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Nel campo della ricerca sulla scienza dei materiali, la misurazione precisa è la chiave per svelare le proprietà dei materiali. L'accessorio di misura integrato multifunzionale sviluppato da Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. è uno strumento ad alta precisione progettato per migliorare le capacità di analisi della diffrazione dei raggi X. Questo accessorio di misura integrato multifunzionale è specificamente progettato per l'installazione su goniometri grandangolari. La sua missione principale è analizzare con precisione materiali in lastre, materiali sfusi e film sottili depositati su substrati. L'accessorio può eseguire diverse attività di misurazione, tra cui il rilevamento della fase cristallina, l'analisi del grado di orientamento e i test di stress. Supporta l'analisi della texture, la determinazione dello stress residuo e i test della struttura nel piano di film sottili, fornendo un supporto completo per la ricerca sui materiali. Le caratteristiche tecniche principali di questo accessorio si riflettono nel suo sistema meccanico di precisione coordinato multiasse e nei metodi di misurazione altamente adattabili. L'accessorio di misura integrato multifunzionale supporta le misurazioni della figura polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione, offrendo flessibilità per diversi campioni e requisiti di prova. Per le prove di stress, può utilizzare sia il metodo dell'inclinazione laterale che quello dell'inclinazione normale. Per i campioni di film sottili, l'accessorio consente anche prove di rotazione nel piano, consentendo un'analisi approfondita delle strutture dei film. Il suo sistema meccanico di precisione garantisce un'elevata accuratezza e ripetibilità delle misurazioni, con incrementi minimi di 0,001° (per gli assi di rotazione) e 0,001 mm (per gli assi di traslazione). L'ambito di applicazione dell'accessorio di misurazione integrato multifunzionale è estremamente ampio e copre quasi tutti i settori della produzione avanzata e della ricerca e sviluppo che richiedono l'analisi della struttura dei materiali. Nel campo dei materiali metallici, viene utilizzato per valutare l'organizzazione collettiva dei metalli, come le lastre laminate; nella ceramica, si concentra sulla valutazione dell'orientamento della ceramica. Per i materiali a film sottile, l'accessorio può analizzare l'orientamento cristallino preferito dei campioni di film e testare lo stress residuo dei film multistrato (valutando proprietà come la desquamazione del film). Può anche analizzare film di ossidazione e nitrurazione superficiale su film di materiali superconduttori ad alta temperatura e piastre metalliche, nonché film multistrato su substrati di vetro, silicio e metallo. In particolare, può essere applicato anche all'analisi di materiali macromolecolari, carta, materiali per la placcatura delle lenti e altro ancora, dimostrando il suo potenziale di applicazione interdisciplinare. Accessorio di misurazione

L'accessorio di misurazione ottica parallela di Dandong Tongda è un componente specializzato per diffrattometri a raggi X, che migliora significativamente le prestazioni di analisi dei campioni a film sottile. Il suo design a reticolo allungato sopprime efficacemente le interferenze di diffusione, migliorando la chiarezza del segnale per film ultrasottili e nanomultistrato. L'accessorio supporta l'analisi di diffrazione a piccolo angolo (0°–5°), consentendo una misurazione precisa dello spessore del film e delle strutture di interfaccia. Compatibile con i diffrattometri TD-3500, TD-5000, TD-3700 e TDM-20, garantisce prestazioni costanti su tutte le piattaforme. Ampiamente utilizzato nell'ispezione dei semiconduttori, nella valutazione dei rivestimenti ottici e nella ricerca sui nuovi materiali energetici, questo strumento affronta sfide come segnali deboli e rumore di fondo. Con l'avanzare dell'industria dei nanomateriali e dei semiconduttori, questo accessorio è destinato a svolgere un ruolo sempre più cruciale nella ricerca all'avanguardia e nel controllo qualità.

L'accessorio di misurazione ottica parallela della pellicola aumenta la lunghezza della piastra reticolare per filtrare più linee sparse, il che è utile per ridurre l'influenza del segnale del substrato sui risultati e migliorare l'intensità del segnale della pellicola.

L'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è uno strumento specializzato per l'analisi della diffrazione dei raggi X, che filtra più linee sparse aumentando la lunghezza della piastra reticolare, riducendo così l'influenza del segnale del substrato sui risultati e migliorando l'intensità del segnale della pellicola sottile. Nel campo della scienza dei materiali, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è comunemente utilizzato per studiare la struttura cristallina, il comportamento della transizione di fase e lo stato di stress dei materiali della pellicola sottile. Con lo sviluppo della nanotecnologia, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela è stato ampiamente utilizzato anche nei test di spessore e nell'analisi della diffrazione a piccolo angolo di pellicole multistrato nano. La progettazione e la produzione dell'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela perseguono un'elevata precisione per soddisfare i requisiti della ricerca scientifica e della produzione industriale per l'accuratezza dei dati. Durante l'uso, l'accessorio di misurazione della pellicola ottica parallela deve mantenere un elevato grado di stabilità per garantire l'affidabilità dei risultati dei test. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, la domanda di strumenti analitici ad alta precisione e alta stabilità è in costante aumento. Anche gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela, in quanto componente importante, stanno vivendo una crescita sostenuta della domanda di mercato. Per soddisfare la domanda di mercato e migliorare le prestazioni del prodotto, la tecnologia degli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela è in continua innovazione e miglioramento. Ad esempio, il miglioramento del materiale e del design delle piastre reticolari, l'ottimizzazione del sistema ottico e altri mezzi possono migliorare l'effetto di filtraggio e la capacità di potenziamento del segnale. In sintesi, gli accessori di misurazione della pellicola ottica parallela svolgono un ruolo cruciale nell'analisi della diffrazione dei raggi X. Con l'avanzamento della tecnologia e lo sviluppo dell'industria, le sue prospettive di applicazione diventeranno ancora più ampie.

Il goniometro è il cuore del diffrattometro a raggi X e il diffrattometro a raggi X della serie TD ha una precisione di misurazione estremamente elevata