Nel campo della tecnologia moderna, molti prodotti high-tech, dai substrati degli schermi degli smartphone ai componenti principali dei generatori laser, si basano su un materiale fondamentale: i monocristalli sintetici. La precisione dell'angolo di taglio di questi cristalli determina direttamente le prestazioni e la resa dei prodotti finali. L'analizzatore di orientamento a raggi X è uno strumento indispensabile nella produzione di precisione di dispositivi a cristallo. Utilizzando il principio della diffrazione dei raggi X, misura in modo accurato e rapido gli angoli di taglio di monocristalli naturali e sintetici, inclusi cristalli piezoelettrici, cristalli ottici, cristalli laser e cristalli semiconduttori. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. offre una gamma di affidabili analizzatori di orientamento a raggi X, studiati appositamente per le esigenze di ricerca, elaborazione e produzione del settore dei materiali cristallini. 01 Macchina versatile per diverse esigenze di orientamento dei cristalli Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda includono principalmente modelli come TYX-200 e TYX-2H8. Il modello TYX-200 vanta una precisione di misura di ±30", con display digitale e una lettura minima di 10". Il modello TYX-2H8 è una versione migliorata del TYX-200, con miglioramenti nella struttura del goniometro, nella guida portante, nel manicotto del tubo radiogeno, nel corpo di supporto e in un tavolino portacampioni rialzato. Questi miglioramenti consentono al TYX-2H8 di gestire campioni di peso compreso tra 1 e 30 kg con diametri compresi tra 2 e 8 pollici. Mantiene un display digitale dell'angolo e una precisione di misura di ±30". 02 Caratteristiche tecniche avanzate per un funzionamento intuitivo Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda sono progettati pensando a praticità e affidabilità. Il loro funzionamento intuitivo non richiede conoscenze specialistiche o competenze avanzate da parte dell'operatore. Lo strumento è dotato di un display digitale dell'angolo, che garantisce misurazioni intuitive e di facile lettura, riducendo al minimo il rischio di errori di lettura. Il display può essere azzerato in qualsiasi posizione, consentendo la lettura diretta della deviazione dell'angolo del wafer. Alcuni modelli sono dotati di doppi goniometri per il funzionamento simultaneo, migliorando significativamente l'efficienza di rilevamento. Uno speciale integratore con amplificazione di picco migliora la precisione di misurazione. Il tubo a raggi X e il cavo ad alta tensione adottano un design integrato, migliorando l'affidabilità dell'alta tensione. Il sistema ad alta tensione del rivelatore utilizza un modulo ad alta tensione CC e la fase di campionamento ad aspirazione sotto vuoto migliora ulteriormente la precisione e la velocità di misurazione. 03 Progettazione di fasi di campionamento dedicate per varie esigenze di test Per soddisfare i requisiti di misurazione di campioni di diverse forme e dimensioni, Dandong Tongda offre una varietà di stadi di campionamento specializzati: Tavolino portacampioni TA: progettato per cristalli a bastoncino, è dotato di un binario portante e può testare barre di cristallo del peso di 1–30 kg con diametri di 2–6 pollici (espandibili a 8 pollici). Questo tavolino può misurare superfici di riferimento di cristalli a bastoncino e superfici di cristalli a wafer. Stadio di campionamento TB: progettato anch'esso per cristalli a bastoncino, include un binario portante e guide di supporto a V. Può testare barre di cristallo del peso di 1–30 kg, con diametri di 2–6 pollici (espandibili a 8 pollici) e lunghezze fino a 500 mm. Misura le superfici terminali dei cristalli a bastoncino e quelle dei cristalli a wafer. Tavolino portacampioni TC: utilizzato principalmente per rilevare le superfici di riferimento esterne di wafer monocristallini come silicio e zaffiro. La sua piastra di aspirazione a design aperto evita l'ostruzione dei raggi X e le imprecisioni di posizionamento. La pompa di aspirazione del tavolino portacampioni trattiene saldamente wafer di dimensioni comprese tra 2 e 8 pollici, garantendo un rilevamento preciso. ​ Tavolino portacampioni TD: progettato per misurazioni multi-punto di wafer come silicio e zaffiro. I wafer possono essere ruotati manualmente sul tavolino (ad esempio, 0°, 90°, 180°, 270°) per soddisfare le specifiche esigenze di misurazione del cliente. 04 Modello ad alte prestazioni per sfide su campioni di grandi dimensioni Per la rilevazione di campioni di grandi dimensioni e complessi, gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda dimostrano prestazioni eccezionali. Il modello TYX-2H8, ad esempio, è particolarmente adatto per l'orientamento di lingotti e barre di cristallo di zaffiro. Questo strumento supporta la misurazione degli orientamenti del cristallo di zaffiro A, C, M e R, con un intervallo di misura regolabile da 0 a 45° tramite automazione elettrica. Le sue specifiche tecniche sono impressionanti: Tubo a raggi X con bersaglio in rame, anodo collegato a terra e raffreddamento ad aria forzata. Corrente del tubo regolabile: 0–4 mA; tensione del tubo: 30 kV. Funzionamento tramite computer o controllo touchscreen. Movimento sincronizzato del tubo a raggi X e del rilevatore; tavola rotante azionata elettricamente. Consumo energetico totale: ≤2 kW. In particolare, la sua capacità di gestione dei campioni include lingotti di cristallo dal peso fino a 30-180 kg, con dimensioni massime di 350 mm di diametro e 480 mm di lunghezza. Queste capacità lo rendono adatto al rilevamento di campioni di grandi dimensioni nella maggior parte degli scenari industriali. 05 Ampie applicazioni a supporto di molteplici settori Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda sono ampiamente utilizzati in vari settori coinvolti nella ricerca, lavorazione e produzione di materiali cristallini. Nell'industria dei semiconduttori, consentono il taglio preciso e orientato dei wafer di silicio. Nel campo dell'optoelettronica vengono utilizzati per la lavorazione di precisione di substrati di zaffiro, cristalli ottici e cristalli laser. Nel settore dei materiali piezoelettrici, garantiscono misurazioni precise dell'angolo di taglio per prestazioni stabili del prodotto finale. Gli strumenti sono particolarmente adatti per i materiali in zaffiro, molto richiesti per la loro durezza, l'elevata trasmittanza luminosa e l'eccellente stabilità fisico-chimica. Lo zaffiro è ampiamente utilizzato nei substrati LED, negli schermi elettronici di consumo e nelle finestre ottiche. Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda sono diventati strumenti essenziali nei settori della ricerca e della produzione di materiali cristallini in Cina, grazie alle loro prestazioni affidabili, alle diverse configurazioni e alla forte adattabilità. Il design modulare e la varietà di opzioni di fase di campionamento consentono agli utenti di selezionare configurazioni che soddisfano esigenze specifiche, garantendo un'elevata precisione di rilevamento e migliorando al contempo l'efficienza del lavoro. Che si tratti di istituti di ricerca o di controllo qualità della produzione e ottimizzazione dei processi, questi strumenti forniscono un solido supporto tecnico, consentendo agli utenti di raggiungere risultati rivoluzionari nella produzione di precisione.

Affidabile in tutto il mondo: l'analizzatore di orientamento a raggi X di Dandong Tongda riceve certificazioni multinazionali Nell'attuale panorama globale in rapida evoluzione dei semiconduttori, dei dispositivi ottici e della scienza dei materiali, la misurazione precisa dell'orientamento dei cristalli è diventata fondamentale per migliorare la qualità dei prodotti e l'efficienza produttiva. In qualità di sviluppatore e produttore specializzato nel campo degli strumenti di analisi a raggi X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. annuncia il lancio del suo analizzatore di orientamento a raggi X ad alte prestazioni. Questo strumento integra un'avanzata tecnologia di diffrazione a raggi X con algoritmi intelligenti, offrendo soluzioni di misurazione dell'orientamento rapide e accurate per i settori legati alla cristallizzazione in tutto il mondo. Principio tecnico: la perfetta integrazione della diffrazione dei raggi X e della misurazione di precisione L'analizzatore di orientamento a raggi X funziona in base alla legge di diffrazione di Bragg. Quando i raggi X colpiscono la superficie del cristallo, i piani atomici disposti regolarmente al suo interno generano fenomeni di diffrazione ad angoli specifici. Catturando questi segnali di diffrazione con rilevatori di precisione e calcolando gli angoli di diffrazione, lo strumento è in grado di determinare con precisione l'orientamento del cristallo, fornendo dati affidabili per il successivo taglio e la successiva lavorazione. Rispetto ai metodi di orientamento tradizionali, la tecnologia di orientamento dei cristalli a raggi X offre significativi vantaggi in termini di non-distruttività, elevata precisione ed efficienza, garantendo risultati di misurazione affidabili senza danneggiare il campione. Lo strumento raggiunge una precisione di misura di ±30 secondi d'arco (±30"), con una lettura minima di 10 secondi d'arco, soddisfacendo i requisiti di orientamento della stragrande maggioranza dei materiali cristallini. Serie di prodotti: soluzioni complete per diverse esigenze applicative Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda Technology includono principalmente due modelli fondamentali: il TYX-200 e il TYX-2H8. Il modello TYX-200, come versione base, è dotato di un display digitale con una lettura minima di 10" e una precisione di misura di ±30", che lo rende adatto alle esigenze di orientamento di routine dei materiali cristallini. Il modello TYX-2H8 è un aggiornamento completo del TYX-200, con una struttura goniometrica migliorata, binari portanti potenziati e un piano portacampioni rialzato. Il TYX-2H8 può misurare campioni di peso compreso tra 1 e 30 kg con diametri compresi tra 2 e 8 pollici. Alcune configurazioni possono anche essere estese per gestire campioni di peso compreso tra 30 e 180 kg, con diametri fino a 350 mm e lunghezze fino a 480 mm. Per requisiti di ricerca più complessi, l'azienda offre anche gli analizzatori di orientamento a raggi X della serie TDF, che utilizzano la tecnologia di controllo PLC importata, offrono un intervallo di tensione del tubo di 10-60 kV e consentono funzionalità più ampie, tra cui l'orientamento di monocristalli, il rilevamento di difetti e la determinazione dei parametri reticolari. Applicazioni funzionali: uno strumento chiave per la lavorazione dei cristalli in diversi settori L'analizzatore di orientamento a raggi X è in grado di determinare con precisione e rapidità gli angoli di taglio di monocristalli naturali e sintetici e, in coordinamento con le macchine da taglio, di eseguire tagli orientati. È uno strumento indispensabile per la lavorazione di precisione e la produzione di dispositivi cristallini. Nell'industria dei semiconduttori, lo strumento è ampiamente utilizzato per l'ispezione di lingotti, wafer e chip, controllando processi come taglio, rettifica e lucidatura per garantire prestazioni costanti dei dispositivi a semiconduttore. Per la lavorazione di cristalli ottici e laser, lo strumento è in grado di determinare con precisione l'orientamento dei cristalli, garantendo che le prestazioni ottiche dei dispositivi ottici soddisfino i requisiti di progettazione e migliorando la resa del prodotto. In particolare, nel campo della lavorazione del cristallo di zaffiro, lo strumento è in grado di soddisfare simultaneamente i requisiti di misurazione per gli orientamenti dei cristalli di zaffiro A, C, M e R, con un intervallo di misura regolabile elettricamente da 0 a 45°, adattandosi alle complesse esigenze di lavorazione. Nel settore della gioielleria e delle pietre preziose, lo strumento supporta l'orientamento preciso delle pietre preziose, migliorando la precisione di taglio e il valore dei prodotti finiti, aiutando i produttori a massimizzare gli effetti ottici e il valore commerciale delle pietre preziose. Caratteristiche del prodotto: il design innovativo migliora l'esperienza dell'utente Gli analizzatori di orientamento a raggi X di Dandong Tongda Technology incorporano numerose caratteristiche innovative che migliorano significativamente la praticità e l'affidabilità dello strumento. Facilità d'uso: lo strumento può essere utilizzato senza particolari conoscenze o competenze specifiche, riducendo così le difficoltà d'uso e i tempi di formazione del personale. Display digitale: il display digitale dell'angolo consente un'osservazione intuitiva, riduce gli errori di lettura e può essere azzerato in qualsiasi posizione, facilitando la visualizzazione diretta della deviazione dell'angolo del wafer. Design efficiente: alcuni modelli sono dotati di doppi goniometri che possono funzionare simultaneamente, migliorando notevolmente l'efficienza dell'ispezione. Precisione migliorata: uno speciale integratore con amplificazione del picco migliora la precisione di rilevamento, mentre una piastra di aspirazione del campione garantisce un posizionamento stabile del campione. Affidabilità e durata: il design integrato del tubo radiogeno e del cavo ad alta tensione migliora l'affidabilità dell'alta tensione. L'alta tensione del rilevatore utilizza un modulo ad alta tensione CC, garantendo un funzionamento stabile a lungo termine. Protezione di sicurezza: lo strumento utilizza vetro al piombo ad alta densità e alta trasmittanza come schermo protettivo dai raggi X. La dose di radiazioni esterne non supera 0,1 µSv/h, in conformità con gli standard di sicurezza internazionali. Configurazione della fase di campionamento: adattamento flessibile alle diverse esigenze di misurazione Per soddisfare i requisiti di misurazione di campioni di diverse forme e dimensioni, Dandong Tongda Technology offre varie configurazioni di stadi di campionamento: Tavolino portacampioni di tipo TA: progettato specificamente per barre di cristallo cilindriche, dotato di binari portanti. Può misurare barre di cristallo di peso compreso tra 1 e 30 kg con diametri da 2 a 6 pollici (espandibili a 8 pollici) e può misurare la superficie di riferimento di cristalli a forma di bastoncino o la superficie di wafer di cristallo a forma di foglio. Tavolino portacampioni tipo TB: progettato anch'esso per barre di cristallo cilindriche, incorpora guide di supporto a V e può misurare barre di cristallo lunghe fino a 500 mm, il che lo rende particolarmente adatto alla misurazione delle superfici terminali dei cristalli a forma di barra. Stadio di campionamento tipo TC: utilizzato principalmente per rilevare la superficie di riferimento della circonferenza esterna di wafer monocristallini come silicio e zaffiro. Il suo design aperto supera i problemi di ostruzione dei raggi X e le imprecisioni di posizionamento causate dalle piastre di aspirazione. Tavolino portacampioni tipo TD: progettato specificamente per la misurazione multi-punto di wafer come silicio e zaffiro. Il wafer può essere ruotato manualmente sul tavolino (ad esempio, 0°, 90°, 180°, 270°) per soddisfare le specifiche esigenze di misurazione del cliente. Mercato globale: consentire ai clienti internazionali di raggiungere innovazioni tecnologiche I prodotti di Dandong Tongda Technology Co., Ltd. sono entrati con successo nel mercato internazionale, esportando in diversi paesi e regioni, tra cui Stati Uniti, Corea del Sud, Iran, Azerbaigian, Iraq e Giordania. Aderendo ai principi "Prima il cliente, prima il prodotto, prima il servizio", l'azienda fornisce agli utenti globali prodotti high-tech di alta qualità e un supporto tecnico completo. Per i clienti esteri, l'azienda offre consulenza tecnica completa e un servizio post-vendita, inclusi formazione operativa, supporto per la manutenzione e fornitura di ricambi, garantendo la massima tranquillità agli utenti. Rispondendo alle esigenze dei clienti in diverse regioni, l'azienda può anche fornire soluzioni personalizzate, tra cui la progettazione di speciali piattaforme di campionamento e la regolazione del software di misura, garantendo la perfetta adattabilità dello strumento a specifici scenari applicativi. Le interfacce operative multilingue e la documentazione tecnica dettagliata in inglese riducono ulteriormente le barriere di utilizzo per i clienti esteri e migliorano l'esperienza utente internazionale. L'analizzatore di orientamento a raggi X di Dandong Tongda Technology non è un semplice strumento di misura, ma un partner strategico per migliorare la competitività aziendale. Può ridurre significativamente il ciclo di ricerca e sviluppo per i materiali cristallini, ottimizzare i processi di produzione, garantire la qualità del prodotto e creare valore tangibile per l'industria manifatturiera globale dei cristalli. Che si tratti di produzione di chip semiconduttori, lavorazione di componenti ottici o ricerca di nuovi materiali, scegliere Dandong Tongda Technology significa optare per una soluzione di orientamento dei cristalli affidabile, efficiente e precisa.

Lo strumento di orientamento automatico a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio di diffrazione dei raggi X per determinare la struttura cristallina, l'orientamento e i parametri del reticolo. Ha un'ampia gamma di applicazioni nella scienza dei materiali, geologia, fisica e chimica, in particolare nello studio della microstruttura e delle proprietà di materiali monocristallini, policristallini e materiali a film sottile. Quanto segue fornirà un'introduzione dettagliata al principio di funzionamento, all'applicazione e alle precauzioni operative dell'orientatore di cristalli a raggi X. Con l'avanzamento della tecnologia, i dispositivi di strumenti di orientamento automatico a raggi X continuano a migliorare, con una risoluzione più elevata e un funzionamento più semplice. Allo stesso tempo, la combinazione con altre tecniche analitiche come la microscopia elettronica e l'analisi spettroscopica rende l'analisi della struttura cristallina più completa e approfondita. Inoltre, i dispositivi di analisi dell'orientamento a raggi X portatili e di monitoraggio online si sono gradualmente sviluppati, offrendo possibilità di analisi in loco e monitoraggio in tempo reale. In sintesi, l'analizzatore di orientamento a raggi X è un potente strumento analitico che è fondamentale per comprendere e controllare la microstruttura dei materiali. Con il continuo sviluppo della tecnologia, la sua applicazione in vari campi diventerà più estesa e approfondita.

L'analizzatore di orientamento a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per determinare l'orientamento dei cristalli. È ampiamente utilizzato in campi quali scienza dei materiali, geologia, fisica, ecc., per studiare la struttura cristallina, i parametri del reticolo, i difetti dei cristalli, ecc. Il principio di funzionamento di un analizzatore di orientamento a raggi X è quello di irradiare un fascio di raggi X monocromatico sul cristallo in esame. Quando i raggi X interagiscono con gli atomi nel cristallo, si verifica la dispersione. Secondo la legge di Bragg, quando la lunghezza d'onda dei raggi X è un multiplo intero della spaziatura atomica in un cristallo, la luce diffusa interferirà e formerà una serie di strisce alternate luminose e scure, note come riflessione di Bragg. Misurando gli angoli e le intensità di queste riflessioni di Bragg, è possibile calcolare informazioni come l'orientamento del cristallo e i parametri del reticolo. L'analizzatore di orientamento dei raggi X di solito comprende le seguenti parti principali: 1. Sorgente di raggi X: dispositivo che produce raggi X monocromatici, in genere utilizzando un tubo a raggi X o una sorgente di radiazione di sincrotrone. 2. Piano di campionamento: piattaforma utilizzata per posizionare il cristallo da analizzare, in grado di regolare la posizione e l'angolazione del cristallo. 3.Rilevatore: utilizzato per ricevere raggi X dispersi e convertirli in segnali elettrici. I rilevatori comuni includono contatori a scintillazione, contatori proporzionali, ecc. 4. Sistema di acquisizione ed elaborazione dati: utilizzato per raccogliere i segnali in uscita dai rilevatori ed eseguire l'elaborazione e l'analisi dei dati. Di solito include analizzatori multicanale, computer e altre apparecchiature. 5. Sistema di controllo: utilizzato per controllare il movimento della sorgente di raggi X, del portacampione e del rilevatore per ottenere la misurazione dei cristalli in diverse direzioni. Utilizzando un analizzatore di orientamento a raggi X, i ricercatori possono determinare con precisione l'orientamento e i parametri reticolari dei cristalli, ottenendo così una comprensione più approfondita della loro struttura e delle loro proprietà. Ciò è di grande importanza per lo sviluppo di nuovi materiali, l'esplorazione geologica, la crescita dei cristalli e altri campi.

Lo strumento di orientamento automatico a raggi X è uno strumento indispensabile per l'elaborazione di precisione e la produzione di dispositivi a cristalli. È ampiamente utilizzato nella ricerca, lavorazione e produzione di materiali cristallini.

La tecnologia Micro-CT presenta vantaggi significativi nella caratterizzazione della ceramica, poiché può rivelare la struttura composita all'interno del materiale senza danni e ripristinare la tecnologia chiave nella produzione della ceramica.

Il legante è un composto polimerico utilizzato nella produzione di elettrodi per far aderire la sostanza attiva al fluido collettore. La funzione principale è quella di legare e mantenere le sostanze attive.