Diffrattometro a raggi Xviene utilizzato principalmente per la caratterizzazione di fase, l'analisi quantitativa, l'analisi della struttura cristallina, l'analisi della struttura del materiale, l'analisi dell'orientamento dei cristalli di campioni di polvere, blocchi o film sottile. Misurazione dello stress macroscopico o microscopico, misurazione della dimensione dei grani, misurazione della cristallinità, ecc.

Vantaggi del diffrattometro a raggi X serie TD:

1.Con diritti di proprietà intellettuale indipendenti e brevetti nazionali di invenzione del programmabile

controllore logico (PLC) controllo| tecnologia;

2.Funzionamento semplice, sistema di acquisizione con un solo pulsante;

3. Design modulare, accessori dello strumento plug and play, nessuna calibrazione richiesta;

4.Il touch screen viene utilizzato per il monitoraggio online in tempo reale per visualizzare lo stato dello strumento;

5. Dispositivo di interblocco elettronico della porta con doppia protezione per garantire la sicurezza dell'utente;

6. Alta frequenza e alta tensioneraggi Xgeneratore, prestazione stabile e affidabile;

7.Unità di controllo della registrazione avanzata, forte capacità anti-interferenza

                      TD-3500XRD TD-3700XRD

                            TDM-20 XRD TDM-10 XRD