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Il generatore di raggi X è composto da un tubo a raggi X, un generatore di alta tensione, un circuito di stabilizzazione della pressione e del flusso del tubo e un circuito di protezione.
Il diffrattometro a raggi singoli Dandong Tongda TD-5000X ha vinto il premio "ACCSI2023 Instrument and Detection 3i Award --2022 Annual Scientific Instrument Industry Outstanding New Product Award".
È un produttore professionale di strumenti per l'analisi a raggi X e strumenti per controlli non distruttivi e ha ottenuto numerose certificazioni come imprese high-tech nazionali, imprese di certificazione del sistema di qualità ISO e dispone di un brevetto di invenzione e di un brevetto per modello di utilità.
Il diffrattometro a raggi X (XRD) prevede l'uso del principio di diffrazione, un'analisi di fase accurata, un'analisi qualitativa e così via. Oggi presenteremo alcuni accessori che possono essere equipaggiati con gli strumenti XRD.
Utilizzando il principio della diffrazione dei raggi X, l'angolo di taglio dei singoli cristalli naturali e artificiali viene determinato in modo accurato e rapido e la macchina da taglio è attrezzata per il taglio direzionale di detti cristalli.
Il sistema a raggi X WBK-01 produce raggi X ad alta energia per irradiare cellule o piccoli animali. Per una varietà di ricerca di base e ricerca applicata.
Il Mid-Autumn Festival, la celebrazione del festival! Dandong Tongda Technology Co., Ltd. affinché tutti i dipendenti emettano i benefici del Festival di Metà Autunno!
Nell'agosto 2023, sotto la guida dell'azienda, la grande famiglia di Dandong Tongda Technology Co., Ltd. nella provincia di Liaoning ha organizzato una cena all'aperto alla vigilia della fine del mese.
La precedente introduzione dettagliata e completa del servizio pre-vendita, vendita e post-vendita dell'azienda, oggi introdotta è il contenuto relativo alla formazione sui prodotti della nostra azienda.
L'analizzatore di cristalli a raggi X è una sorta di grande strumento analitico per lo studio della microstruttura interna delle sostanze, utilizzato principalmente nell'orientamento del singolo cristallo, nel rilevamento dei difetti, nella determinazione dello stress residuo, nella dislocazione del singolo cristallo e così via.