Il diffrattometro a raggi X TD-3500XRD (TD-3500XRD) è uno strumento analitico ad alte prestazioni prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Viene utilizzato principalmente per l'analisi della struttura cristallina, della composizione di fase e delle proprietà dei materiali. 1. Parametri tecnici principali del diffrattometro a raggi X TD-3500 La sorgente di raggi X del diffrattometro TD-3500: Offre la selezione di materiali target CuKα o MoKα, con un intervallo di tensione del tubo regolabile da 10 a 60 kV e un intervallo di corrente del tubo da 2 a 80 mA, supportando generatori a stato solido ad alta frequenza e alta tensione o generatori a frequenza di rete. Dotato di un sistema di controllo PLC Siemens importato, consente la commutazione automatica del gate luminoso, la regolazione della pressione/flusso del tubo e le funzioni di addestramento del tubo radiogeno con elevata stabilità. Sistema di misura dell'angolo del diffrattometro a raggi X TD-3500: Adottando una struttura verticale θ -2 θ con un raggio del cerchio di diffrazione di 185 mm (regolabile a 285 mm), supporta l'analisi di campioni liquidi, sol, polveri e blocchi. La risoluzione angolare raggiunge 0,0001 gradi, la precisione del passo è di 0,0001 gradi e l'intervallo di misurazione dell'angolo è compreso tra -5° e 165° (2 θ), ideale per l'analisi cristallina ad alta precisione. Rilevatore del diffrattometro a raggi X TD-3500: Rivelatore proporzionale (PC) o a scintillazione (SC) opzionale, con un intervallo lineare di conteggio ≥ 700.000 cps e rumore di fondo ≤ 1 cps. Dotato di tecnologia monocromatore a doppio cristallo, che sopprime efficacemente la componente Kα2 e migliora la monocromaticità della radiazione. Controllo e software del diffrattometro a raggi X TD-3500: Un sistema di interazione uomo-macchina basato su PLC importato e touch screen a colori reali, che supporta l'impostazione dei parametri, il monitoraggio in tempo reale e la diagnosi dei guasti. Il software è dotato di funzioni quali l'abbinamento dei diagrammi di fase, l'analisi delle sollecitazioni e il calcolo delle dimensioni dei grani, e può generare report standardizzati. 2. Caratteristiche tecniche e vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500 Elevata precisione e stabilità del diffrattometro a raggi X TD-3500: Lo strumento di misura dell'angolo adotta cuscinetti importati ad alta precisione e un sistema di servoazionamento a circuito completamente chiuso, con correzione automatica degli errori di movimento e una ripetibilità superiore a 0,0006°. Il design modulare del PLC offre una forte capacità anti-interferenza, supporta un funzionamento a lungo termine senza guasti e può essere ampliato con molteplici accessori funzionali. Sicurezza e protezione del diffrattometro a raggi X TD-3500: Il dispositivo elettronico di interblocco della porta principale offre una doppia protezione, con la porta principale e la porta principale interbloccate per garantire un funzionamento sicuro. Dotato di un sistema di raffreddamento ad acqua circolante (diviso o integrato), controlla automaticamente la temperatura dell'acqua e monitora la temperatura del tubo radiogeno per evitarne l'ostruzione. Funzionamento intelligente del diffrattometro a raggi X TD-3500: Il touch screen visualizza lo stato dello strumento in tempo reale, supporta l'impostazione dei parametri (come intervallo di scansione, passo di misura, tempo di campionamento) e la diagnosi remota dei guasti. Sono disponibili modalità di scansione preimpostate (θ -2 θ, diffrazione monocristallina, analisi di film sottili) per soddisfare diverse esigenze di campionamento. 3. Le principali aree di applicazione del diffrattometro a raggi X TD-3500 Analisi dei materiali del diffrattometro a raggi X TD-3500: Analisi qualitativa/quantitativa delle fasi, identificazione della struttura cristallina, determinazione della dimensione del grano e della cristallinità. Composizione di fase e analisi delle sollecitazioni di materiali quali semiconduttori, ceramiche, metalli, polimeri, ecc. Esperimento di ricerca del diffrattometro a raggi X TD-3500: Analisi dell'orientamento delle pellicole, ricerca sulla transizione di fase dei materiali dei catalizzatori/batterie e caratterizzazione delle strutture dei nanomateriali. Cristalli biologici, misurazione dello stress macroscopico/microscopico e analisi dell'evoluzione della temperatura dei materiali (che richiede l'uso di un analizzatore termico). Caso d'uso tipico del diffrattometro a raggi X TD-3500: Università di Tecnologia di Wuhan (ricerca sulla struttura di nuovi materiali), Istituto di Tecnologia di Pechino (ricerca sulla trasformazione di fase di ossido semiconduttore), Università di Tongji (analisi della struttura delle leghe di titanio), ecc. 4. Punti chiave per il funzionamento e la manutenzione del diffrattometro a raggi X TD-3500 Processo di funzionamento del diffrattometro a raggi X TD-3500: Avviare e preriscaldare per 10-15 minuti → Preparazione e fissaggio del campione → Impostare i parametri di scansione (come intervallo 2θ, ampiezza del passo, pressione/flusso del tubo) → Avviare la scansione → Analisi dei dati. Supporta la combinazione di SEM ed EDS per ottenere una caratterizzazione completa di micro/nanostrutture e componenti. Ampiamente utilizzato in scienza dei materiali, chimica, fisica e altri campi, è lo strumento preferito per l'analisi di struttura cristallina e di fase.

Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è uno strumento di analisi a raggi X ad alte prestazioni e alta risoluzione, caratterizzato da analisi rapide, funzionamento pratico e massima sicurezza. 1. Caratteristiche tecniche del diffrattometro a raggi X TD-3700 (1) Configurazione del nucleo del diffrattometro a raggi X Dotato di un rivelatore array monodimensionale ad alta velocità o di un rivelatore SDD, che utilizza la tecnologia di conteggio fotonico misto, non presenta interferenze di rumore e la velocità di acquisizione dati supera di gran lunga quella dei tradizionali rivelatori a scintillazione (con un aumento di velocità di oltre cento volte), e vanta un'elevata gamma dinamica (24 bit) e un'eccellente risoluzione energetica (687 ± 5 eV). Dotato di un controllore logico programmabile (PLC) importato, garantisce un controllo automatizzato, un basso tasso di guasti, un'elevata capacità anti-interferenza e garantisce un funzionamento stabile dell'alimentatore ad alta tensione per i tubi a raggi X. (2) Sistema di misura dell'angolo del diffrattometro a raggi X Adottando una struttura di misura dell'angolo verticale θ/θ, il campione viene posizionato orizzontalmente e supporta l'analisi di vari tipi di campioni, come liquidi, sol, polveri e blocchi, per evitare che cadano nel cuscinetto e ne causino corrosione. L'intervallo di scansione dell'angolo 2 θ è compreso tra -110° e 161°, con un passo minimo di 0,0001°, una ripetibilità di ± 0,0001° e una linearità angolare di ± 0,01°, ideale per analisi strutturali ad alta precisione. Supporta sia la modalità di riflessione convenzionale che quella di trasmissione, quest'ultima con una risoluzione più elevata e adatta a campioni in tracce (come polveri a bassa resa) e per analisi strutturali. (3) Il sistema di generazione dei raggi X del diffrattometro a raggi X La potenza nominale può essere selezionata tra 3 kW o 5 kW, con un intervallo di tensione del tubo di 10~60 kV, una corrente del tubo di 2~80 mA e una stabilità di ≤ 0,005%. Materiale target standard Cr/Co/Cu, adatto a diversi requisiti di analisi dei materiali. 2. Software e controllo dello strumento di diffrazione dei raggi X TD-3700 (1) Software di controllo per diffrattometro a raggi X Interfaccia completamente in cinese, supporta il sistema operativo Windows XP, può regolare automaticamente la pressione e il flusso del tubo e l'interruttore della luce, con funzione di training sull'invecchiamento del tubo radiogeno. Il software applicativo offre funzioni di elaborazione come la ricerca di picchi, la sottrazione del fondo, lo stripping di Kα², il calcolo dell'integrazione, il confronto spettrale, ecc. Supporta l'inserimento di annotazioni di testo e varie operazioni di ridimensionamento. (2) Sicurezza operativa del diffrattometro a raggi X Doppio sistema di protezione (collegamento tra gate luminoso e gate di piombo), tasso di perdita di raggi X ≤ 0,1 μ Sv/h, conforme alle norme nazionali. Dotato di un sistema di refrigerazione circolante (diviso o integrato), controllo automatico della temperatura e monitoraggio della portata dell'acqua, della pressione del refrigerante, ecc., per evitare il blocco del tubo radiogeno. 3. Scenari applicativi del diffrattometro a raggi X TD-3700 (1) La funzione principale del diffrattometro a raggi X Analisi qualitativa/quantitativa delle fasi, analisi della struttura cristallina, determinazione della granulometria e della cristallinità. Rilevamento di stress macroscopici/microscopici, analisi dell'orientamento dei materiali (come film sottili, campioni massivi). (2) Campi applicabili del diffrattometro a raggi X Scienza dei materiali: ceramiche, metalli, polimeri, materiali superconduttori, ecc. Ambiente e geologia: analisi del suolo, delle rocce, dei minerali e registrazione dei dati petroliferi. Chimica e farmaceutica: identificazione degli ingredienti farmaceutici, test di cristallinità dei prodotti chimici. Altro: ispezione alimentare, materiali elettronici, materiali magnetici, ecc. 4. Vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3700 (1) Design modulare: il sistema hardware è modulare e supporta più accessori (come accessori ottici e software per funzioni speciali) che sono plug and play, senza la necessità di regolare manualmente il percorso ottico. (2) Bilanciamento efficiente e sicuro: l'operazione con un clic semplifica il processo, riducendo al contempo il rischio di guasti tramite il controllo PLC, il sistema di protezione e le funzioni di allarme automatico (come la protezione da sovracorrente e l'avviso di sovratemperatura). (3) Innovazione nella localizzazione: la serie TD è l'unica apparecchiatura XRD in Cina che utilizza la tecnologia del controllore programmabile, con prestazioni paragonabili ai modelli importati (come D8 ADVANCE) e tassi di guasto significativamente ridotti. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è uno strumento potente e ampiamente utilizzato. Il suo rilevatore ad alte prestazioni, il preciso sistema di misurazione angolare, le potenti funzioni software e l'ampia gamma di campi di applicazione lo rendono uno strumento fondamentale nella ricerca scientifica e nella produzione industriale.

Il diffrattometro a raggi X ad alta potenza TDM-20 (XRD da banco) è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili in pasta. Il principio della diffrazione dei raggi X può essere utilizzato per analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. L'XRD da banco è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica. 1. Caratteristiche principali del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Il caricamento del nuovo rilevatore array ad alte prestazioni ha notevolmente migliorato le prestazioni complessive del dispositivo, con dimensioni ridotte e peso leggero; L'intera macchina è integrata nelle dimensioni del desktop (solitamente ≤ 1m³), risparmiando spazio ed è adatta a piccoli laboratori o ambienti didattici; La potenza di lavoro dell'alimentatore ad alta frequenza e alta tensione può raggiungere i 1600 W; Analisi rapida, in grado di calibrare e testare rapidamente i campioni; Utilizzando rilevatori ad alte prestazioni (come rilevatori bidimensionali) e ottimizzando il percorso ottico, la scansione del campione può essere completata in pochi minuti; Semplice controllo del circuito, facile da eseguire il debug e l'installazione; La ripetibilità dell'angolo può raggiungere 0,0001; Basso consumo energetico e sicurezza, utilizzando tubi a raggi X a bassa potenza (come ≤ 50 W), dotati di protezione dalle radiazioni multiple, senza necessità di speciali sale di schermatura; Facile da usare, dotato di software di automazione, che supporta il funzionamento con un clic, la visualizzazione dei dati in tempo reale e il confronto di database standard (come ICDD PDF). 2. Scenari applicativi tipici del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): identificazione rapida della struttura cristallina e della composizione di fase (ad esempio metalli, ceramiche, polimeri). Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): test in sito industriale della purezza cristallina di materie prime o prodotti finiti (come prodotti farmaceutici e materiali per batterie). Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): didattica sperimentale universitaria, dimostrazione visiva del principio di diffrazione di Bragg. Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): analisi della composizione minerale di reperti culturali o screening preliminare di campioni sul campo. 3. Parametri tecnici del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Progetto: intervallo di parametri Sorgente di raggi X: target Cu (λ=1,54 Å), target Mo opzionale Tensione/corrente: 10-50 kV/0,1-2 mA Campo di misura dello strumento di misura dell'angolo: 0-90 ° 2θ (alcuni modelli possono essere estesi) Risoluzione angolare: ≤ 0,01 ° Tipo di rilevatore: rilevatore di superficie lineare monodimensionale o bidimensionale Dimensione del campione: polvere (milligrammi), pellicola o blocco 4.Vantaggi e limiti del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Vantaggi: basso costo (circa 1/3-1/2 di un XRD grande), facile manutenzione. Supporta analisi non distruttive e una semplice preparazione dei campioni (ad esempio, posizionando direttamente la polvere). limitazioni: La risoluzione e la sensibilità sono leggermente inferiori rispetto ai dispositivi di fascia alta e potrebbero non essere adatte per analisi strutturali ultra-fini. Solitamente non è possibile effettuare test in condizioni estreme (ad esempio esperimenti in situ ad alta temperatura/alta pressione).

Il diffrattometro a raggi X TD-3500 è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della granulometria, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che conferisce al diffrattometro a raggi X TD-3500 le caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!   Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un generatore di raggi X (generatore a stato solido ad alta frequenza e alta tensione, generatore di frequenza di potenza opzionale), che ha un alto grado di automazione, un tasso di guasto estremamente basso, una forte capacità anti-interferenza, una buona stabilità del sistema e può estendere la durata di servizio dell'intera macchina. Il PLC e l'interfaccia del computer controllano automaticamente l'apertura e la chiusura del cancello luminoso, controllano automaticamente l'aumento e la diminuzione della pressione del tubo e del flusso del tubo e hanno la funzione di addestrare automaticamente i tubi a raggi X. Monitoraggio online in tempo reale tramite un touch screen per visualizzare lo stato dello strumento. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un'unità di controllo di registrazione avanzata, un circuito di controllo PLC, una tecnologia di controllo PLC avanzata e un touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer. L'hardware del sistema adotta un concetto di progettazione modulare, aumentando notevolmente la capacità anti-interferenza del sistema e rendendolo più stabile. Grazie all'uso di circuiti di controllo PLC Siemens importati con elevata precisione e automazione, il sistema può funzionare stabilmente per lungo tempo senza guasti. Il sistema di diffrattometro a raggi X TD-3500 presenta i seguenti vantaggi rispetto ai circuiti a microcontrollore utilizzati da altre aziende: Controllo del circuito semplice, facile da installare e da eseguire il debug; Grazie al suo design modulare, la manutenzione del sistema è molto semplice e gli utenti possono ripararlo e eseguirne il debug autonomamente, senza la necessità della presenza dei tecnici del produttore; Adottando un avanzato touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer, con funzioni di protezione complete e un funzionamento molto comodo, il design dell'animazione altamente tridimensionale è più umanizzato, intuitivo e comodo da usare per gli operatori e valutare le informazioni sui guasti, ecc.; Migliorando notevolmente la stabilità di conteggio del sistema, migliorando così la stabilità complessiva dell'intera macchina; Grazie alla forte capacità di espansione del PLC, può facilmente espandere vari accessori funzionali senza la necessità di aggiungere circuiti hardware aggiuntivi. Rilevatore del diffrattometro a raggi X TD-3500 Rivelatore proporzionale (PC) o rivelatore a scintillazione (SC). Strumento di misura angolare ad alta precisione per diffrattometro a raggi X TD-3500 Lo strumento di misurazione dell'angolo della serie TD adotta una trasmissione a cuscinetto ad alta precisione importata e il controllo del movimento è completato da un sistema servo di azionamento vettoriale ad anello completamente chiuso ad alta precisione. L'azionamento intelligente include un microprocessore RISC a 32 bit e un encoder magnetico ad alta risoluzione, che può correggere automaticamente errori di posizione del movimento estremamente piccoli, garantendo un'elevata precisione e accuratezza dei risultati di misurazione. La riproducibilità dell'angolo può raggiungere 0,0001 gradi e gli angoli di passo più piccoli possono raggiungere 0,0001 gradi. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X TD-3500: Scienza dei materiali: utilizzata per studiare informazioni chiave quali la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e la consistenza dei materiali. Analisi chimica: può essere utilizzata per l'analisi qualitativa o quantitativa di composti organici, inorganici, polimerici e altre sostanze. Geologia: aiuta a comprendere la formazione dei giacimenti minerali, l'evoluzione della Terra e molto altro. Prodotti biofarmaceutici: determinare la struttura cristallina dei farmaci, ottimizzare le formulazioni dei farmaci e migliorarne l'efficacia. Il diffrattometro a raggi X è un potente strumento analitico ampiamente utilizzato in molteplici campi. Misurando accuratamente l'angolo e l'intensità di diffrazione, può fornire informazioni dettagliate sulla struttura cristallina e sulla composizione dei materiali.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta non solo il metodo di scansione dei dati di diffrazione convenzionale, ma anche il metodo di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione. Il rivelatore array sfrutta completamente la tecnologia di conteggio dei fotoni misti, senza rumore, acquisizione dati veloce e velocità oltre dieci volte superiore a quella dei rivelatori a scintillazione. Ha un'eccellente risoluzione energetica e può rimuovere efficacemente gli effetti di fluorescenza. I rivelatori multicanale hanno tempi di lettura più rapidi e raggiungono migliori rapporti segnale/rumore. Un sistema di controllo del rivelatore con gating elettronico e trigger esterno completa efficacemente la sincronizzazione del sistema. Il principio di funzionamento del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Utilizzando la fluttuazione dei raggi X, quando vengono irradiati su un cristallo, gli atomi o gli ioni nel cristallo agiscono come centri di diffusione, diffondendo i raggi X in tutte le direzioni. A causa della regolarità della disposizione atomica nei cristalli, queste onde diffuse interferiscono tra loro e si rinforzano a vicenda in determinate direzioni, formando diffrazione. Misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità di diffrazione, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo. Le caratteristiche principali del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 sono: (1) Sistema di raccolta facile da usare, con un clic; (2) Design modulare, accessori per strumenti plug and play, nessuna necessità di calibrazione; (3) Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen per visualizzare lo stato dello strumento; (4) Dispositivo elettronico di interblocco della porta principale, doppia protezione, per garantire la sicurezza dell'utente; (5) Generatore di raggi X ad alta frequenza e ad alta tensione, con prestazioni stabili e affidabili; (6) Unità di controllo di registrazione avanzata con forte capacità anti-interferenza. L'elevata precisione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente un'analisi ad alta precisione della struttura cristallina dei materiali, come la determinazione precisa delle costanti reticolari, dei parametri cellulari, ecc. La precisione della misurazione dell'angolo può raggiungere ±0,0001°. L'elevata risoluzione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente di distinguere chiaramente i picchi di diffrazione adiacenti, analizzare accuratamente le informazioni di diffrazione di diversi piani cristallini per strutture cristalline complesse e rivelare le caratteristiche microstrutturali dei materiali. La natura non distruttiva del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: non danneggia il campione durante il processo di analisi e può essere mantenuto nello stato originale per più analisi, il che è particolarmente importante per campioni preziosi o difficili da reperire. Analisi rapida del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: i moderni diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione hanno capacità di rilevamento rapide e possono completare i test dei campioni in un breve lasso di tempo, migliorando l'efficienza del lavoro. 3. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Materiali semiconduttori: utilizzati per rilevare la qualità cristallina dei materiali monocristallini semiconduttori e dei film sottili epitassici, analizzare le discrepanze reticolari, i difetti e altre informazioni, che aiutano a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi semiconduttori. Materiali superconduttori: studiare la struttura cristallina e il processo di transizione di fase dei materiali superconduttori per fornire una base per l'ottimizzazione delle proprietà superconduttive. Nanomateriali: l'analisi della granulometria, della struttura cristallina, della deformazione microscopica, ecc. dei nanomateriali aiuta i ricercatori a comprenderne meglio le proprietà e le applicazioni. Altri campi: è anche ampiamente utilizzato nella ricerca e nel controllo qualità di materiali metallici, materiali ceramici, materiali polimerici, biomateriali e altri campi. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione è uno strumento analitico ad alta precisione, ad alta risoluzione, non distruttivo e veloce con un importante valore applicativo in molti campi.

Il portacampione rotante in un diffrattometro a raggi X è un componente chiave utilizzato per la regolazione precisa e il fissaggio della posizione del campione, il campione può ruotare all'interno del proprio piano, il che è utile per gli errori causati da grani grossolani. Per campioni con texture e cristallografia, il portacampione rotante assicura una buona riproducibilità dell'intensità di diffrazione ed elimina l'orientamento preferito. Principio di funzionamento del portacampioni rotante: Quando il diffrattometro a raggi X è in funzione, i raggi X ad alta energia generati dalla sorgente di raggi X vengono irradiati sul campione fissato sul portacampione rotante. A causa della specifica struttura cristallina e dei parametri reticolari del campione, i raggi X subiranno fenomeni di diffusione, assorbimento e diffrazione quando interagiscono con il campione, dove i fenomeni di diffrazione si verificano secondo i requisiti dell'equazione di Bragg. Il portacampione rotante può ruotare ad angoli più piccoli in base all'impostazione, consentendo al campione di ricevere l'irradiazione di raggi X ad angoli diversi, ottenendo così modelli di diffrazione ad angoli diversi. In questo modo, il rilevatore può misurare l'intensità dei raggi X dopo la diffrazione del campione e convertirla in un segnale elettrico da trasmettere al computer per l'elaborazione dei dati. La funzione principale del portacampioni rotante è: Metodo di rotazione: asse β (piano campione) Velocità di rotazione: 1~60RPM Piccola larghezza del passo: 0,1 º Modalità di funzionamento: Rotazione a velocità costante per la scansione del campione (passo, continuo) Vantaggi del portacampioni rotante: Il portacampione rotante può migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione: per campioni con forme irregolari di polvere o particelle, la caratteristica dell'orientamento preferito è incline a verificarsi durante la preparazione convenzionale del campione di polvere, con conseguenti deviazioni nella distribuzione dell'intensità di diffrazione e influenzando l'accuratezza dell'analisi dei risultati di diffrazione. La rotazione del piano del campione può spostare il campione in una certa forma in uno spazio appropriato, eliminando in una certa misura l'influenza dell'orientamento preferito, migliorando così l'accuratezza dei dati di diffrazione. Il portacampioni rotante può adattarsi a varie esigenze di test: in grado di adattarsi a diversi tipi di strumenti di misurazione dell'angolo di diffrazione dei raggi X, come strumenti di misurazione dell'angolo verticale, apparecchiature di diffrazione di polvere compatte a bassa potenza, ecc., offrendo praticità per diverse esigenze di test. E il portacampioni rotante può soddisfare i requisiti di vari campioni e condizioni di test regolando parametri come velocità e sterzata. Il portacampioni rotante può ampliare le capacità analitiche dello strumento: vengono costantemente sviluppati e applicati nuovi tipi di portacampioni rotanti, come alcuni portacampioni per l'analisi elettrochimica in situ della diffrazione dei raggi X, che possono monitorare e analizzare in tempo reale i cambiamenti dei materiali in diversi ambienti o condizioni, ampliando le capacità di analisi delle apparecchiature di diffrazione dei raggi X. In sintesi, il portacampioni rotante nel diffrattometro a raggi X è fondamentale per ottenere informazioni accurate sulla struttura cristallina delle sostanze. Il portacampioni rotante può non solo migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione, ma anche adattarsi a diverse esigenze di test ed espandere le capacità analitiche dello strumento.

Nel diffrattometro a raggi X, gli accessori di misurazione integrati multifunzionali sono componenti cruciali che migliorano notevolmente la funzionalità e la flessibilità dello strumento. Utilizzati per l'analisi di pellicole su schede, blocchi e substrati, possono eseguire test quali rilevamento di fase cristallina, orientamento, consistenza, stress e struttura in piano di pellicole sottili. Panoramica di base degli accessori di misura integrati multifunzionali: Definizione: Termine generico per una serie di dispositivi o moduli aggiuntivi utilizzati nel diffrattometro a raggi X per ampliare le funzioni dello strumento e migliorare l'accuratezza e l'efficienza delle misurazioni. Scopo: Questi accessori mirano a consentire al diffrattometro a raggi X di soddisfare una gamma più ampia di esigenze sperimentali e di fornire informazioni più complete e accurate sulla struttura dei materiali. Le caratteristiche funzionali degli accessori di misura integrati multifunzionali: Eseguire test del diagramma polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione; Le prove di stress possono essere condotte utilizzando il metodo dell'inclinazione parallela o lo stesso metodo dell'inclinazione; Test su film sottile (rotazione nel piano del campione). Caratteristiche tecniche degli accessori di misura integrati multifunzionali: Elevata precisione: in genere utilizzano tecnologie di rilevamento e sistemi di controllo avanzati per garantire elevata precisione e ripetibilità delle misurazioni. Automazione: molti accessori supportano operazioni automatizzate e possono essere perfettamente integrati con l'host del diffrattometro a raggi X per ottenere misurazioni con un clic. Design modulare: consente agli utenti di selezionare e combinare facilmente diversi moduli accessori in base alle loro effettive esigenze. Campi di applicazione degli accessori di misura integrati multifunzionali: Ampiamente utilizzato in campi quali la scienza dei materiali, la fisica, la chimica, la biologia e la geologia; Valutazione di strutture di assemblaggio metalliche come piastre laminate; Valutazione dell'orientamento della ceramica; Valutazione dell'orientamento prioritario dei cristalli in campioni di film sottili; Prove di sollecitazione residua su vari materiali metallici e ceramici (valutazione della resistenza all'usura, resistenza al taglio, ecc.); Prove di stress residuo su film multistrato (valutazione dello scollamento del film, ecc.); Analisi dell'ossidazione superficiale e dei film di nitruro su materiali superconduttori ad alta temperatura come film sottili e piastre metalliche; Vetro Si、Analisi di film multistrato su substrati metallici (film sottili magnetici, film di indurimento superficiale dei metalli, ecc.); Analisi di materiali galvanici quali materiali macromolecolari, carta e lenti. Gli accessori di misurazione integrati multifunzionali nel diffrattometro a raggi X sono la chiave per migliorare le prestazioni dello strumento. Non solo migliorano la funzionalità dello strumento, ma migliorano anche l'accuratezza e l'efficienza della misurazione, fornendo ai ricercatori metodi di analisi dei materiali più completi e approfonditi. Con il continuo progresso della tecnologia, questi accessori continueranno a svolgere un ruolo importante nel promuovere la ricerca scientifica in campi correlati per ottenere più scoperte.

Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 utilizza un nuovo rilevatore array ad alte prestazioni e il caricamento di questo rilevatore ha notevolmente migliorato le prestazioni complessive della macchina. Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per eseguire analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X da banco è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori di array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X TD-3700 può aumentare l'intensità del calcolo della diffrazione di decine di volte o più, ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve e supportare anche la scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio.

Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellari, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. La diffrattometria a raggi X a cristallo singolo è un prodotto ad alta tecnologia nell'ambito del Progetto nazionale per lo sviluppo di importanti strumenti e attrezzature scientifiche del Ministero della scienza e della tecnologia, guidato da Dandong Tongda Technology Co., Ltd., che colma la lacuna nello sviluppo e nella produzione di diffrattometri a raggi X a cristallo singolo in Cina.

Il diffrattometro a raggi X in polvere è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che rende il diffrattometro a raggi X TD-3500 dotato delle caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!

Il diffrattometro a raggi X TD-3700 è un diffrattometro a raggi X multifunzionale e ad alte prestazioni prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Le caratteristiche principali sono i rilevatori ad alte prestazioni, i diversi metodi di scansione, il funzionamento comodo e sicuro, le prestazioni stabili e affidabili. Per dettagli specifici, fare riferimento al sito Web di Dandong Tongda Technology Co., Ltd.