Essendo uno dei mezzi importanti per la caratterizzazione della struttura del materiale,XRDè ampiamente utilizzato nei materiali, nella fisica, nella chimica, nella medicina e in altri campi. Per ottenere risultati di analisi accurati o esplorare informazioni più strutturali, la qualità dei dati di diffrazione dei raggi X è il fondamento, ma anche una parte fondamentale dell'analisi dei modelli XRD. 

                                               Fig. 1. Composizione diXRDmodello

Componenti del modello di diffrazione dei raggi X e parametri fisici corrispondenti:

1. Posizione di picco: (1) Accurata. (2)Gruppo spaziale. (3)Parametri della cella.

2. Intensità di picco: (1) Elevata resistenza. (2)Struttura di cristallo.(3) Analisi quantitativa.

3. Forma del picco: (1) FWHM è piccolo e la forma del picco è simmetrica (Fig 2). (2) Ampliamento dello strumento. (3) Microstruttura del campione.

4. Parte posteriore e inferiore: (1) Parte inferiore e inferiore della parte posteriore, angolo basso delicato, rapporto picco-retro elevato, rapporto segnale-rumore elevato. (2)Limite di rilevamento del picco debole (Fig3). (3) Picco diffuso amorfo,"cristallinità".

                                   Fig2 Modelli XRD con diverse risoluzioni

                      Fig3 Il rapporto picco-back e il rapporto segnale-rumore hanno picchi deboli

Diffrazione di raggi Xqualità dei dati ed efficienza dei test

1.L'acquisizione di dati di alta qualità è spesso inversamente proporzionale all'efficienza del test e richiede molto tempo. Debug accurato dello strumento, selezione hardware ragionevole e tempi di test lunghi.

2.Non tutte le applicazioni richiedono una qualità dei dati molto elevata. L'hardware e le condizioni di misurazione appropriati dovrebbero essere selezionati in base alle diverse esigenze applicative per ottenere una qualità dei dati corrispondente e migliorare l'efficienza del test.