Nel campo della ricerca sulla scienza dei materiali, la misurazione precisa è la chiave per svelare le proprietà dei materiali. L'accessorio di misura integrato multifunzionale sviluppato da Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. è uno strumento ad alta precisione progettato per migliorare le capacità di analisi della diffrazione dei raggi X.
Questoaccessorio di misura integrato multifunzionaleè specificamente progettato per l'installazione su goniometri grandangolari. La sua missione principale è analizzare accuratamente materiali in lastre, materiali sfusi e film sottili depositati su substrati.
L'accessorio può eseguire diverse attività di misurazione, tra cui il rilevamento della fase cristallina, l'analisi del grado di orientamento e i test di stress. Supporta l'analisi della texture, la determinazione dello stress residuo e i test della struttura nel piano di film sottili, fornendo un supporto completo per la ricerca sui materiali.
Le caratteristiche tecniche principali di questo accessorio si riflettono nel suo sistema meccanico di precisione coordinato multiasse e nei metodi di misurazione altamente adattabili.
L'accessorio di misura integrato multifunzionale supporta le misurazioni della figura polare utilizzando metodi di trasmissione o riflessione, offrendo flessibilità per diversi campioni e requisiti di prova.
Per le prove di stress, può utilizzare sia il metodo dell'inclinazione laterale che quello dell'inclinazione normale. Per i campioni di film sottili, l'accessorio consente anche prove di rotazione nel piano, consentendo un'analisi approfondita delle strutture dei film.
Il suo sistema meccanico di precisione garantisce un'elevata accuratezza e ripetibilità delle misurazioni, con incrementi minimi di 0,001° (per gli assi di rotazione) e 0,001 mm (per gli assi di traslazione).
L'ambito di applicazione dell'accessorio di misurazione integrato multifunzionale è estremamente ampio e copre quasi tutti i settori della produzione avanzata e della ricerca e sviluppo che richiedono l'analisi della struttura dei materiali.
Nel campo dei materiali metallici, viene utilizzato per valutare l'organizzazione collettiva dei metalli, come le lastre laminate; nella ceramica, si concentra sulla valutazione dell'orientamento della ceramica.
Per i materiali a film sottile, l'accessorio può analizzare l'orientamento cristallino preferito dei campioni di film e testare lo stress residuo dei film multistrato (valutando proprietà come la desquamazione del film).
Può anche analizzare film di ossidazione e nitrurazione superficiale su film di materiali superconduttori ad alta temperatura e piastre metalliche, nonché film multistrato su substrati di vetro, silicio e metallo.
In particolare, può essere applicato anche all'analisi di materiali macromolecolari, carta, materiali per la placcatura delle lenti e altro ancora, dimostrando il suo potenziale di applicazione interdisciplinare.
