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La spettroscopia di assorbimento di raggi X ad alta risoluzione è una tecnica all'avanguardia per l'analisi su scala atomica degli stati elettronici e chimici dei materiali. La sfida principale è raggiungere<1 eV energy resolution with high signal-to-noise. We overcome this by combining high-harmonic rejection mirrors with channel-cut monochromators for optimal brightness and resolution, integrating ultra-low-noise silicon drift detectors with real-time calibration for stability, and offering modular in-situ chambers for fast, efficient measurements under realistic conditions. Our spectrometers enable groundbreaking research in catalysis, quantum materials, and biochemistry.

XAS, una tecnica avanzata basata sulla luce di sincrotrone, analizza l'assorbimento dei raggi X per rivelare stati elettronici locali e strutture geometriche su scala atomica (tramite XANES ed EXAFS) in modo non distruttivo, ampiamente utilizzata nella ricerca sui materiali e sull'energia.

Spettrometro Dandong Tongda XAFS: uno strumento di analisi della struttura dei materiali per il laboratorio Analisi precisa della struttura dei materiali atomici senza dipendere dalle sorgenti di radiazione di sincrotrone. La spettroscopia XAFS (X-ray Absorption Fine Structure) è una tecnica importante per studiare le strutture atomiche ed elettroniche locali dei materiali, con ampie applicazioni nella catalisi, nella ricerca energetica e nella scienza dei materiali. La metodologia XAFS convenzionale si basa principalmente su sorgenti di radiazione di sincrotrone, il che presenta sfide quali la limitata disponibilità del fascio, procedure applicative complesse e la necessità di trasportare i campioni in strutture scientifiche di grandi dimensioni per l'analisi. La tecnologia X-ray Absorption Fine Structure sviluppata da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. mira a integrare questa sofisticata capacità analitica in ambienti di laboratorio standard. Vantaggi principali e valore pratico La progettazione di questo strumento affronta diverse sfide critiche che i ricercatori incontrano: Alternativa di laboratorio alla radiazione di sincrotrone: elimina la tradizionale dipendenza dalle sorgenti di radiazione di sincrotrone, consentendo ai ricercatori di condurre test XAFS di routine in modo efficiente all'interno dei propri laboratori, migliorando così significativamente la produttività della ricerca. Capacità di test in situ: supporta l'integrazione di varie camere di campionamento in situ (ad esempio, elettrochimiche, a temperatura variabile), consentendo il monitoraggio in tempo reale dei cambiamenti dinamici nella struttura atomica locale del materiale in condizioni operative simulate (come reazioni catalitiche o processi di carica/scarica della batteria), fornendo preziose informazioni sui meccanismi di reazione. Funzionamento automatizzato per una maggiore efficienza: una torretta portacampioni a 18 posizioni consente il cambio automatico dei campioni, facilitando la misurazione automatica continua di più campioni e il funzionamento senza operatore, semplificando così lo screening di campioni in batch e gli esperimenti in situ prolungati. Ampio ambito di applicazione Lo spettrometro TD-XAFS trova applicazione in numerosi campi che richiedono indagini dettagliate sulle strutture locali dei materiali: Nuovi materiali energetici: analisi delle variazioni dello stato di valenza e della stabilità strutturale nei materiali degli elettrodi delle batterie agli ioni di litio durante i processi di carica/scarica; indagine degli ambienti di coordinazione nei siti attivi catalitici nelle celle a combustibile. Scienza della catalisi: particolarmente adatta per studiare strutture di coordinazione precise di nanocatalizzatori e catalizzatori monoatomici, caratteristiche del sito attivo e le loro interazioni con i materiali di supporto, anche a bassi carichi metallici (<1%). Scienza dei materiali: studio di strutture disordinate, materiali amorfi, effetti superficie/interfaccia e processi di transizione di fase dinamica. Scienze ambientali: analisi degli stati di valenza e delle strutture di coordinazione degli elementi metallici pesanti in campioni ambientali (ad esempio, suolo, acqua), fondamentali per valutare la tossicità e la mobilità. Macromolecole biologiche: studio delle strutture elettroniche e delle configurazioni geometriche dei centri attivi metallici nelle metalloproteine ​​e negli enzimi. Riepilogo Lo spettrometro TD-XAFS di Dandong Tongda rappresenta una piattaforma di test da banco ad alte prestazioni, progettata per università, istituti di ricerca e centri di ricerca e sviluppo aziendali. Integra con successo le capacità di un sincrotrone nei laboratori convenzionali, riducendo sostanzialmente la barriera di accessibilità alla tecnologia XAFS. Lo strumento fornisce ai ricercatori strumenti pratici, efficienti e flessibili per l'analisi microscopica della struttura dei materiali, rappresentando una soluzione pratica per gli scienziati che esplorano il mondo microscopico della materia.

Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. Il principio dello spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS): Assorbimento di raggi X a struttura fine Lo spettro si riferisce agli spettri ad alta risoluzione vicino ai bordi caratteristici degli elettroni del nucleo atomico che assorbono i raggi X. Quando l'energia dei raggi X è la stessa dell'energia di eccitazione degli elettroni del guscio interno dell'elemento misurato, saranno fortemente assorbiti, con conseguente limite di assorbimento (o bordo di assorbimento). Vicino al bordo di assorbimento, a causa di molteplici scattering e altri motivi, il coefficiente di assorbimento dei raggi X mostrerà fenomeni oscillatori, vale a dire struttura fine. 2. Principali vantaggi dello spettro di assorbimento dei raggi X a struttura fine (XAFS): (1) Il prodotto di flusso luminoso più elevato, con un flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV e un'efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottenere una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone (2) Eccellente stabilità, la stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica ripetuta è inferiore a 50 meV (3) Il limite di rilevamento dell'1%, l'elevato flusso luminoso, l'eccellente ottimizzazione del percorso ottico e l'eccellente stabilità della sorgente luminosa garantiscono che i dati EXAFS di alta qualità possano essere ottenuti anche quando il contenuto di elementi misurati è >1%. 3. Campi di applicazione di XAFS: Catalisi industriale, materiali per l'accumulo di energia, nanomateriali, tossicologia ambientale, analisi qualitativa, analisi degli elementi pesanti, ecc. 4. Caratteristiche principali di XAFS: (1) Ordinamento a corto raggio: EXAFS dipende dalle interazioni a corto raggio e non si basa sull'ordinamento a lungo raggio. XAFS può essere utilizzato per studiare la struttura di sistemi disordinati come centri attivi amorfi, liquidi, fusi e catalizzatori. (2) Specificità dell'elemento: il metodo della fluorescenza può essere utilizzato per misurare campioni di elementi con concentrazioni basse fino a un milionesimo. Regolando l'energia dei raggi X incidenti, è possibile studiare le strutture vicine di atomi di diversi elementi nello stesso composto. (3) Caratteristiche di polarizzazione: i raggi X polarizzati possono essere utilizzati per misurare gli angoli dei legami atomici e le strutture superficiali nei campioni orientati. Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X, con i suoi principi unici, le sue caratteristiche significative e i suoi ampi campi di applicazione, è diventato uno strumento indispensabile e importante in molteplici campi quali la scienza dei materiali, la chimica catalitica e la ricerca energetica, fornendo un valido supporto per l'esplorazione approfondita delle microstrutture dei materiali e degli stati elettronici.

Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X (XAFS) è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia.

Lo spettro di struttura fine di assorbimento dei raggi X (XAFS) è uno strumento analitico utilizzato per studiare la struttura e le proprietà delle sostanze. XAFS ottiene informazioni su atomi e molecole in un campione misurando l'assorbimento dei raggi X del campione entro un intervallo di energia specifico. XAFS è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali. La tecnologia XAFS è ampiamente utilizzata nella scienza dei materiali, nella chimica, nella biologia e in altri campi, in particolare in aree di ricerca come catalisi, batterie, sensori, ecc. XAFS ha un importante valore applicativo. Attraverso la tecnologia XAFS, i ricercatori possono acquisire una comprensione più approfondita della microstruttura e delle proprietà dei campioni, fornendo un potente supporto per la progettazione e l'ottimizzazione di nuovi materiali.

Lo spettrometro a struttura fine ad assorbimento di raggi X è un potente strumento per studiare la struttura atomica o elettronica locale dei materiali, ampiamente utilizzato in campi popolari come la catalisi, l'energia e la nanotecnologia. I principali vantaggi di XAFS: Prodotto di flusso luminoso più elevato: Flusso di fotoni superiore a 1.000.000 di fotoni/secondo/eV, con efficienza spettrale diverse volte superiore rispetto ad altri prodotti; Ottieni una qualità dei dati equivalente alla radiazione di sincrotrone Ottima stabilità: La stabilità dell'intensità della luce monocromatica della sorgente luminosa è migliore dello 0,1% e la deriva energetica durante la raccolta ripetuta è inferiore a 50 meV Limite di rilevamento dell'1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。