Novità sui prodotti

Nei campi della scienza dei materiali e dell'ispezione industriale, l'analisi diffrattometrica a raggi X, altamente efficiente e precisa, è sempre stata un supporto fondamentale per le innovazioni scientifiche e il controllo qualità. Il diffrattometro a raggi X serie TD-3700 ridefinisce i limiti prestazionali delle apparecchiature di diffrazione con molteplici tecnologie innovative, offrendo una soluzione efficiente senza precedenti per la ricerca accademica, la ricerca e sviluppo aziendale e le applicazioni di controllo qualità. La sinergia multi-detettore inaugura una nuova era di analisi ad alta velocità La serie TD-3700 supera i limiti dei rivelatori tradizionali offrendo una varietà di opzioni, tra cui rivelatori array monodimensionali ad alta velocità, rivelatori bidimensionali e rivelatori SDD. Rispetto ai rivelatori a scintillazione o proporzionali convenzionali, aumenta l'intensità del segnale di diffrazione di decine di volte, catturando pattern di diffrazione ad alta sensibilità e alta risoluzione in cicli di campionamento estremamente brevi e migliorando significativamente l'efficienza di output dei dati. Abbinati alla tecnologia di conteggio ibrido dei fotoni, i rivelatori funzionano senza rumore, sopprimono efficacemente il fondo di fluorescenza e dimostrano un'eccellente risoluzione energetica e prestazioni segnale/rumore, rendendoli particolarmente adatti all'analisi di campioni complessi e di tracce. Le doppie modalità di diffrazione/trasmissione ampliano i limiti applicativi Lo strumento non solo supporta la scansione a diffrazione convenzionale, ma introduce anche in modo innovativo una modalità di trasmissione. Questa modalità offre una risoluzione significativamente più elevata rispetto alla modalità di diffrazione, rendendola particolarmente adatta per applicazioni di fascia alta come l'analisi della struttura cristallina e la ricerca sui nanomateriali. Allo stesso tempo, la modalità di diffrazione, con la sua elevatissima stabilità del segnale, è ideale per l'identificazione di fase di routine. Un altro importante vantaggio della modalità di trasmissione è il supporto per l'analisi di campioni in tracce, alleviando notevolmente le difficoltà di preparazione e la limitata disponibilità dei campioni. Questo apre nuove possibilità per lo sviluppo farmaceutico, l'analisi geologica, l'identificazione del patrimonio culturale e altri campi. Design modulare e intelligente per una piattaforma sperimentale affidabile e intuitiva Il TD-3700 adotta un design hardware modulare in cui tutti i componenti sono plug-and-play e non richiedono calibrazione, riducendo significativamente i costi di manutenzione e i tassi di guasto. Il suo sistema di acquisizione one-click e il software personalizzato migliorano notevolmente la praticità operativa, consentendo anche ai non specialisti di iniziare rapidamente. Un'interfaccia touchscreen fornisce il monitoraggio in tempo reale dello stato dello strumento, rendendo chiaro a colpo d'occhio l'avanzamento dell'esperimento. Anche la sicurezza è senza compromessi: un dispositivo elettronico di interblocco porta a piombo offre una doppia protezione, mentre un generatore di raggi X ad alta frequenza e alta tensione garantisce prestazioni stabili e affidabili. In combinazione con un'unità di controllo anti-interferenza, mantiene l'affidabilità operativa a lungo termine garantendo al contempo la sicurezza degli utenti. Nato per l'epoca: un punto di riferimento orientato al futuro nella tecnologia della diffrazione Il diffrattometro a raggi X della serie TD-3700 integra analisi rapide, funzionamento intelligente e sicurezza completa. Non solo eredita la stabilità della serie TD-3500, ma raggiunge anche traguardi innovativi nella tecnologia dei rivelatori, nella flessibilità applicativa e nell'integrazione di sistema. La sua affermazione soddisfa pienamente le esigenze dei laboratori moderni in termini di analisi di campioni ad alta produttività, elevata precisione e diversificazione, rendendolo uno strumento indispensabile per la caratterizzazione dei materiali, l'analisi chimica, la farmaceutica e la ricerca accademica.

Il diffrattometro a raggi X TDM-20 (XRD da banco) è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e sostanze pastose. Basato sul principio della diffrazione dei raggi X, consente l'analisi qualitativa e quantitativa, nonché l'analisi della struttura cristallina, di materiali policristallini come campioni in polvere e campioni metallici. Trova ampia applicazione in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, farmaceutica, mineralogia, sicurezza alimentare, petrolio e istruzione/ricerca. Principio fondamentale: la diffrazione dei raggi X, la chiave del mondo microscopico Il diffrattometro a raggi X TDM-20 funziona secondo il principio della diffrazione dei raggi X. Quando i raggi X illuminano un campione, interagiscono con gli atomi presenti nel campione e vengono diffratti. Diverse strutture cristalline producono pattern di diffrazione unici, simili a impronte digitali individuali. Analizzando questi pattern, lo strumento rivela con precisione informazioni chiave sulla struttura cristallina del campione, sulla composizione di fase e altro ancora, svelando i segreti nascosti a livello microscopico. Svolta nelle prestazioni Il diffrattometro a raggi X TDM-20 (XRD da banco) supera il precedente standard internazionale di 600 W, con un aggiornamento completo a 1200 W. Lo strumento è caratterizzato da semplicità d'uso, prestazioni stabili e basso consumo energetico. Può essere equipaggiato con un rivelatore proporzionale o con un nuovo rivelatore ad array ad alta velocità, con un significativo miglioramento delle prestazioni complessive. Caratteristiche del dispositivo Dimensioni compatte e design leggero Progettazione di alimentatori ad alta frequenza e alta tensione per un consumo energetico complessivo inferiore Supporta la calibrazione e il test rapidi dei campioni Controllo del circuito semplificato per un facile debug e installazione La precisione lineare dell'angolo di diffrazione a spettro completo raggiunge ±0,01° Accessori ricchi Il TDM-20 può essere abbinato a vari accessori, tra cui un rilevatore array 1D, un rilevatore proporzionale, un cambiacampioni automatico a 6 posizioni, un portacampioni rotante e altri ancora. Conclusione Il diffrattometro a raggi X TDM-20 (XRD da banco), con le sue prestazioni eccezionali, la semplicità d'uso e l'ampia gamma di applicazioni, è diventato uno strumento indispensabile in numerosi settori e campi di ricerca. Agisce come un "detective" del mondo microscopico, aiutandoci a svelare i misteri della struttura dei materiali e guidando il progresso in vari ambiti. Se anche voi desiderate approfondire i segreti microscopici della materia, prendete in considerazione il TDM-20 per intraprendere un viaggio di ricerca e produzione preciso ed efficiente.

Dandong Tongda Technology è specializzata nello sviluppo di accessori per la diffrazione a piccolo angolo, componenti dedicati per diffrattometri a raggi X. Coprendo un intervallo di angoli di diffrazione da 0° a 5°, questi accessori consentono una misurazione precisa dello spessore di film multistrato su scala nanometrica e supportano l'analisi strutturale dei nanomateriali. Progettati per una perfetta compatibilità con i diffrattometri TD-3500, TD-3700 e altre serie, sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica in campi come la scienza dei materiali, l'ingegneria chimica, la geologia e la mineralogia. Incorporando la tecnologia di controllo PLC importata e il design modulare, questi accessori migliorano significativamente l'automazione e la stabilità operativa delle apparecchiature. Gli strumenti della serie TD soddisfano ora gli standard internazionali e sono stati esportati con successo in paesi come gli Stati Uniti e l'Azerbaigian, fornendo un supporto tecnico fondamentale per la ricerca globale sui nanomateriali.

L'accessorio di misurazione ottica parallela di Dandong Tongda è un componente specializzato per diffrattometri a raggi X, che migliora significativamente le prestazioni di analisi dei campioni a film sottile. Il suo design a reticolo allungato sopprime efficacemente le interferenze di diffusione, migliorando la chiarezza del segnale per film ultrasottili e nanomultistrato. L'accessorio supporta l'analisi di diffrazione a piccolo angolo (0°–5°), consentendo una misurazione precisa dello spessore del film e delle strutture di interfaccia. Compatibile con i diffrattometri TD-3500, TD-5000, TD-3700 e TDM-20, garantisce prestazioni costanti su tutte le piattaforme. Ampiamente utilizzato nell'ispezione dei semiconduttori, nella valutazione dei rivestimenti ottici e nella ricerca sui nuovi materiali energetici, questo strumento affronta sfide come segnali deboli e rumore di fondo. Con l'avanzare dell'industria dei nanomateriali e dei semiconduttori, questo accessorio è destinato a svolgere un ruolo sempre più cruciale nella ricerca all'avanguardia e nel controllo qualità.

L'accessorio di misura integrato multifunzionale consente un'analisi precisa di texture, stress e film sottili. Supporta la mappatura delle figure polari, la misurazione dello stress biassiale e la rotazione nel piano. Ideale per metalli, ceramiche, rivestimenti e polimeri. Offre una precisione di 0,001° e una capacità di campionamento di Φ100 mm.

Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 eroga 1200 W di potenza in un design compatto, superando gli standard internazionali da 600 W. Con una linearità di ±0,01° e una ripetibilità di 0,0001°, consente un'analisi di fase precisa per la ricerca sui materiali e il controllo qualità industriale. Il suo sistema di raffreddamento integrato e la compatibilità con gli accessori globali lo rendono una soluzione ideale ed economica per i laboratori internazionali.

L'analizzatore di cristalli a raggi X della serie TDF offre prestazioni eccezionali nell'analisi microstrutturale, supportando l'orientamento di singoli cristalli, il rilevamento di difetti e la misurazione delle sollecitazioni. Dotato di un design a tubo verticale con funzionamento multi-finestra e controllo PLC importato, garantisce elevata precisione e conformità alla sicurezza (radiazioni<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 offre prestazioni analitiche eccezionali grazie all'innovativa tecnologia di rilevamento e alla doppia modalità di scansione. Grazie alla rapida acquisizione dei dati, alla semplicità d'uso e alla maggiore sicurezza, consente un'analisi precisa dei materiali in applicazioni di ricerca e industriali, stabilendo nuovi standard per gli strumenti scientifici cinesi.

Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 integra una generazione avanzata di raggi X, un'elevata precisione goniometrica e un rilevamento efficiente in un design compatto. Offre analisi di fase affidabili per la scienza dei materiali, il settore farmaceutico e il controllo qualità industriale, con supporto globale e certificazioni internazionali.

Il diffrattometro a raggi X TD-5000 rompe il monopolio internazionale negli strumenti scientifici di fascia alta. Questa innovazione cinese offre una precisione eccezionale (accuratezza di 0,0001°) e capacità di rilevamento avanzate, al servizio dei ricercatori nei settori farmaceutico, della scienza dei materiali e della chimica attraverso analisi strutturali complete.