di diffrazione precise entro un intervallo di angoli inferiore a 2θ (tipicamente da 0° a 5° o inferiore). Questa tecnologia è di grande importanza per lo studio di nanostrutture, materiali mesoporosi, pellicole multistrato e altri materiali. Configurando i corrispondenti accessori per diffrattometri ad angolo piccolo, è possibile misurare con precisione lo spessore delle pellicole multistrato nano. Nel complesso, gli accessori per diffrattometri ad angolo piccolo sono un componente indispensabile e importante dei diffrattometri a raggi X, con ampie prospettive di applicazione nella scienza dei materiali, chimica, fisica e altri campi.

Gli accessori in fibra vengono testati per la loro struttura cristallina unica utilizzando il metodo di diffrazione dei raggi X (trasmissione). Testare l'orientamento del campione in base a dati quali cristallinità della fibra e larghezza di metà picco. Gli accessori in fibra trovano ampia applicazione in vari campi, tra cui la scienza dei materiali, la biomedicina, l'ingegneria chimica, la nanotecnologia, l'esplorazione geologica, il monitoraggio ambientale e molto altro.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700, con tutti i vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500, è dotato di un rivelatore array ad alte prestazioni. Rispetto ai rivelatori a scintillazione o ai rivelatori proporzionali, l'intensità di calcolo della diffrazione può essere aumentata di diverse decine di volte e si possono ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e una maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta sia la scansione dei dati di diffrazione convenzionali che i metodi di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione.

Utilizzando il metodo di diffrazione (trasmissione) dei raggi X per testare la struttura cristallina unica delle fibre. Testare l'orientamento del campione in base a dati quali la struttura delle fibre e la larghezza di metà picco.

L'uso della tecnica dei quattro cerchi concentrici assicura che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente da qualsiasi rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e una maggiore completezza. Quattro cerchi concentrici sono una condizione necessaria per la scansione convenzionale a cristallo singolo.

Il diffrattometro a raggi X viene utilizzato principalmente per l'analisi qualitativa e quantitativa di fase, l'analisi della struttura cristallina, l'analisi della struttura del materiale, l'analisi dell'orientamento dei cristalli, la determinazione dello stress macroscopico o microscopico, la determinazione della dimensione del grano, la determinazione della cristallinità, ecc. Di campioni di polvere, blocco o pellicola.

L'uso del rilevatore di pixel ibrido può ottenere la migliore qualità dei dati garantendo al contempo un basso consumo energetico e un basso raffreddamento. Questo rilevatore combina le tecnologie chiave del conteggio di singoli fotoni e dei pixel ibridi, ed è applicato in vari campi come la radiazione di sincrotrone e le sorgenti luminose convenzionali da laboratorio, eliminando efficacemente l'interferenza del rumore di lettura e della corrente oscura. La tecnologia dei pixel ibridi può rilevare direttamente i raggi X, rendendo più facile distinguere i segnali, e il rilevatore può fornire in modo efficiente dati di alta qualità.