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L'analizzatore di orientamento a raggi X è un dispositivo che utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per determinare l'orientamento dei cristalli. È ampiamente utilizzato in campi quali scienza dei materiali, geologia, fisica, ecc., per studiare la struttura cristallina, i parametri del reticolo, i difetti dei cristalli, ecc. Il principio di funzionamento di un analizzatore di orientamento a raggi X è quello di irradiare un fascio di raggi X monocromatico sul cristallo in esame. Quando i raggi X interagiscono con gli atomi nel cristallo, si verifica la dispersione. Secondo la legge di Bragg, quando la lunghezza d'onda dei raggi X è un multiplo intero della spaziatura atomica in un cristallo, la luce diffusa interferirà e formerà una serie di strisce alternate luminose e scure, note come riflessione di Bragg. Misurando gli angoli e le intensità di queste riflessioni di Bragg, è possibile calcolare informazioni come l'orientamento del cristallo e i parametri del reticolo. L'analizzatore di orientamento dei raggi X di solito comprende le seguenti parti principali: 1. Sorgente di raggi X: dispositivo che produce raggi X monocromatici, in genere utilizzando un tubo a raggi X o una sorgente di radiazione di sincrotrone. 2. Piano di campionamento: piattaforma utilizzata per posizionare il cristallo da analizzare, in grado di regolare la posizione e l'angolazione del cristallo. 3.Rilevatore: utilizzato per ricevere raggi X dispersi e convertirli in segnali elettrici. I rilevatori comuni includono contatori a scintillazione, contatori proporzionali, ecc. 4. Sistema di acquisizione ed elaborazione dati: utilizzato per raccogliere i segnali in uscita dai rilevatori ed eseguire l'elaborazione e l'analisi dei dati. Di solito include analizzatori multicanale, computer e altre apparecchiature. 5. Sistema di controllo: utilizzato per controllare il movimento della sorgente di raggi X, del portacampione e del rilevatore per ottenere la misurazione dei cristalli in diverse direzioni. Utilizzando un analizzatore di orientamento a raggi X, i ricercatori possono determinare con precisione l'orientamento e i parametri reticolari dei cristalli, ottenendo così una comprensione più approfondita della loro struttura e delle loro proprietà. Ciò è di grande importanza per lo sviluppo di nuovi materiali, l'esplorazione geologica, la crescita dei cristalli e altri campi.

Il diffrattometro a raggi X monocristallini TD-5000 è utilizzato principalmente per determinare la struttura spaziale tridimensionale e la densità della nube elettronica di sostanze cristalline come complessi inorganici, organici e metallici e per analizzare la struttura di materiali speciali come cristalli gemellari, non commensurati, quasicristalli, ecc. Determina lo spazio tridimensionale accurato (inclusa la lunghezza del legame, l'angolo di legame, la configurazione, la conformazione e persino la densità elettronica del legame) di nuove molecole composte (cristalline) e l'effettiva disposizione delle molecole nel reticolo; il diffrattometro a raggi X monocristallini può fornire informazioni sui parametri delle celle cristalline, sul gruppo spaziale, sulla struttura molecolare dei cristalli, sul legame idrogeno intermolecolare e sulle interazioni deboli, nonché informazioni strutturali come la configurazione e la conformazione molecolare. La XRD monocristallina è ampiamente utilizzata nella ricerca analitica in cristallografia chimica, biologia molecolare, farmacologia, mineralogia e scienza dei materiali. Il diffrattometro a cristallo singolo adotta la tecnica della concentricità a quattro cerchi per garantire che il centro dello strumento di misurazione dell'angolo rimanga invariato indipendentemente dalla rotazione, raggiungendo l'obiettivo di ottenere i dati più accurati e ottenere una maggiore integrità. La concentricità a quattro cerchi è una condizione necessaria per la scansione convenzionale a cristallo singolo. Il personale tecnico dell'azienda ha completato l'installazione e il debug del diffrattometro a raggi X monocristallino estero e i risultati dei test hanno ampiamente soddisfatto gli utenti stranieri. Allo stesso tempo, la funzionalità, la stabilità e il servizio post-vendita dello strumento hanno ricevuto elogi unanimi dagli utenti stranieri.

Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 è utilizzato principalmente per l'analisi di fase di polveri, solidi e materiali simili a pasta. Il diffrattometro a raggi X da tavolo utilizza il principio del diffrattometro a raggi X per eseguire analisi qualitative o quantitative, analisi della struttura cristallina e altri materiali policristallini come campioni di polvere e campioni di metallo. Il diffrattometro a raggi X da tavolo TDM-20 è ampiamente utilizzato in settori quali industria, agricoltura, difesa nazionale, prodotti farmaceutici, minerali, sicurezza alimentare, petrolio, istruzione e ricerca scientifica. L'inserimento di un nuovo rivelatore array ad alte prestazioni ha portato a un miglioramento significativo delle prestazioni dell'XRD da banco. Le apparecchiature XRD da banco hanno un volume ridotto e un peso leggero; La potenza di lavoro dell'alimentatore ad alta tensione Benchtop XRD può raggiungere i 1600 watt; L'XRD da banco può calibrare e testare rapidamente i campioni; Il controllo del circuito XRD da banco è semplice e facile da installare e da eseguire il debug; La ripetibilità dell'angolo del Benchtop XRD può raggiungere 0,0001.

Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700, con tutti i vantaggi del diffrattometro a raggi X TD-3500, è dotato di un rivelatore array ad alte prestazioni. Rispetto ai rivelatori a scintillazione o ai rivelatori proporzionali, l'intensità di calcolo della diffrazione può essere aumentata di diverse decine di volte e si possono ottenere modelli di diffrazione completi ad alta sensibilità e alta risoluzione e una maggiore intensità di conteggio in un periodo di campionamento più breve. Il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione TD-3700 supporta sia la scansione dei dati di diffrazione convenzionali che i metodi di scansione dei dati di trasmissione. La risoluzione della modalità di trasmissione è molto più alta di quella della modalità di diffrazione, che è adatta per analisi strutturali e altri campi. La modalità di diffrazione ha forti segnali di diffrazione ed è più adatta per l'identificazione di fase di routine in laboratorio. Inoltre, nella modalità di trasmissione, il campione di polvere può essere in tracce, il che è adatto per l'acquisizione di dati nei casi in cui la dimensione del campione è relativamente piccola e non soddisfa i requisiti del metodo di diffrazione per la preparazione del campione.

Il diffrattometro della serie TD incarna l'essenza della ricerca e dello sviluppo condotti da Tongda Technology nel corso degli anni, evolvendosi di pari passo con le esigenze del momento. Il diffrattometro a raggi X è utilizzato principalmente per analisi qualitative e quantitative di fase, analisi della struttura cristallina, analisi della struttura dei materiali, analisi dell'orientamento dei cristalli, determinazione dello stress macroscopico o microscopico, determinazione della dimensione dei grani, determinazione della cristallinità, ecc. di campioni di polvere, blocchi o pellicole. Il diffrattometro a raggi X TD-3500 prodotto da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adotta il controllo PLC Siemens importato, che rende il diffrattometro a raggi X TD-3500 dotato delle caratteristiche di elevata accuratezza, elevata precisione, buona stabilità, lunga durata, facile aggiornamento, facile funzionamento e intelligenza e può adattarsi in modo flessibile all'analisi dei test e alla ricerca in vari settori! Strumento di misura dell'angolo con struttura ad albero cavo

Un diffrattometro a cristallo singolo a raggi X ad alta precisione progettato specificamente per la ricerca scientifica sui materiali, l'analisi della struttura cristallina e il controllo di qualità industriale. Utilizza l'effetto di diffrazione generato dall'interazione tra raggi X e cristalli singoli per fornire agli utenti informazioni dettagliate sulla struttura cristallina misurando accuratamente angoli e intensità di diffrazione, rivelando così la microstruttura e le proprietà dei materiali.

Tubi a raggi X progettati specificamente per strumenti analitici: 1. Esistono vari tipi di materiali target: è possibile selezionare diversi materiali target in base alle diverse esigenze di analisi, come tungsteno, rame, cobalto, ferro, cromo, molibdeno, titanio, ecc. Questi materiali target possono generare raggi X con caratteristiche diverse per adattarsi all'analisi di varie sostanze. 2. Tipi di messa a fuoco avanzata: ci sono diversi tipi di messa a fuoco tra cui scegliere, come la messa a fuoco fine, che può soddisfare i requisiti di prova di diverse risoluzioni e accuratezze. Ad esempio, punti focali fini di 0,2 × 12 mm ², 1 × 10 mm ² o 0,4 × 14 mm ² possono aiutare a migliorare l'accuratezza e la precisione dell'analisi. 3. Elevata potenza di uscita: un'elevata potenza di uscita può garantire che il tubo a raggi X abbia energia sufficiente per eccitare il campione durante il funzionamento, ottenendo così risultati di analisi chiari. La potenza di uscita di alcuni tubi a raggi X specializzati può raggiungere 2,4 kW o 2,7 kW. 4. Materiali strutturali speciali: vengono utilizzati tubi in ceramica ondulata, tubi in metalloceramica, tubi in vetro e altri materiali, che hanno una buona resistenza alle alte temperature, alla corrosione e alle radiazioni, garantendo un funzionamento stabile dei tubi a raggi X in ambienti di lavoro complessi. Allo stesso tempo, questi materiali aiutano anche a migliorare le prestazioni di dissipazione del calore dei tubi a raggi X e a prolungarne la durata. 5. Servizi personalizzati: i clienti possono personalizzare in base alle loro esigenze specifiche, tra cui la progettazione, la configurazione e i materiali dell'anodo del tubo di radiazione, per soddisfare requisiti di analisi specifici. 6. Elevata affidabilità: i tubi a raggi X utilizzati da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. garantiscono una fornitura affidabile di tubi a raggi X, assicurando la fornitura continua di tubi a raggi X di alta qualità durante la vita utile dello strumento e riducendo i tempi di fermo dello strumento causati da guasti ai tubi. 7. Ampiamente applicabile: adatto a vari modelli di XRD (diffrattometro a raggi X), XRF (spettrometro a fluorescenza a raggi X), analizzatore di cristalli, analizzatore di orientamento e altri strumenti analitici in patria e all'estero, nonché a settori industriali quali prove non distruttive, ispezione, misurazione, ecc. In sintesi, i tubi a raggi X specificamente progettati per strumenti analitici hanno le caratteristiche di materiali target diversi, punti focali ricchi, elevata potenza, materiali strutturali speciali, personalizzabilità, elevata affidabilità e ampie applicazioni. Queste caratteristiche consentono loro di soddisfare le esigenze di analisi di varie sostanze complesse e sono ampiamente utilizzati nella ricerca scientifica, nell'industria e in altri campi.

Un monocromatore è un componente installato di fronte a un rilevatore di raggi X, che monocromatizza i raggi X che passano attraverso una fessura di ricezione e rileva solo i raggi X caratteristici K α nello spettro dei raggi X. Utilizzando questo dispositivo, i raggi X continui, i raggi X caratteristici K β e i raggi X fluorescenti possono essere completamente eliminati, consentendo un'analisi di diffrazione dei raggi X con un elevato rapporto segnale/rumore. Quando i tubi a raggi X con bersaglio in rame vengono utilizzati insieme ai corrispondenti monocromatori, i raggi X fluorescenti generati da campioni a base di Mn, Fe, Co, Ni possono essere eliminati, rendendoli adatti all'analisi di vari campioni. L'uso del monocromatore a cristallo piegato in grafite può migliorare il rapporto picco/sfondo, ridurre lo sfondo, migliorare la risoluzione dei picchi deboli, ottenere un'efficienza di riflessione di n ≥ 35% e ridurre l'angolo di diffrazione del diffrattometro. Grado di incorporamento ≤ 0,55; La superficie del cristallo può inclinarsi di ± 2 gradi.

Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. I principali vantaggi di XAFS: Prodotto di flusso luminoso più elevato: Flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV, con efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottieni una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone Ottima stabilità: La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica durante la raccolta ripetuta è inferiore a 50 meV Limite di rilevamento dell'1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

L'accessorio batteria in situ è ​​un componente degli accessori del diffrattometro a raggi X. Gli accessori batteria in situ sono ampiamente utilizzati nei sistemi elettrochimici contenenti materiali compositi quali carbonio, ossigeno, azoto, zolfo e inserti metallici. Intervallo di prova: 0,5-160 gradi Celsius Resistenza alla temperatura: 400 ℃ Dimensioni della finestra in berillio (pellicola in poliestere): diametro 15 mm (personalizzabile); Spessore 0,1 mm (personalizzabile) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. è un produttore professionale di diffrattometri a raggi X, grossista di analizzatori direzionali a raggi X, grossista di analizzatori a cristalli a raggi X della serie X.