Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. Il principio di base dello spettrometro a struttura fine di assorbimento di raggi X (XAFS) è che quando l'energia dei raggi X entra in risonanza con l'energia di un guscio elettronico interno di un elemento nel campione, si verifica un improvviso aumento di elettroni che forma uno spettro continuo, chiamato limite di assorbimento. In prossimità del limite di assorbimento, all'aumentare dell'energia dei raggi X, il tasso di assorbimento diminuisce in modo uniforme con l'aumentare della profondità di penetrazione dei raggi X. Quando lo spettro si estende oltre un limite specifico, si possono osservare strutture fini, dove le regioni di assorbimento di raggi X vicino alle strutture del limite (XANES) compaiono non appena picchi e spalle con una larghezza superiore a 20-30 elettronvolt attraversano il punto di partenza del limite. La struttura fine situata sul lato ad alta energia del limite, dove l'energia decade a diverse centinaia di elettronvolt, è chiamata struttura fine di assorbimento di raggi X (XAFS). Le caratteristiche principali dello spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) sono: Sensibilità all'ordinamento a corto raggio: dipende dall'ordinamento a corto raggio e non da quello a lungo raggio, rendendo possibile la misurazione di un'ampia gamma di campioni. Può essere utilizzato per campioni amorfi, liquidi, fusi, centri attivi di catalizzatori, proteine ​​metalliche, ecc., nonché per studi strutturali di atomi di impurità nei cristalli. Forti caratteristiche elementari: il limite di assorbimento dei raggi X presenta caratteristiche elementari e, per gli atomi di diversi elementi nel campione, è possibile studiare la struttura atomica vicina di diversi elementi nello stesso composto regolando l'energia dei raggi X incidenti. Elevata sensibilità: il metodo della fluorescenza può essere utilizzato per misurare campioni di elementi con concentrazioni pari anche a un milionesimo. Acquisizione completa di informazioni strutturali: in grado di fornire parametri che determinano la struttura locale, come la distanza tra gli atomi assorbenti e gli atomi vicini, il numero e il tipo di questi atomi e lo stato di ossidazione degli elementi assorbenti. La preparazione del campione è semplice: non è richiesto alcun monocristallo e, nelle condizioni sperimentali, il tempo di raccolta dati è relativamente breve. L'utilizzo di una sorgente di raggi X di sincrotrone richiede in genere solo pochi minuti per misurare una riga spettrale. I principali vantaggi dello spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) sono: Vantaggio principale: prodotto di flusso luminoso più elevato Flusso di fotoni superiore a 1.000.000 fotoni/secondo/eV, con efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottieni una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone Ottima stabilità: La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica durante la raccolta ripetuta è inferiore a 50 meV Limite di rilevamento dell'1%: L'elevato flusso luminoso, l'eccellente ottimizzazione del percorso ottico e l'eccellente stabilità della sorgente luminosa garantiscono che sia possibile ottenere dati EXAFS di alta qualità anche quando il contenuto di elementi misurati è >1%. 4. Campi di applicazione dello spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS): Campo energetico: come la ricerca sulle batterie al litio e altri materiali per batterie secondarie, la ricerca sulle celle a combustibile, la ricerca sui materiali per l'accumulo di idrogeno, ecc. XAFS può essere utilizzato per ottenere la concentrazione, lo stato di valenza, l'ambiente di coordinazione e i cambiamenti dinamici degli atomi del nucleo durante i cicli di carica-scarica e le reazioni elettrochimiche. Campo della catalisi: utilizzato per la ricerca sulla catalisi delle nanoparticelle, sulla catalisi dei singoli atomi, ecc. Ottenere la morfologia del catalizzatore sul supporto, la forma di interazione con il supporto e i suoi cambiamenti durante il processo catalitico tramite XAFS, nonché le strutture vicine di ioni metallici con un contenuto estremamente basso. Nel campo della scienza dei materiali, lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) viene utilizzato per la caratterizzazione di vari materiali, lo studio di sistemi complessi e materiali strutturali disordinati, la ricerca di isotopi radioattivi, lo studio delle proprietà correlate dei materiali di superficie e di interfaccia e lo studio dei cambiamenti dinamici nei materiali. Nel campo della geologia, lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) può essere utilizzato per l'analisi dello stato di valenza degli elementi dei materiali minerali nella ricerca geologica. Campo ambientale: XES può essere utilizzato per l'analisi dello stato di valenza degli elementi Cr/As, ecc. Nel campo della radiochimica, lo spettrometro di assorbimento dei raggi X a struttura fine (XAFS) può essere utilizzato per l'analisi dello stato di valenza degli elementi Ce, U, ecc. Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) svolge un ruolo importante nella ricerca scientifica moderna grazie al suo principio di funzionamento unico, alle sue caratteristiche significative e ai suoi ampi campi di applicazione. Fornisce un potente strumento per acquisire una comprensione più approfondita della microstruttura e dello stato chimico della materia, promuovendo lo sviluppo e il progresso di molteplici campi disciplinari.

Lo scopo principale della macchina portatile per prove di saldatura a raggi X NDT consiste nell'ispezionare la qualità di lavorazione e saldatura di materiali e componenti quali scafi di navi, condotte, recipienti ad alta pressione, caldaie, aeromobili, veicoli e ponti in settori industriali quali difesa nazionale, cantieristica navale, petrolifera, chimica, meccanica, aerospaziale ed edilizia, nonché difetti interni e qualità intrinseca di vari metalli leggeri, gomma, ceramica, ecc. Principio e applicazione della macchina portatile per prove di saldatura a raggi X NDT: Le macchine portatili per prove di saldatura a raggi X (NDT) sfruttano le proprietà acustiche, ottiche, magnetiche ed elettriche dei materiali per rilevare la presenza di difetti o irregolarità nell'oggetto testato senza danneggiarlo o comprometterne le prestazioni. Forniscono informazioni quali dimensioni, posizione, natura e quantità dei difetti. Rispetto ai test distruttivi, presentano le seguenti caratteristiche. Il primo è non distruttivo, in quanto non compromette le prestazioni dell'oggetto rilevato durante il test; il secondo è completo, poiché la rilevazione non è distruttiva ed è necessario condurre una rilevazione completa al 100% dell'oggetto testato, cosa che non può essere ottenuta con la rilevazione distruttiva; il terzo è completo e i test distruttivi sono generalmente applicabili solo ai test su materie prime, come trazione, compressione, flessione, ecc. comunemente utilizzati nell'ingegneria meccanica. I test distruttivi vengono eseguiti sulle materie prime di produzione e sui prodotti finiti e sugli articoli in uso, i test distruttivi non possono essere eseguiti a meno che non siano destinati a continuare a funzionare. D'altra parte, non compromettono le prestazioni dell'oggetto testato. Pertanto, non solo può eseguire test di processo completi sulle materie prime di produzione, sui processi intermedi e persino sui prodotti finali, ma può anche testare le apparecchiature in funzione. Caratteristiche della macchina portatile per prove di saldatura a raggi X NDT: Il generatore di raggi X ha un volume ridotto, con un anodo collegato a terra e un raffreddamento forzato tramite una ventola; ◆ Leggero, facile da trasportare e semplice da usare; Lavoro e riposo in un rapporto 1:1; Aspetto gradevole e struttura ragionevole; ◆ Esposizione ritardata per garantire la sicurezza dell'operatore; Campo di ispezione visiva della macchina portatile per prove di saldatura a raggi X NDT 1. Ispezione dei difetti superficiali delle saldature. Verificare la qualità della saldatura, come cricche superficiali, penetrazione incompleta e perdite del cordone di saldatura. 2. Controllo dello stato. Verificare la presenza di crepe superficiali, scrostature, strappi, graffi, ammaccature, sporgenze, macchie, corrosione e altri difetti. 3. Ispezione della cavità interna. Quando alcuni prodotti (come pompe a vite senza fine, motori, ecc.) sono in funzione, eseguire test endoscopici secondo i requisiti tecnici specificati. 4. Ispezione dell'assemblaggio. In caso di necessità e requisiti specifici, utilizzare lo stesso endoscopio video industriale 3D per ispezionare la qualità dell'assemblaggio. Al termine dell'assemblaggio o di un determinato processo, controllare ciascun componente. Verificare che la posizione di assemblaggio dei componenti soddisfi i requisiti dei disegni o delle specifiche tecniche; verificare la presenza di difetti di assemblaggio. 5. Ispezione degli articoli in eccesso. Verificare la presenza di detriti residui, corpi estranei e altri detriti all'interno della cavità del prodotto.

L'irradiatore a raggi X WBK-01 genera raggi X ad alta energia per irradiare cellule o piccoli animali. L'irradiatore a raggi X viene utilizzato per diverse ricerche di base e applicate. Nel corso della storia, sono stati utilizzati irradiatori a isotopi radioattivi, che richiedono il trasporto dei campioni in un impianto di irradiazione centrale. Oggi, irradiatori a raggi X più piccoli, sicuri, semplici ed economici possono essere installati nei laboratori per un'irradiazione delle cellule comoda e rapida. Diversi campioni possono essere irradiati direttamente in laboratorio senza compromettere la fertilità o la sicurezza. L'irradiatore a raggi X è facile da usare anche per il personale senza una formazione professionale in radiologia, e non richiede costose richieste di licenza né costi di sicurezza o manutenzione delle sorgenti di radiazioni. Questo dispositivo è facile da usare, sicuro, affidabile ed economico e può sostituire le sorgenti di isotopi radioattivi. 1. Principio dell'irradiatore a raggi X: Il tubo a raggi X nell'irradiatore a raggi X genera elettroni ad alta energia, che producono raggi X quando collidono con il materiale bersaglio (solitamente tungsteno). Gli elettroni vengono accelerati attraverso un campo elettrico ad alta tensione per ottenere energia sufficiente a generare la lunghezza d'onda e l'intensità dei raggi X desiderate. Quindi, i raggi X vengono regolati e ottimizzati attraverso una serie di collimatori, filtri e altri dispositivi, e infine irradiati sul campione. I componenti principali di un irradiatore a raggi X sono: L'irradiatore a raggi X comprende principalmente tubi a raggi X, generatori ad alta tensione, circuiti di controllo, sistemi di raffreddamento, dispositivi di protezione di sicurezza e sale campioni. Tra questi, il tubo a raggi X è il componente principale responsabile della generazione dei raggi X; il generatore ad alta tensione fornisce l'alta tensione e la corrente necessarie per il tubo a raggi X; il circuito di controllo viene utilizzato per controllare parametri quali la generazione, l'intensità e il tempo di irradiazione dei raggi X; il sistema di raffreddamento garantisce che l'apparecchiatura non venga danneggiata a causa del surriscaldamento durante il funzionamento; il dispositivo di protezione di sicurezza garantisce la sicurezza degli operatori e dell'ambiente di utilizzo. 3. Campi di applicazione dell'irradiatore a raggi X: L'irradiatore a raggi X può essere utilizzato nel campo della biologia: per la ricerca sulla coltura cellulare e l'inibizione della divisione, l'induzione di cambiamenti genetici, la ricerca sulle cellule staminali, l'irradiazione di piccoli animali, la ricerca sulle cellule della tubercolosi, la ricerca sulle cellule del sangue, l'irradiazione del trapianto di midollo osseo, l'immunità dei trapianti, la terapia immunosoppressiva, la ricerca sulla sensibilità alle radiazioni, la ricerca sui danni al DNA, ecc. L'irradiatore a raggi X può essere utilizzato in campo medico: nel trattamento dei tumori, può essere utilizzato per irradiare localmente il sito del tumore, uccidere le cellule cancerose o inibirne la crescita; l'irradiatore a raggi X può anche essere utilizzato come diagnosi ausiliaria per alcune malattie, ad esempio aiutando a determinare la condizione osservando i cambiamenti di imaging di tessuti e organi attraverso i raggi X. L'irradiatore a raggi X può essere utilizzato nell'industria alimentare: può essere impiegato per la conservazione degli alimenti tramite irradiazione, uccidendo i microrganismi presenti negli alimenti tramite irradiazione a raggi X, inibendo l'attività enzimatica e prolungando così la durata di conservazione degli alimenti, mantenendone al contempo il sapore originale e il contenuto nutrizionale. L'irradiatore a raggi X può essere utilizzato in campo industriale: può essere impiegato per testare e modificare le prestazioni dei materiali, come il trattamento di reticolazione dei materiali polimerici per migliorarne la resistenza e la stabilità; può anche essere utilizzato per prove non distruttive per rilevare difetti e crepe all'interno dei materiali. In sintesi, l'irradiatore a raggi X è un importante dispositivo scientifico e industriale con ampie prospettive applicative e di grande valore.

L'orientatore di cristalli a raggi X è uno strumento indispensabile per la lavorazione di precisione e la produzione di dispositivi a cristallo. L'orientatore di cristalli a raggi X utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per determinare con precisione e rapidità l'angolo di taglio di monocristalli naturali e artificiali (cristalli piezoelettrici, cristalli ottici, cristalli laser, cristalli semiconduttori) ed è dotato di una macchina da taglio per il taglio direzionale dei cristalli sopra menzionati. L'orientatore di cristalli a raggi X è ampiamente utilizzato nei settori della ricerca, della lavorazione e della produzione di materiali cristallini. 1. Principio dell'orientatore di cristalli a raggi X: L'orientatore di cristalli a raggi X utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per determinare con precisione e rapidità l'angolo di taglio di monocristalli naturali e artificiali (cristalli piezoelettrici, cristalli ottici, cristalli laser, cristalli semiconduttori). Dotato di una macchina da taglio, l'orientatore di cristalli a raggi X può essere utilizzato per il taglio direzionale dei cristalli sopra menzionati ed è uno strumento indispensabile per la lavorazione di precisione e la produzione di dispositivi a cristallo. Lo strumento di orientamento dei cristalli a raggi X ha una precisione di misura di ± 30 pollici, con modalità di visualizzazione digitale e una lettura inferiore di 10 pollici. Può misurare campioni con un diametro da 1 a 30 chilogrammi e da 2 a 8 pollici. Visualizzazione dell'angolo: modalità digitale, precisione di misura di ± 30 pollici. 2. Caratteristiche dell'orientatore di cristalli a raggi X: Facile da usare, non richiede conoscenze professionali o competenze specifiche. L'angolo di visualizzazione digitale è facile da osservare e riduce gli errori di lettura. Il monitor può essere azzerato in qualsiasi posizione per una facile visualizzazione dei valori di deviazione dell'angolo del chip. Il doppio strumento di misurazione dell'angolo può funzionare simultaneamente, migliorando l'efficienza. L'orientatore del cristallo a raggi X è dotato di uno speciale integratore con amplificazione di picco, che migliora la precisione di rilevamento. L'integrazione del tubo a raggi X e del cavo ad alta tensione aumenta l'affidabilità dell'alta tensione. Il rivelatore ad alta tensione adotta un modulo ad alta tensione CC e una scheda di campionamento ad aspirazione sotto vuoto, che migliorano la precisione e la velocità di misurazione dell'angolo. I componenti principali di un orientatore di cristalli a raggi X sono: Tubo di radiazione: in genere, come anodo viene utilizzato un bersaglio in rame collegato a terra, mentre per il raffreddamento si ricorre al raffreddamento ad aria forzata. Alimentatore ad alta tensione: fornisce alta tensione e corrente stabili per i tubi a raggi X ed è uno dei componenti principali dell'intero sistema. Rivelatore: utilizzato per ricevere i fotoni dei raggi X diffratti e convertirli in segnali elettrici per la successiva elaborazione e analisi. Goniometro: utilizzato per misurare con precisione l'angolo di rotazione dei campioni di cristallo, determinando così le informazioni sull'orientamento del piano di diffrazione. Sistema di elaborazione dati: elabora, analizza e memorizza i segnali in uscita dal rilevatore per ottenere informazioni sulla struttura cristallina. 4. Campi di applicazione dell'orientatore di cristalli a raggi X: Scienza dei materiali: utilizzata per studiare le strutture cristalline di vari materiali, tra cui metalli, ceramiche, semiconduttori, ecc. Geologia: utilizzata per identificare i tipi di minerali, analizzare le strutture delle rocce, ecc. Chimica: utilizzata per studiare la struttura e i cambiamenti dei cristalli molecolari. Fisica: utilizzata per esplorare la microstruttura e le proprietà fisiche della materia. In sintesi, con il continuo progresso e l'innovazione della scienza e della tecnologia, si ritiene che l'orientatore di cristalli a raggi X farà sì che in futuro vengano applicati nuovi materiali e tecnologie in vari campi, promuovendo il continuo sviluppo della società umana.

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF è uno strumento analitico su larga scala utilizzato per studiare la microstruttura interna delle sostanze. L'analizzatore di cristalli a raggi X viene utilizzato principalmente per l'orientamento di monocristalli, l'ispezione di difetti, la determinazione dei parametri reticolari, la determinazione delle tensioni residue, lo studio della struttura di piastre e barre, lo studio della struttura di sostanze sconosciute e delle dislocazioni monocristalline. Un analizzatore di cristalli a raggi X è uno strumento di precisione che utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per analizzare e determinare la struttura interna e la composizione delle sostanze. 1. Il principio di funzionamento dell'analizzatore di cristalli a raggi X: L'analizzatore di cristalli a raggi X si basa sulla legge di Bragg, che afferma che quando i raggi X vengono irradiati su un cristallo, la diffrazione avviene a un angolo specifico, formando punti o picchi di diffrazione. Misurando gli angoli e l'intensità di queste diffrazioni, è possibile dedurre la struttura interna e la composizione del cristallo. 2. Componenti dell'analizzatore di cristalli a raggi X: (1) Sorgente di raggi X dell'analizzatore di cristalli di raggi X: un dispositivo che genera raggi X, solitamente un tubo a raggi X, costituito da un filamento, un materiale bersaglio e un alimentatore ad alta tensione. Tubo a raggi X dell'analizzatore di cristalli a raggi X: Potenza nominale: 2,4 kW; Dimensioni della messa a fuoco (mm2): Messa a fuoco puntuale (1 × 1) Messa a fuoco lineare (1 × 10); Materiali target: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, ecc. Generatore ad alta tensione dell'analizzatore di raggi X a cristalli (controllato da PLC importato): Tensione del tubo: 10-60KV; Corrente del tubo: 2-60mA; Stabilità della tensione e della corrente del tubo ≤ ± 0,005%; Potenza nominale in uscita: 3 kW. Cavo ad alta tensione per analizzatore di cristalli a raggi X: Tensione dielettrica ≥ 100KV; Lunghezza: 2M. (2) Il cristallo spettrale dell'analizzatore di raggi X: utilizzato per separare i raggi X di diverse lunghezze d'onda, l'analizzatore di raggi X è un componente chiave per ottenere la separazione spettrale. (3) Rilevatore dell'analizzatore di cristalli di raggi X: utilizzato per rilevare i raggi X diffusi dal campione e convertirli in segnali elettrici per l'elaborazione successiva. (4) Strumento di misura dell'angolo dell'analizzatore di cristalli a raggi X: uno strumento utilizzato per la misurazione precisa dell'angolo di diffrazione, che è uno dei componenti importanti per garantire l'accuratezza della misurazione. (5) Il sistema di controllo e di elaborazione dati dell'analizzatore a cristalli di raggi X: utilizzato per controllare l'intero processo di analisi, elaborare e analizzare i dati raccolti. Gli strumenti moderni sono solitamente dotati di software per semplificare il processo di analisi dei dati. 3. Caratteristiche dell'analizzatore di cristalli a raggi X: L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF adotta un manicotto tubolare verticale e può utilizzare quattro finestre contemporaneamente. L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF adotta la tecnologia di controllo PLC importata, con elevata precisione di controllo e buone prestazioni anti-interferenza, che garantiscono un funzionamento affidabile del sistema. Il PLC controlla l'interruttore ad alta tensione, il sollevamento e ha la funzione di addestramento automatico del tubo a raggi X, prolungando efficacemente la durata del tubo e dello strumento. 4. Campi di applicazione dell'analizzatore di cristalli a raggi X Scienza dei materiali: ricerca sulla struttura cristallina, la transizione di fase, i difetti, ecc. dei materiali per fornire un supporto importante allo sviluppo di nuovi materiali. Chimica: che coinvolge la cristallochimica, la chimica farmaceutica, ecc., può essere utilizzata per analizzare le strutture dei composti, studiare i meccanismi delle reazioni chimiche, ecc. Biologia: utilizzato per l'analisi strutturale delle biomolecole, la progettazione e lo screening di farmaci, ecc., l'analizzatore di cristalli a raggi X è di grande importanza per comprendere i processi vitali e i meccanismi delle malattie. Le scienze ambientali svolgono un ruolo importante nello sviluppo di catalizzatori, nella caratterizzazione dei nanomateriali e nell'analisi degli inquinanti. Geologia: l'identificazione dei minerali, la ricerca sulla genesi delle rocce, la geocronologia e altri campi di studio si basano anche sugli analizzatori di cristalli a raggi X. L'analizzatore di cristalli a raggi X è uno strumento analitico potente e ampiamente utilizzato che svolge un ruolo insostituibile in molteplici campi. Con il continuo progresso tecnologico e il continuo sviluppo del mercato, le sue prestazioni e il suo campo di applicazione saranno ulteriormente migliorati e ampliati.

Lo strumento di diffrazione dei raggi X da tavolo TDM-10 è uno strumento utilizzato per analizzare la struttura di fase dei materiali e può essere dotato di rivelatori a scintillazione/proporzionali/lineari. 1. Principio di funzionamento della strumentazione di diffrazione dei raggi X desktop TDM-10: in base alla legge di Bragg, quando un fascio di raggi X monocromatici incide su un cristallo, se la condizione di diffrazione di Bragg è soddisfatta (n λ=2dsin θ, dove λ è la lunghezza d'onda dei raggi X, d è la spaziatura interplanare e θ è l'angolo di incidenza), gli atomi o le molecole nel cristallo si disperderanno e interferiranno con i raggi X, formando uno specifico schema di diffrazione. Misurando l'intensità di diffrazione a diversi angoli, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo. 2. Caratteristiche della strumentazione di diffrazione dei raggi X da tavolo TDM-10: L'elevata risoluzione di uno strumento di diffrazione dei raggi X da tavolo consente una misurazione precisa della struttura cristallina delle sostanze, il che è fondamentale per studiare miscele complesse o per la ricerca di fasi policristalline e in tracce a basso contenuto. Analisi non distruttiva della strumentazione di diffrazione dei raggi X da tavolo: durante il processo di test, il campione non subirà danni e potrà rimanere nel suo stato originale per ulteriori test o utilizzi. Il funzionamento delle apparecchiature da tavolo per la diffrazione di raggi X su polvere è semplice: le moderne apparecchiature da tavolo per la diffrazione di raggi X su polvere solitamente dispongono di funzioni di automazione e intelligenza, rendendo il funzionamento più comodo e riducendo i requisiti di conoscenze e competenze professionali dell'operatore. Versatilità dell'apparecchiatura da tavolo per la diffrazione dei raggi X su polvere: l'apparecchiatura per la diffrazione dei raggi X su polvere può eseguire varie analisi, come l'analisi qualitativa e quantitativa di fase, l'analisi delle costanti reticolari, l'analisi delle sollecitazioni, ecc. 3. Parametri tecnici dell'apparecchiatura di diffrazione di raggi X in polvere da tavolo TDM-10: La macchina per la diffrazione dei raggi X da tavolo ha un volume ridotto; l'alimentazione ad alta frequenza e alta tensione riduce il consumo energetico complessivo della macchina; Può calibrare e testare rapidamente i campioni; Controllo del circuito semplice, facile da eseguire il debug e l'installazione; La precisione della misurazione della posizione del picco di diffrazione è di 0,001°; Rilevatore: scintillazione, proporzionale, array lineare; Gamma di 2 θ:- 10°~150° Potenza: 600 W; Tensione massima: 40 kV; Corrente massima: 15 mA; Tubi a raggi X: tubi in ceramica corrugata, tubi in metallo-ceramica, tubi in vetro. 4. Campi di applicazione della macchina per diffrazione dei raggi X da tavolo TDM-10: Scienza dei materiali: utilizzata per studiare la struttura cristallina, la composizione di fase, la granulometria, la cristallinità, ecc. di metalli, ceramiche, semiconduttori e altri materiali, aiutando gli scienziati dei materiali a comprendere le proprietà e le caratteristiche dei materiali. Nel campo della chimica, la macchina per la diffrazione dei raggi X può essere utilizzata nell'industria di produzione di catalizzatori, cemento, prodotti farmaceutici e altri prodotti per identificare fasi in campioni sconosciuti, nonché per analizzare quantitativamente fasi note in campioni misti. Geologia: esecuzione di analisi di fase su minerali, rocce, ecc. per determinarne la composizione e la struttura minerale. Scienze ambientali: utilizzate per analizzare la composizione minerale e le forme di inquinanti in campioni ambientali come suolo e sedimenti. Industria alimentare: rilevamento di componenti cristallini, additivi, ecc. negli alimenti. Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-10 è un potente strumento analitico con importanti applicazioni in molteplici campi.

Il diffrattometro a raggi X ad alta potenza TDM-20 (XRD da banco) è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili in pasta. Il principio della diffrazione dei raggi X può essere utilizzato per analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. L'XRD da banco è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica. 1. Caratteristiche principali del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Il caricamento del nuovo rilevatore array ad alte prestazioni ha notevolmente migliorato le prestazioni complessive del dispositivo, con dimensioni ridotte e peso leggero; L'intera macchina è integrata nelle dimensioni del desktop (solitamente ≤ 1m³), risparmiando spazio ed è adatta a piccoli laboratori o ambienti didattici; La potenza di lavoro dell'alimentatore ad alta frequenza e alta tensione può raggiungere i 1600 W; Analisi rapida, in grado di calibrare e testare rapidamente i campioni; Utilizzando rilevatori ad alte prestazioni (come rilevatori bidimensionali) e ottimizzando il percorso ottico, la scansione del campione può essere completata in pochi minuti; Semplice controllo del circuito, facile da eseguire il debug e l'installazione; La ripetibilità dell'angolo può raggiungere 0,0001; Basso consumo energetico e sicurezza, utilizzando tubi a raggi X a bassa potenza (come ≤ 50 W), dotati di protezione dalle radiazioni multiple, senza necessità di speciali sale di schermatura; Facile da usare, dotato di software di automazione, che supporta il funzionamento con un clic, la visualizzazione dei dati in tempo reale e il confronto di database standard (come ICDD PDF). 2. Scenari applicativi tipici del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): identificazione rapida della struttura cristallina e della composizione di fase (ad esempio metalli, ceramiche, polimeri). Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): test in sito industriale della purezza cristallina di materie prime o prodotti finiti (come prodotti farmaceutici e materiali per batterie). Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): didattica sperimentale universitaria, dimostrazione visiva del principio di diffrazione di Bragg. Scienza dei materiali del diffrattometro a raggi X (XRD da banco): analisi della composizione minerale di reperti culturali o screening preliminare di campioni sul campo. 3. Parametri tecnici del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Progetto: intervallo di parametri Sorgente di raggi X: target Cu (λ=1,54 Å), target Mo opzionale Tensione/corrente: 10-50 kV/0,1-2 mA Campo di misura dello strumento di misura dell'angolo: 0-90 ° 2θ (alcuni modelli possono essere estesi) Risoluzione angolare: ≤ 0,01 ° Tipo di rilevatore: rilevatore di superficie lineare monodimensionale o bidimensionale Dimensione del campione: polvere (milligrammi), pellicola o blocco 4.Vantaggi e limiti del diffrattometro a raggi X da banco TDM-20 (XRD da banco): Vantaggi: basso costo (circa 1/3-1/2 di un XRD grande), facile manutenzione. Supporta analisi non distruttive e una semplice preparazione dei campioni (ad esempio, posizionando direttamente la polvere). limitazioni: La risoluzione e la sensibilità sono leggermente inferiori rispetto ai dispositivi di fascia alta e potrebbero non essere adatte per analisi strutturali ultra-fini. Solitamente non è possibile effettuare test in condizioni estreme (ad esempio esperimenti in situ ad alta temperatura/alta pressione).

Il diffrattometro a raggi X TD-3500 è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della granulometria, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che conferisce al diffrattometro a raggi X TD-3500 le caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori!   Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un generatore di raggi X (generatore a stato solido ad alta frequenza e alta tensione, generatore di frequenza di potenza opzionale), che ha un alto grado di automazione, un tasso di guasto estremamente basso, una forte capacità anti-interferenza, una buona stabilità del sistema e può estendere la durata di servizio dell'intera macchina. Il PLC e l'interfaccia del computer controllano automaticamente l'apertura e la chiusura del cancello luminoso, controllano automaticamente l'aumento e la diminuzione della pressione del tubo e del flusso del tubo e hanno la funzione di addestrare automaticamente i tubi a raggi X. Monitoraggio online in tempo reale tramite un touch screen per visualizzare lo stato dello strumento. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 adotta un'unità di controllo di registrazione avanzata, un circuito di controllo PLC, una tecnologia di controllo PLC avanzata e un touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer. L'hardware del sistema adotta un concetto di progettazione modulare, aumentando notevolmente la capacità anti-interferenza del sistema e rendendolo più stabile. Grazie all'uso di circuiti di controllo PLC Siemens importati con elevata precisione e automazione, il sistema può funzionare stabilmente per lungo tempo senza guasti. Il sistema di diffrattometro a raggi X TD-3500 presenta i seguenti vantaggi rispetto ai circuiti a microcontrollore utilizzati da altre aziende: Controllo del circuito semplice, facile da installare e da eseguire il debug; Grazie al suo design modulare, la manutenzione del sistema è molto semplice e gli utenti possono ripararlo e eseguirne il debug autonomamente, senza la necessità della presenza dei tecnici del produttore; Adottando un avanzato touch screen a colori reali per ottenere l'interazione uomo-computer, con funzioni di protezione complete e un funzionamento molto comodo, il design dell'animazione altamente tridimensionale è più umanizzato, intuitivo e comodo da usare per gli operatori e valutare le informazioni sui guasti, ecc.; Migliorando notevolmente la stabilità di conteggio del sistema, migliorando così la stabilità complessiva dell'intera macchina; Grazie alla forte capacità di espansione del PLC, può facilmente espandere vari accessori funzionali senza la necessità di aggiungere circuiti hardware aggiuntivi. Rilevatore del diffrattometro a raggi X TD-3500 Rivelatore proporzionale (PC) o rivelatore a scintillazione (SC). Strumento di misura angolare ad alta precisione per diffrattometro a raggi X TD-3500 Lo strumento di misurazione dell'angolo della serie TD adotta una trasmissione a cuscinetto ad alta precisione importata e il controllo del movimento è completato da un sistema servo di azionamento vettoriale ad anello completamente chiuso ad alta precisione. L'azionamento intelligente include un microprocessore RISC a 32 bit e un encoder magnetico ad alta risoluzione, che può correggere automaticamente errori di posizione del movimento estremamente piccoli, garantendo un'elevata precisione e accuratezza dei risultati di misurazione. La riproducibilità dell'angolo può raggiungere 0,0001 gradi e gli angoli di passo più piccoli possono raggiungere 0,0001 gradi. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X TD-3500: Scienza dei materiali: utilizzata per studiare informazioni chiave quali la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e la consistenza dei materiali. Analisi chimica: può essere utilizzata per l'analisi qualitativa o quantitativa di composti organici, inorganici, polimerici e altre sostanze. Geologia: aiuta a comprendere la formazione dei giacimenti minerali, l'evoluzione della Terra e molto altro. Prodotti biofarmaceutici: determinare la struttura cristallina dei farmaci, ottimizzare le formulazioni dei farmaci e migliorarne l'efficacia. Il diffrattometro a raggi X è un potente strumento analitico ampiamente utilizzato in molteplici campi. Misurando accuratamente l'angolo e l'intensità di diffrazione, può fornire informazioni dettagliate sulla struttura cristallina e sulla composizione dei materiali.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 è un nuovo membro della serie TD, dotato di una varietà di rilevatori ad alte prestazioni come rilevatori array monodimensionali ad alta velocità, rilevatori bidimensionali, rilevatori SDD, ecc. Integra analisi rapida, funzionamento conveniente e sicurezza dell'utente. L'architettura hardware modulare e il sistema software personalizzato raggiungono una combinazione perfetta, rendendo il suo tasso di guasto estremamente basso, buone prestazioni anti-interferenza e garantendo un funzionamento stabile a lungo termine dell'alimentazione ad alta tensione. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta non solo il metodo di scansione dei dati di diffrazione convenzionale, ma anche il metodo di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione. Il rivelatore array sfrutta completamente la tecnologia di conteggio dei fotoni misti, senza rumore, acquisizione dati veloce e velocità oltre dieci volte superiore a quella dei rivelatori a scintillazione. Ha un'eccellente risoluzione energetica e può rimuovere efficacemente gli effetti di fluorescenza. I rivelatori multicanale hanno tempi di lettura più rapidi e raggiungono migliori rapporti segnale/rumore. Un sistema di controllo del rivelatore con gating elettronico e trigger esterno completa efficacemente la sincronizzazione del sistema. Il principio di funzionamento del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Utilizzando la fluttuazione dei raggi X, quando vengono irradiati su un cristallo, gli atomi o gli ioni nel cristallo agiscono come centri di diffusione, diffondendo i raggi X in tutte le direzioni. A causa della regolarità della disposizione atomica nei cristalli, queste onde diffuse interferiscono tra loro e si rinforzano a vicenda in determinate direzioni, formando diffrazione. Misurando l'angolo di diffrazione e l'intensità di diffrazione, è possibile ottenere le informazioni strutturali del cristallo. Le caratteristiche principali del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 sono: (1) Sistema di raccolta facile da usare, con un clic; (2) Design modulare, accessori per strumenti plug and play, nessuna necessità di calibrazione; (3) Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen per visualizzare lo stato dello strumento; (4) Dispositivo elettronico di interblocco della porta principale, doppia protezione, per garantire la sicurezza dell'utente; (5) Generatore di raggi X ad alta frequenza e ad alta tensione, con prestazioni stabili e affidabili; (6) Unità di controllo di registrazione avanzata con forte capacità anti-interferenza. L'elevata precisione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente un'analisi ad alta precisione della struttura cristallina dei materiali, come la determinazione precisa delle costanti reticolari, dei parametri cellulari, ecc. La precisione della misurazione dell'angolo può raggiungere ±0,0001°. L'elevata risoluzione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 consente di distinguere chiaramente i picchi di diffrazione adiacenti, analizzare accuratamente le informazioni di diffrazione di diversi piani cristallini per strutture cristalline complesse e rivelare le caratteristiche microstrutturali dei materiali. La natura non distruttiva del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: non danneggia il campione durante il processo di analisi e può essere mantenuto nello stato originale per più analisi, il che è particolarmente importante per campioni preziosi o difficili da reperire. Analisi rapida del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: i moderni diffrattometri a raggi X ad alta risoluzione hanno capacità di rilevamento rapide e possono completare i test dei campioni in un breve lasso di tempo, migliorando l'efficienza del lavoro. 3. Campi di applicazione del diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700: Materiali semiconduttori: utilizzati per rilevare la qualità cristallina dei materiali monocristallini semiconduttori e dei film sottili epitassici, analizzare le discrepanze reticolari, i difetti e altre informazioni, che aiutano a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi semiconduttori. Materiali superconduttori: studiare la struttura cristallina e il processo di transizione di fase dei materiali superconduttori per fornire una base per l'ottimizzazione delle proprietà superconduttive. Nanomateriali: l'analisi della granulometria, della struttura cristallina, della deformazione microscopica, ecc. dei nanomateriali aiuta i ricercatori a comprenderne meglio le proprietà e le applicazioni. Altri campi: è anche ampiamente utilizzato nella ricerca e nel controllo qualità di materiali metallici, materiali ceramici, materiali polimerici, biomateriali e altri campi. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione è uno strumento analitico ad alta precisione, ad alta risoluzione, non distruttivo e veloce con un importante valore applicativo in molti campi.

1. Funzione del diffrattometro a cristallo singolo: Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli geminati, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa lunghezza del legame, angolo di legame, configurazione, conformazione e persino densità elettronica di legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, gruppo spaziale, struttura molecolare cristallina, legame idrogeno intermolecolare e interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come configurazione e conformazione molecolare. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è ampiamente utilizzato nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. Il diffrattometro a cristallo singolo a raggi X è un prodotto ad alta tecnologia finanziato dal Ministero della Scienza e della Tecnologia della Cina nell'ambito del Progetto nazionale di sviluppo di grandi strumenti e attrezzature scientifiche, guidato da Dandong Tongda Technology Co., Ltd., che colma la lacuna nello sviluppo e nella produzione di diffrattometri a cristallo singolo in Cina. 2. Caratteristiche del diffrattometro a cristallo singolo: L'intera macchina adotta la tecnologia di controllo del controllore logico programmabile (PLC); facile da usare, sistema di raccolta con un clic; Design modulare, accessori plug and play, nessuna necessità di calibrazione; Monitoraggio online in tempo reale tramite touch screen, visualizzazione dello stato dello strumento; Generatore di raggi X ad alta potenza con prestazioni stabili e affidabili; dispositivo di interblocco elettronico della porta principale, doppia protezione. 3. Precisione del diffrattometro a cristallo singolo: Precisione di ripetibilità dell'angolo 2 θ: 0,0001 °; Angolo di passo minimo: 0,0001 ° Intervallo di controllo della temperatura: 100K-300K; Precisione di controllo: ± 0,3K 4. Strumento di misura dell'angolo utilizzato nel diffrattometro a cristallo singolo: L'uso della tecnica dei quattro cerchi concentrici assicura che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente da qualsiasi rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e ottenere una maggiore completezza. Quattro cerchi concentrici sono una condizione necessaria per la scansione del diffrattometro monocristallino convenzionale. 5. Rilevatore bidimensionale ad alta velocità utilizzato nel diffrattometro a cristallo singolo a raggi X: Il rilevatore combina le tecnologie chiave del conteggio di singoli fotoni e della tecnologia a pixel misti per ottenere la migliore qualità dei dati, garantendo al contempo un basso consumo energetico e un basso raffreddamento. Viene applicato in vari campi come la radiazione di sincrotrone e le sorgenti luminose convenzionali da laboratorio, eliminando efficacemente l'interferenza del rumore di lettura e della corrente oscura. La tecnologia a pixel misti può rilevare direttamente i raggi X, rendere il segnale più facile da distinguere e fornire in modo efficiente dati di alta qualità. 6. Attrezzatura a bassa temperatura utilizzata nel diffrattometro a cristallo singolo a raggi X: I dati raccolti tramite apparecchiature a bassa temperatura producono risultati più ideali. Con l'aiuto di apparecchiature a bassa temperatura, possono essere fornite condizioni più vantaggiose per consentire ai cristalli indesiderati di ottenere risultati ideali, così come ai cristalli ideali di ottenere risultati più ideali. Intervallo di controllo della temperatura: 100K~300K; Precisione di controllo: ± 0,3K; Consumo di azoto liquido: 1,1~2 litri/ora; 7. Accessorio opzionale, lente di messa a fuoco multistrato: Potenza del tubo a raggi X: 30 W o 50 W, ecc.; Divergenza: 0,5~1 mrad; Materiale bersaglio del tubo a raggi X: bersaglio Mo/Cu; macchia focale: 0,5~2 mm.

Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. Il principio dello spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS): Assorbimento di raggi X a struttura fine Lo spettro si riferisce agli spettri ad alta risoluzione vicino ai bordi caratteristici degli elettroni del nucleo atomico che assorbono i raggi X. Quando l'energia dei raggi X è la stessa dell'energia di eccitazione degli elettroni del guscio interno dell'elemento misurato, saranno fortemente assorbiti, con conseguente limite di assorbimento (o bordo di assorbimento). Vicino al bordo di assorbimento, a causa di molteplici scattering e altri motivi, il coefficiente di assorbimento dei raggi X mostrerà fenomeni oscillatori, vale a dire struttura fine. 2. Principali vantaggi dello spettro di assorbimento dei raggi X a struttura fine (XAFS): (1) Il prodotto di flusso luminoso più elevato, con un flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV e un'efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottenere una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone (2) Eccellente stabilità, la stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica ripetuta è inferiore a 50 meV (3) Il limite di rilevamento dell'1%, l'elevato flusso luminoso, l'eccellente ottimizzazione del percorso ottico e l'eccellente stabilità della sorgente luminosa garantiscono che i dati EXAFS di alta qualità possano essere ottenuti anche quando il contenuto di elementi misurati è >1%. 3. Campi di applicazione di XAFS: Catalisi industriale, materiali per l'accumulo di energia, nanomateriali, tossicologia ambientale, analisi qualitativa, analisi degli elementi pesanti, ecc. 4. Caratteristiche principali di XAFS: (1) Ordinamento a corto raggio: EXAFS dipende dalle interazioni a corto raggio e non si basa sull'ordinamento a lungo raggio. XAFS può essere utilizzato per studiare la struttura di sistemi disordinati come centri attivi amorfi, liquidi, fusi e catalizzatori. (2) Specificità dell'elemento: il metodo della fluorescenza può essere utilizzato per misurare campioni di elementi con concentrazioni basse fino a un milionesimo. Regolando l'energia dei raggi X incidenti, è possibile studiare le strutture vicine di atomi di diversi elementi nello stesso composto. (3) Caratteristiche di polarizzazione: i raggi X polarizzati possono essere utilizzati per misurare gli angoli dei legami atomici e le strutture superficiali nei campioni orientati. Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X, con i suoi principi unici, le sue caratteristiche significative e i suoi ampi campi di applicazione, è diventato uno strumento indispensabile e importante in molteplici campi quali la scienza dei materiali, la chimica catalitica e la ricerca energetica, fornendo un valido supporto per l'esplorazione approfondita delle microstrutture dei materiali e degli stati elettronici.

Il portacampione rotante in un diffrattometro a raggi X è un componente chiave utilizzato per la regolazione precisa e il fissaggio della posizione del campione, il campione può ruotare all'interno del proprio piano, il che è utile per gli errori causati da grani grossolani. Per campioni con texture e cristallografia, il portacampione rotante assicura una buona riproducibilità dell'intensità di diffrazione ed elimina l'orientamento preferito. Principio di funzionamento del portacampioni rotante: Quando il diffrattometro a raggi X è in funzione, i raggi X ad alta energia generati dalla sorgente di raggi X vengono irradiati sul campione fissato sul portacampione rotante. A causa della specifica struttura cristallina e dei parametri reticolari del campione, i raggi X subiranno fenomeni di diffusione, assorbimento e diffrazione quando interagiscono con il campione, dove i fenomeni di diffrazione si verificano secondo i requisiti dell'equazione di Bragg. Il portacampione rotante può ruotare ad angoli più piccoli in base all'impostazione, consentendo al campione di ricevere l'irradiazione di raggi X ad angoli diversi, ottenendo così modelli di diffrazione ad angoli diversi. In questo modo, il rilevatore può misurare l'intensità dei raggi X dopo la diffrazione del campione e convertirla in un segnale elettrico da trasmettere al computer per l'elaborazione dei dati. La funzione principale del portacampioni rotante è: Metodo di rotazione: asse β (piano campione) Velocità di rotazione: 1~60RPM Piccola larghezza del passo: 0,1 º Modalità di funzionamento: Rotazione a velocità costante per la scansione del campione (passo, continuo) Vantaggi del portacampioni rotante: Il portacampione rotante può migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione: per campioni con forme irregolari di polvere o particelle, la caratteristica dell'orientamento preferito è incline a verificarsi durante la preparazione convenzionale del campione di polvere, con conseguenti deviazioni nella distribuzione dell'intensità di diffrazione e influenzando l'accuratezza dell'analisi dei risultati di diffrazione. La rotazione del piano del campione può spostare il campione in una certa forma in uno spazio appropriato, eliminando in una certa misura l'influenza dell'orientamento preferito, migliorando così l'accuratezza dei dati di diffrazione. Il portacampioni rotante può adattarsi a varie esigenze di test: in grado di adattarsi a diversi tipi di strumenti di misurazione dell'angolo di diffrazione dei raggi X, come strumenti di misurazione dell'angolo verticale, apparecchiature di diffrazione di polvere compatte a bassa potenza, ecc., offrendo praticità per diverse esigenze di test. E il portacampioni rotante può soddisfare i requisiti di vari campioni e condizioni di test regolando parametri come velocità e sterzata. Il portacampioni rotante può ampliare le capacità analitiche dello strumento: vengono costantemente sviluppati e applicati nuovi tipi di portacampioni rotanti, come alcuni portacampioni per l'analisi elettrochimica in situ della diffrazione dei raggi X, che possono monitorare e analizzare in tempo reale i cambiamenti dei materiali in diversi ambienti o condizioni, ampliando le capacità di analisi delle apparecchiature di diffrazione dei raggi X. In sintesi, il portacampioni rotante nel diffrattometro a raggi X è fondamentale per ottenere informazioni accurate sulla struttura cristallina delle sostanze. Il portacampioni rotante può non solo migliorare l'accuratezza dei dati di diffrazione, ma anche adattarsi a diverse esigenze di test ed espandere le capacità analitiche dello strumento.