Il diffrattometro a raggi X è un tipo di strumento che analizza la struttura cristallina, la composizione di fase e l'orientamento dei cristalli di una sostanza mediante l'interazione dei raggi X con la materia.

Le proprietà dei materiali sono spesso determinate dalla loro composizione di fase e l'XRD è ampiamente utilizzato come uno dei principali mezzi di analisi di fase.

Il grado di grafitizzazione si riferisce a quanto la struttura cristallina del materiale di grafite assomiglia alla grafite perfetta dopo aver riorganizzato la struttura del carbonio amorfo.

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Un diffrattometro di stress a raggi X è uno strumento ampiamente utilizzato nel campo della scienza e dell'ingegneria dei materiali per misurare la distribuzione interna dello stress dei materiali.

Un gruppo di ricerca dell'Istituto di scienze fisiche Hefei presso l'Accademia cinese delle scienze ha recentemente condotto uno studio proponendo un nuovo metodo per migliorare il rilevamento dei raggi X incorporando cristalli peritettici CsPb2Br5 fuori fase in materiali a blocchi CsPbBr3.

La diffrazione dei raggi X è una tecnica di base per lo studio della struttura solida, che può fornire informazioni spettrali uniche per la composizione chimica e la disposizione strutturale dei campioni.

XRD è il sistema diffrattometro a raggi X più avanzato oggi al mondo, con un design preciso e funzioni complete e può adattarsi in modo flessibile a varie determinazioni di microstrutture come la polvere.

Fondata nel 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. è un'impresa high-tech nazionale con strumenti di analisi a raggi X e strumenti di test non distruttivi a raggi X come prodotti principali